直读光谱仪在铸管生产中的应用

本文介绍了用直读光谱仪快速分析铸管生产中铁水样的方法，该法与经典方法相比较操作简单，分析速度快，可满足生产的需要。     

浅谈关于DV-4(5)直读光谱仪曲线的校准

DV－4（5）是类比型测量仪器，由于使用时各种参数的改变均会影响分析结果，所以曲线校准应是经常性的工作，曲线校准的首要条件是确定参数，面对参数的选用应有依据，最根本的一点是找出有足够灵敏度，而相对偏差又能满足分析准确的要求。根据上述条件所制曲线，中低合金钢的曲线相当可靠，而高合金钢含量超出15％的，由于仪器性能的限制，就不能完全达到允许偏差范围，需采用多点平均及标样同时检查的方法来补救，使高含量元素达到分析要求。     

铸铁的直读光谱分析

本文介绍应用美国BAIRD1000型DV－4直读光谱仪进行铸铁光谱分析的方法，结果表明，在DV－4光谱仪上，完全白口化的铸铁，采用较高的预燃热量，铸铁光谱定量分析结果能够满足化铁工艺需求。     

光电直读光谱仪标定方法的研究

用自行研制的光电直读光谱仪原理样机采集了已知成分的黑色金属的电弧激发光谱,通过理论分析和试验,证明了采用多项式法建立的谱线位置与波长转换关系随标定多项式幂次的增加,其标定误差不断减小。在仪器分辨率顺利实现的条件下,一元三次或四次多项式都是较好的标定多项式选项。     

光电直读光谱仪中文软件的开发应用

在研究光电直读光谱仪英文软件系统的基础上,保留原英文软件所有功能,结合实际应用,开发了在Windows界面下操作的中文软件。该软件功能强大,实用性强,操作简单直观,易于掌握。     

应用PDA-5500直读光谱仪测试冷轧硅钢中的碳

通过对ＰＤＡ－５５００光谱仪软件的开发应用及其分析方法的试验,改变了过去只能由红外碳硫仪分析超低碳的历史,为提高冶炼冷轧钢的分析速度及质量创造了有利条件。     

DV4/5光电直读光谱仪常见故障分析及处理

本文对美国贝尔德公司DV4/5光电直读光谱仪出现的常见故障进行了分析,并详细阐述了它的检修过程.     

大型精密直读光谱仪故障分析与排除

本文从原理的角度对光谱仪故障进行了分析，仔细地进行与故障有关电路的探讨，从多方面对故障进行查找和测量，缩小其范围，找出所损坏元件更换之一，恢复仪器正常工作。     

SPECTRO光电直读光谱仪的取样与使用

直读光谱仪分析快速、准确,操作简单,方便实用,已得到了广泛应用。本文介绍了光电直读光谱仪的取样及操作。     

不锈钢薄板和薄带的直读光谱分析

利用直读光谱仪，优化各种分析参数，快速分析不锈钢薄板或薄带的化学成分，其精密度和准确度较好。     

低合金钢钻屑样品的直读光谱分析

详细介绍了低合金钢"钻屑样品"——直接利用直读光谱仪测试技术,很好的解决钻屑样品中碳、硫、硅、锰、磷、铬、镍、钼、铜、铝、钒、钛等20多个元素的直读光谱分析,分析数据能够满足工厂试验室生产工艺的要求,填补了国内外钢铁材料直读光谱分析测试方法的空白。     

DV4／5光电直读光谱仪常风故障分析及处理

本文对美国贝尔德公司ＤＶ４／５光电直读光谱仪出现的常见故障进行了分析，并详细阐述了它的检修过程。     

JY-32E型直读光谱仪的升级改造

本文介绍了ＪＹ－３２Ｅ型光谱仪的升级改造；除电子系统和微机升级外并改造原来充氮系统为密封氮气纯化循环体系。整机调试后成功用于科研和生产。     

GS1000、QSN750、QSG750型德国OBLF光谱仪简单故障检修

介绍了几例光谱仪故障检修方法。     

QuantBasic软件用于红外光谱定量分析

化学计量学原理引入到红外光谱学后 ,使得红外光谱定量分析有了突破性进展。利用 MB15 4S型FTIR光谱仪专配的 Quant Basic定量软件 ,对红外光谱定量分析中基线取法进行了研究 ,并得出最优方法。通过对己二酸进行定量分析 ,验证了此软件对混合物中单组分定量不仅操作简便 ,快速可行 ,而且简化了训练集的建立和样品前处理     

直读光谱法测定不锈钢中铬的不确定度评定

利用光电直读光谱仪测定不锈钢中铬含量,对其在测量过程中不确定度产生的原因进行了分析,并对测量结果的不确定度进行了评定。     

应用DV－5 2000型直读光谱仪分析钢中的酸溶和酸不溶铝

本文描述了用火花原子发射光谱分析的方法，应用美国Ｂａｉｒｄ公司ＤＶ－５２０００（ＨＲ－４００光源）直读光谱分析钢中的酸溶和酸不溶铝。实验中采取虚拟酸溶铝分析通道、二次积分的方法进行测定。本法快速简便，所得分析值与标准值吻合，结果令人满意。     

AOTF在光谱分析中的应用研究4.FSD用于提高AOTF原子发射光谱仪的光谱分辨率

本文报道了利用傅里叶自去卷积 (FSD)来提高AOTF原子发射光谱仪的光谱分辨率。选择合适的卷积参数 :半峰高宽度和剪截长度 ,可使模拟重叠峰半峰高宽度变窄约 3 5倍 ,峰高增加约 5倍 ,而峰的位置不变。将其应用于处理AOTF ICP AES扫描重叠峰 ,可使La 4 0 7 735nm与La 4 0 8 6 72nm的自身重叠峰以及Ca 393 36 6nm与Al394 4 0 1nm的干扰重叠峰达到基线分离 ;对于Eu Sr系列混合样和Sc Sr系列混合样(Sr浓度不变 ,Eu和Sc的浓度改变 )的扫描图 ,经FSD处理后 ,原来Eu 4 2 0 5nm与Sr 4 2 1 6nm以及Sc4 2 4 7nm与Sr4 2 1 6nm重叠峰均可达到基线分离 ,校准曲线的斜率提高了 2～ 3倍。