怎样真正消除液晶显示屏的闪烁

我们在比较阴极射线管（CRT）和液晶（LCD）显示屏时，除了非常关心辐射指标以外，其次关注的便是屏幕的闪烁问题。目前普遍认为CRT显示屏是有闪烁现象的，而LCD液晶显示屏不存在闪烁问题。然而实际上，无论CRT还是液晶显示屏其实都存在一定量的闪烁。因此我们必须用不同的校正方式来有效地消除这类闪烁。本文将着重解释液晶屏闪烁的成因并在接下来的讨论中提出消除闪烁的具体方法。     

分析低功耗液晶显示屏的设计技术

液晶显示屏是一种应用广泛的重要电子产品,在电子行业中应用非常广泛,而随着现代社会发展以及技术发展,尤其是便携式产品对续航的要求,电子生产对于液晶显示屏又有了极致功耗的技术要求.本文笔者针对低功耗液晶显示屏设计进行了分析研究,文章中简要阐述了低功耗液晶显示屏的发展现状,并提出了低功耗液晶显示屏设计技术的技术要点.     

基于液晶显示屏的低功耗驱动技术

为进一步降低液晶显示器的逻辑功耗,本文以11.6HD、14HD、14FHD为背景,分别从像素结构、驱动技术、驱动电路设计以及背光驱动技术等方面进行了深入研究。首先,研究了不同像素结构(dual Gate+normal像素结构和dual Gate+Z inversion像素结构)下多种像素驱动方法对功耗的影响。接着,研究了像素负载以及像素驱动信号(包括栅极驱动信号和源极驱动信号)对功耗的影响。最后,对比了不同的背光调光方法对功耗的影响。实验结果表明:像素结构、负载大小、驱动方法均对功耗有较大的影响。以14HD为例,点翻转比列翻转会有38.5%的功耗上升;Data load每上升10%,功耗约有8%的上升;VGH每提高1V,功耗上升1.35mW;采用mix-mode调光方式比传统的PWM调光在不同亮度百分比下功耗约降低2%~15%。因此通过对这些功能模块进行优化设计可以有效地降低液晶显示器逻辑功耗。     

液晶显示屏迈向高清晰、真色彩

国际IT专业制造商不断将液晶显示屏技术推陈出新,逐步迈进分辨率更高、色彩更逼真、视野更宽广、能耗更低微的方向.     

浅谈低功耗液晶显示屏的设计技术

当今信息社会中,随着通信信息化的飞速发展、信息摄取以及信息交换次数的增多,人们越来越频繁地面对各式各样的显示装置,电子技术领域不可避免地面临着便携式信息设备的低成本、低功耗、轻薄等概念课题,市场上越来越趋向于液晶显示屏(LCD)的高清晰度、高分辨率、低功耗等,使得其应用前景非常广阔。本文从各个方面分析,总结现有低功耗设计的优缺点,包含PCBA最佳设计、高效率的驱动IC,面板驱动方式、背光、新接口设计以及面板与后端系统的优化搭配等。最后把现有低功耗技术都应用在一起,实现超低功耗技术,其中包含PCBA选择低静态功耗的元件,高效率的电源驱动;高效率的驱动IC,如正负压模拟电压驱动、半模拟电压驱动;面板走线采用新架构设计:像Z-Inversion或者H-Inversion。     

使用发射信道模型降低液晶显示屏电磁干扰

本文介绍一种发射通道模型来仿真液晶显示屏所产生的电磁干扰噪声。通道模型包含基于IEC61967-2标准(横电磁波传输室的辐射发射)的封装、印刷电路板以及辐射柔性印刷电路板等模型来仿真电磁发射能量。最后,本文所用的仿真平台已经验证带有不同时序控制驱动器的真实37"液晶显示屏,而实验结果显示降低电磁干扰的效果极佳。配合所提出的发射通道模型,我们能够很容易的设计低发射驱动器,避免因电磁干扰问题所导致的成本增加。     

笔记型电脑液晶显示屏性能的模糊综合评价

怎样科学正确地评价一款笔记型电脑液晶显示屏性能的好坏是笔记型电脑制造者和使用者最关注的问题,特别是生产过程产品质量的检测尤为重要。本文根据液晶显示屏评价过程中一些相关性能参数多而评价尺度模糊等特点,提出利用模糊理论对其性能参数进行模糊综合评价。论文从生产实际出发,结合专家经验,构建了液晶显示屏性能的模糊评价模型,并应用构建的评价模型对市场上几款笔记型电脑的液晶显示屏进行了评价实验,通过评价实验证实了该模型具有评价方法的科学、简单、可靠、实用等特点。     

笔记型电脑液晶显示屏性能的模糊综合评价

怎样科学正确地评价一款笔记型电脑液晶显示屏性能的好坏是笔记型电脑制造者和使用者最关注的问题,特别是生产过程产品质量的检测尤为重要.本文根据液晶显示屏评价过程中一些相关性能参数多而评价尺度模糊等特点,提出利用模糊理论对其性能参数进行模糊综合评价.论文从生产实际出发,结合专家经验,构建了液晶显示屏性能的模糊评价模型,并应用构建的评价模型对市场上几款笔记型电脑的液晶显示屏进行了评价实验,通过评价实验证实了该模型具有评价方法的科学、简单、可靠、实用等特点.     

