一种新型运放相位反转保护电路

在高噪声环境下,如何抑制相位反转现象的发生,是双极型和JFET型运放在电力电子、工业控制和汽车电子等领域应用中的一个重要问题.基于运算放大器电路相位反转现象的发生机理,针对现有抑制方法的不足,提出了一种新型的相位反转保护电路.该保护电路结构紧凑,仅需3个双极型器件,且当运放输入信号处于正常共模输入范围时,对运放的性能参数,如差模信号增益、建立时间和静态功耗等,没有不利的影响.理论分析与仿真结果表明,该保护电路不仅避免了运放电路相位反转的发生,而且有效地抑制了伴随相位反转的过流现象.     

一种新型运放相位反转保护电路

在高噪声环境下,如何抑制相位反转现象的发生,是双极型和JFET型运放在电力电子、工业控制和汽车电子等领域应用中的一个重要问题.基于运算放大器电路相位反转现象的发生机理,针对现有抑制方法的不足,提出了一种新型的相位反转保护电路.该保护电路结构紧凑,仅需3个双极型器件,且当运放输入信号处于正常共模输入范围时,对运放的性能参数,如差模信号增益、建立时间和静态功耗等,没有不利的影响.理论分析与仿真结果表明,该保护电路不仅避免了运放电路相位反转的发生,而且有效地抑制了伴随相位反转的过流现象.     

基片集成波导梳状交替相位功分器

利用基片集成波导技术在单层印制电路板上设计了微波功分器,通过调节感性金属柱的位置,实现了相邻端口的输出相位相差180度的特性,实验测试结果与仿真结果吻合良好.     

对称型正负交替一维光子晶体超窄带滤波器

构造了(AB)N1(BA)N2对称型正负折射率交替一维光子晶体,并利用传输矩阵法进行数值模拟,研究了这种正负折射率交替一维光子晶体的能带结构与各参数之间的关系.结果表明:当两种材料的光学厚度相同时,该结构光子晶体比传统的光子晶体的带隙大得多,且在主禁带内有极窄的透射带.并利用此透射带,设计了一种在红外波段1550nm窗口3dB带宽可以做到0.000001nm以下,窗口内透过率接近100%的超窄带滤波器.该结构的光子晶体可以用作超窄带滤波器,有望在光通信超密集波分复用系统中获得广泛应用.     

对称型正负交替-维光子晶体超窄带滤波器

构造了（AB）N1（BA）心对称型正负折射率交替一维光子晶体,并利用传输矩阵法进行数值模拟,研究了这种正负折射率交替-维光子晶体的能带结构与各参数之间的关系。结果表明：当两种材料的光学厚度相同时,该结构光子晶体比传统的光子晶体的带隙大得多,且在主禁带内有极窄的透射带。并利用此透射带,设计了一种在红外波段1550nm窗口3dB带宽可以做到0．000001nm以下,窗口内透过率接近100％的超窄带滤波器。该结构的光子晶体可以用作超窄带滤波器,有望在光通信超密集波分复用系统中获得广泛应用。     

从单幅干涉图中恢复相位的区间反转方法

提出了一种从单幅干涉图中直接恢复相位的区间反转方法。分析余弦函数正负号歧义问题,导出反余弦相位和相位2模之间的关系。由于在反余弦的(,2)区间需要对相位反转,将反转区间的确定问题转换为三段式折线拟合问题。利用遗传算法求解了折线的最小均方拟合,且使用最小二乘法估计了干涉图的载频,从而获得最佳相位估计。最后,分别对一维和二维合成条纹图进行测试,与传统的傅里叶变换方法和条纹分析方法比较,证实了提出方法的有效性和易用性。     

准相位匹配LN倍频波导铁电畴反转光栅的研究

从准相位匹配理论出发,对铁电畴反转区域长度和畴界位置的偏差造成偏离理想准相位匹配的情况进行了理论分析和研究,得出这些偏差直接影响二次谐波输出功率。     

基于表面等离激元波导相位反转的可调Fano共振研究

表面等离激元是金属界面的自由电子俘获入射光波,在界面形成的一种混合激发态。表面等离激元能够突破光的衍射极限,将能量局域在金属-介质界面,基于表面等离激元原理的波导器件可以真正实现亚波长尺寸,被认为是最理想的纳米集成光路的信息载体。而Fano共振的产生,源于原子系统中一个分立的激发态能级与一个连续的激发态能级相互重叠,两个激发态之间出现了量子干涉。文章提出了基于亚波长非线性表面等离激元波导侧双齿双腔MIM(金属—介质—金属)结构。波导及齿状结构提供了一个连续态模式,而双侧腔提供了分离态模式,这两种模式发生干涉,产生了Fano共振现象。通过调节光强的大小对非线性腔进行调节,该系统实现了Fano线性发生了反转及相位反转的全关调制。     

一种用于标准单元版图交替移相掩模相位兼容性规则检查的工具

介绍了一套基于相位冲突图的生成和处理的新方法 ,可以准确、全面地对由传统方法设计的标准单元版图(暗场 )进行检查 .基于此方法的软件工具能够检查标准单元版图 ,找出不符合交替移相掩模设计要求的图形 ,并给出相关的修改建议 .实验结果证实了该工具的有效性     

一种用于标准单元版图交替移相掩模相位兼容性规则检查的工具

介绍了一套基于相位冲突图的生成和处理的新方法,可以准确、全面地对由传统方法设计的标准单元版图(暗场)进行检查.基于此方法的软件工具能够检查标准单元版图,找出不符合交替移相掩模设计要求的图形,并给出相关的修改建议.实验结果证实了该工具的有效性.     

单晶电子衍射的相对强度

本文提出了一种新的表达电子衍射相对强度的经验公式。利用衍射斑点的灰度侧视分布图,详细研究了Ni-Fe-Ga合金中14M调制结构马氏体的选区电子衍射图。结果表明：晶体结构因数的对数值与其相应的衍射斑点灰度积分值差的函数呈线性关系。     

相位恢复技术算法的探究

首先介绍了相位恢复技术中的Gerchberg-Saxton算法和梯度搜索算法。推导了当任意多帧输入图像及它们的离焦量作为输入时,梯度搜索算法的目标函数分别关于广义光瞳、波前以及泽尼克系数的偏导数。揭示了GS算法与梯度搜索算法之间的关系。针对单幅和多幅图像作为输入时分别用GS算法和梯度搜索算法设计了仿真实验,实验结果显示对于单幅图像作为输入时,梯度搜索算法明显优于GS算法。对于多帧不同离焦量的图像作为输入时,GS算法和梯度搜索算法都能很好的解算出波前,但梯度搜索算法的收敛速度明显优于GS算法。     

Al-Cu-Fe合金中ε1相的结构和以B2为基的若干相的电子衍射鉴定

采用扫描电子显微镜观察和透射电子显微分析等方法，研究了Al—Cu—Fe合金中以B2为基的若干合金相的成分和结构。根据ε1(Cu3Al2)的电子衍射的实验照片，提出了ε1(Cu3Al2)相的结构模型。通过对照模拟计算的与实验的选区电子衍射花样，对Al-Cu—Fe合金中的β相、τ3相、ε1相和η2相进行了鉴定，讨论了如何由选区电子衍射花样的特征来区别这些相。     

编码衍射图样的相位检索

经典的迭代相位检索方法具有抗噪性能差、不 能收敛到全局最优解等缺点;而基于相位割(PC)的最优化相位检索技术通过精确的分离振幅 和相位变量, 将相位检索问题转化 为二次约束的凸规划问题,理论上可以保证在相差全局相位因子条件下收敛到全局最优解。 本文提出用更结构 化和更“很少随机的”的三元与八元掩膜编码衍射图样(CDP),求解PC以获得丢失的 相位。模拟实验首先测试 一维复信号,分别比较不同掩膜重构的成功率。其次,比较它们对二维分子图像的重构结果 。实验结果表 明,本文方法可以获得比传统的基于二元掩膜的方法更好的重构结果。将恢复的相位分 布加载到所搭 建的基于Si基液晶(LCOS)的光学重构系统中,产生的CDP证明了所提方法的正确性。     