液晶显示屏对触摸屏噪声干扰的研究

触摸屏和液晶显示屏之间的距离越来越近,导致液晶显示屏对触摸屏的干扰也越来越大。在分析和对比液晶显示屏表面噪声的规律的基础上,发现了液晶显示屏之对触摸屏产生噪声干扰的根本原因,即与源极与栅极波形变化有关,并提出了基于驱动电路的改善以降低液晶显示屏的表面噪声的方法。     

液晶显示屏金属端子组装工艺质量分析

对采用金属端子连接（ＣＬＩＰ　ＴＥＲＭＩＮＡＬＳ）的液晶显示屏因存放时间长而出现的产品质量问题进行了失效分析,确定了引起这类问题的主要原因是组装金属端子前液晶显示屏磨边时清洗工艺不当,改进清洗工艺后,产品的质量得到大大的提高。     

空调遥控器的LCD显示对比度不良现象分析

用LCD做空调遥控器显示，由于其外形及尺寸的限制，显示内容的复杂多样，使得布线空间狭小，走线困难，而产品功能要求越来越高，这些都造成此类LCD易出现显示对比度不良的现象，结合设计和生产中的实际情况分析了产生显示对比度不良现象的诸多原因，分别通过降低液晶阈值电压、调速电极走线电阻及寻求与LCD相匹配的驱动IC3个方面加以改进，以期为今后的设计和生产提供参考。     

液晶电视、显示器用光电耦合器测试要求解析

随着GB8898-2011和GB4943.1-2011标准分别于2012年11月1日和12月1日正式实施,音视频设备和信息技术设备的认证和检测发生了巨大的变化.作为电子信息类产品最重要的两个产业,这两类产品在产品设计研发、产品安全性检测等方面的规范和要求渐趋统一,但也保留了一些差异.针对两类产品所使用的初次级隔离带上的光电耦合器在新版标准中的要求进行了分析,详细介绍了两类产品对所使用的光电耦合器的认证检测要求的相同点和不同点,对光电耦合器设计研发的安全性要求给出了明确的方向.     

金属丝焊接板测试针印原因分析及改善

通过对飞针测试时电镀镍金板金属丝焊接IC位置测试针印造成批量报废的原因进行分析,采取多种试验方案寻找问题根源,使问题得到彻底解决。     

液晶电视机新旧国标接触电流测试要求解析

GB8898-2011标准于2012年11月1日正式实施,替代原来的GB8898-2001.在新版国家标准中,针对液晶电视产品的接触电流方面的要求发生了较大变化,加入了基于热带气候条件的要求.对基础标准中接触电流的测试原理、新版国家标准中对该类产品的接触电流测试的要求以及新旧版国家标准对这一要求的差异进行了详细的分析.     

液晶显示器的EMC分析与设计

以某厂家的液晶显示器为例，探讨此类高频电子产品EMC分析和EMI抑制的方法，并提出了改进方案，具体介绍了PCB板上的EMC设计，分析了液晶显示器中易被人们忽视的各种EMI“天线”，并提出了抑制方法，所提EMC设计方法同样适用于其它高频电子产品。     

论煤矿中机械自动化的应用与改进

机械自动化的广泛应用在现代煤矿的发展中具有较大的作用,机械自动化水平标志着我国煤矿的现代化水平,与实现矿井的安全高效高产有着密切的联系,由于煤矿生产作业的环境复杂,在进行井下作业时,使用大量的机械设备,但是我国的机械的自动化水平与国外的先进技术相比,整体水平还比较落后,需要不断进行改进,文中对我国煤矿中机械自动化的具体应用与改进的办法做了简单的论述。     

电子测试技术改进分析

近年来,随着我国电子技术市场越来越大的需求,如何进一步改进电子测试技术,加以对电子测试技术目前尚存在的一些问题进行讨论分析,并提出解决问题的办法,以及对电子测试技术的新展望.     

灰度与亮度拟合对LCD面板Mura改善的影响

选择有限的采样灰度级准确拟合出整个灰度区间的亮度和灰度关系,是影响LCD面板Mura改善效果、实时性和成本的关键因素。通过迭代方法优化采样灰度级,并采用分段伽马拟合方法研究了采样灰度级对Mura改善的影响。针对1 920×1 080的55 inTFT-LCD模组,6个采样灰度级的优化使拟合亮度曲线与实际亮度曲线的相对误差之和在0~255灰度级从5.64降到3.68,4个采样灰度级的优化使相对误差之和从29.27降到8.98。通过对6个和4个优化采样灰度级的实验结果比较和分析,结果表明,4个优化采样灰度级可以在Mura改善效果、实时性及成本三者之间达到较好的平衡。     

基于OSD交互的液晶显示器光学测试系统设计

针对显示器生产测试过程中需要对各种OSD(On Screen Display,OSD)菜单选项进行复杂繁琐的光学测试,而现有测试系统自动化程度和适用性较低的问题,设计了一种基于OSD交互的液晶显示器光学测试系统.首先,设计USB-to-ⅡC通信电路连接PC与显示器数据总线,并建立DDC/CI通信协议,根据工厂测试例需求由系统发送指令控制OSD菜单,模拟人机交互,然后通过USB通信自动采集光学数据、建立闪烁感知模型,从而进行光色分析和闪烁检测,验证显示器的潜在异常.系统可根据OSD控制指令灵活编制测试例,实际测试结果表明,该系统具备较高的自动化程度,有效缓解了生产测试压力.