定量会聚束电子衍射金属间化合物中微量元素硼的偏聚特性的电子结构研究

本文简要介绍了定量会聚束电子衍射方法及其优化算法；采用此方法研究了微量元素硼在金属间化合物NiAl和Co3Ti中导致的电荷密度重新分布及原子键合的变化，据此解释了硼对Ni3Al和Co3Ti的晶界偏聚的特性和力学性能的不同影响。     

定量三维电子显微术及三维电子衍射

用电子晶体学可以确定尺度在微米甚至纳米级晶体的原子结构。它所要求的晶体尺寸比X射线晶体学所需的小百万倍。确定晶体的原子结构既可通过对高分辨电子显微像作图像处理,也可直接用电子衍射数据。同时还可将高分辨电子显微像和电子衍射数据与X射线粉末衍射结合起来确定晶体结构。如果晶体的单胞很大,原子在任何方向上的投影都有重叠,确定晶体的原子结构则需要拍摄一系列不同晶带轴的电子衍射图及高分辨像,再将其综合起来重构晶体的三维静电势图,以得到晶体的原子位置。本文将概括地介绍最近十几年中电子晶体学的一些最新进展及其在无机晶体结构解析方面的一些最新应用实例。     

电子衍射的目前进展

高能电子的量子波可用来探测有机和无机材料的原子结构.电子和物质有很强的相互作用,同时还可以形成很小的束斑.基于上述原因,电子在研究微小晶体、表面和材料的微结构上有很大用途.本文综述了电子衍射的最新进展和应用.     

会聚束电子衍射测定晶体点群的实验流程

本文设计了两套应用会聚柬电子衍射(CBED)测定晶体点群的优化实验流程图。一套为应用CBED测定晶体点群的一般流程图，它适合于对完全未知的晶体进行点群测定，如透射电镜下发现的未知微细包裹体或未知出溶相等；另一套为已知晶系情况下应用CBED测定晶体点群的实验流程图，它适用于已有X射线衍射或选区电子衍射数据的情况。这两套实验流程图非常详尽，流程图各分支的终点都是唯一的点群，具有操作性强的特点。使得测定晶体点群的实验变得更加简便快捷，尤其适合于对天然细分散矿物晶体点群的测定。并给出了两个应用实例，镁铝榴石及硅钛铈铁矿晶体点群的测定。     

确定断裂表面晶体学取向的电子背散射衍射方法

利用扫描电镜中带多自由度的样品台和电子背散射衍射系统（EBSD）研究了断口的晶体学定向方法。对于镍拉伸变形后的沿晶断裂表面，利用EBSD确定了晶粒与样品坐标之间的晶体学取向关系，通过样品台倾转获得断裂面与样品之间的几何对应关系，从而定出样品沿晶断裂面主要的晶体学位向是{100}。     

一种用来精确测定材料价电子分布和界面点阵位移的电子衍射技术

作者开发了一种新的电子衍射技术来测量大单胞复杂晶体的电荷密度.该技术是在透射电子显微镜中把电子束聚焦在样品的上方从而在很多Bragg衍射盘中得到阴影像(简称为PARODI).对于楔型晶体,该技术提供了可同时记录许多衍射的厚度条纹的方法,它确保了所有衍射盘中的厚度变化和入射方向等实验条件是相同的.PARODI技术还被进一步扩展到使用相干光源这一新领域并用来精确测定晶体中缺陷的位移矢量.本文用该技术研究了Bi-2212高温超导体中的层错和扭转晶界并观察到了由面缺陷引起的相干条纹.通过使用相干PARODI技术,测量的Bi-2212中面缺陷的位移矢量的精度达到了1皮米(10-12 m),这是目前在测量缺陷位移方面达到的最高精度,比以前的技术提高了将近一个数量级.