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相似文献
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1.
本文对几种不同类型的明胶对DCG全息图的衍射效率的影响进行了研究。发现不同类型的明胶对DCG全息图的衍射效率的影响差异较大。活性胶,最高衍射效率可达80%以上,全息图的透明度很好;改性胶,衍射效率在60~80%之间,全息图上易产生“白雾”;惰性明胶,虽可得到透明清晰的全息图,但最高衍射效率一般不超过50%.  相似文献   

2.
X射线光电子能谱(XPS)技术是一种高灵敏、高分辨的元素定性定量和结构分析技术.本文用该技术研究了照相明胶中S原子与Ag+相互作用的本质.研究结果表明,照相明胶中的蛋氨酸、蛋氨酸亚砜残基均能通过S原子与Ag+作用,而且在所研究的明胶中蛋氨酸亚砜残基的含量远高于蛋氨酸残基的含量,这意味着在与Ag+键合过程中前者占有更重要的地位.此外,本文还比较了不同原料制成的明胶与Ag+的作用情况.  相似文献   

3.
本文采用X射线光电子能谱技术研究了两种照相明胶与化学增感剂相互作用的机理.当两种照相明胶样品在HAuCl4溶液中反应5min后,明胶中的蛋氨酸、蛋氨酸亚砜均被氧化为蛋氨酸砜.与此同时,明胶吸附的大部分Au3+被还原为Au+,并且Au+以络合形态存在于明胶之中.根据与AuCl3反应之后明胶中Au3+与Au+的比例,法国明胶的还原性略高于包头明胶.添加到明胶中的Na2S2O3能将明胶大分子所含的蛋氨酸亚砜全部还原为蛋氨酸.S2O32-、蛋氨酸和蛋氨酸砜可以稳定共存于明胶体系之中,外加的S2O32-的还原性高于明胶中蛋氨酸、蛋氨酸亚砜的还原性.添加Na2S2O3后的两种照相明胶均可以将其溶胀吸附的Au3+全部还原为胶态金.此时,参与氧化还原反应的主要基团是S2O32-而非明胶中的蛋氨酸残基.由于Na2S2O3的添加,照相明胶对AuCl3的还原能力增强.  相似文献   

4.
本文采用X射线光电子能谱技术,研究了国内外典型的两种照相明胶的空白样品、掺杂铁(Ⅲ)的样品中硫元素的存在形态。硫在明胶中主要以三种化学形态存在:蛋氨酸砜中的 基团,蛋氨酸亚砜中的 基团,蛋氨酸中的-S-基团。三种化学形态间的相对含量基本上反应出蛋氨酸及其两种氧化产物之间的相对比例。在我们的实验条件下,外来三价铁,引发部分蛋氨酸砜被还原为蛋氨酸亚砜,与此同时,明胶中的-CH2-基团部分氧化为 基团。  相似文献   

5.
本文研究了铜物理显影后影像中铜和银的分布以及在非影像区明胶对Au3+的还原作用。铜含量随着影像深度的增加而增加,银含量却随着深度的增加而减少。Ag3d结合能向低值位移说明影像内部的银处于单原子和多原子的混合状态,但是影像表面的银却为单原子状态,如果铜物理显影进行得足够长,铜最终会将银全部遮盖。在这以后的铜物理显影是铜的自催化过程,样片浸入氯金酸溶液中后,非影像区中吸收的氯金酸量大大高于影像区,因而铜的沉积速度在非影像区也比影像区大得多。明胶能还原Au3+.还原过程可分为两步:第一步由Au3+还原成Au+,这一步在室温下是快反应;第二步由Au+还原成金,这个反应比较慢,Au+和Au在物理显影中可作为催化核,使铜在非影像区沉积。  相似文献   

6.
单色化X射线对薄膜表面高分子降解行为的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)和苯乙烯-丙烯腈无规共聚物(SAN)薄膜体系, 在不同的实验温度下, 研究了单色化的X射线对其中一个组分(PMMA)降解行为的影响.  相似文献   

7.
通过x射线光电子能谱(XPS)、椭圆偏振原位测试考察了氯化2,3,5-三苯基-2H-四唑(TTC),2,4,6-三(2-吡啶基)-s-三嗪(TPT)分子在1 mol/L HCI中对碳钢表面的缓蚀作用,并从微观上对二者的缓蚀机理进行探讨.XPS测试结果显示,由C,N元素的1s特征峰产生的化学位移及其积分峰面积表明TTC,TPT分子在金属表面产生了有效抑制腐蚀的保护层;由椭圆偏振原位测试并结合动电位极化曲线测试,考察了TTC,TPT分子对金属表面腐蚀反应的抑制程度,并得到了相位差等参量,结果表明二者在金属表面形成了具有缓蚀作用的覆盖层.  相似文献   

8.
过渡金属氧化物(MO)可以显著影响聚磷酸铵(APP)的热分解过程, 进而改善APP复配膨胀阻燃聚合物材料的阻燃效率。将ZnO、Fe2O3、TiO2掺入到APP中, 采用热失重分析(TGA)、X射线光电子能谱(XPS)和X射线衍射分析(XRD), 考察了3种MO对APP热分解行为的影响, 分析了相互作用过程中金属原子和磷原子化学结合状态的变化以及高温热分解产物的物相结构。TGA和XPS图谱分析结果表明, MO可降低APP的起始热分解温度, 并催化APP释放NH3和H2O, 而在热分解后期由于金属磷酸盐的形成可显著增加APP的高温残留量。3种MO催化APP热分解脱NH3和H2O的活性由大到小的顺序是:ZnO>Fe2O3>TiO2, 而对APP凝聚相热分解P-O产物的交联能力从大到小的顺序为:Fe2O3>ZnO>TiO2。XRD结果显示, ZnO在高温下与APP反应生成了Zn(PO3)2晶体, 而Fe2O3和TiO2与APP反应分别生成了Fe4(P2O7)3和TiP2O7晶体。  相似文献   

9.
过渡金属氧化物(MO)可以显著影响聚磷酸铵(APP)的热分解过程,进而改善APP复配膨胀阻燃聚合物材料的阻燃效率。将ZnO、Fe2O3、TiO2掺入到APP中,采用热失重分析(TGA)、X射线光电子能谱(XPS)和X射线衍射分析(XRD),考察了3种MO对APP热分解行为的影响,分析了相互作用过程中金属原子和磷原子化学结合状态的变化以及高温热分解产物的物相结构。TGA和XPS图谱分析结果表明,MO可降低APP的起始热分解温度,并催化APP释放NH3和H2O,而在热分解后期由于金属磷酸盐的形成可显著增加APP的高温残留量。3种MO催化APP热分解脱NH3和H2O的活性由大到小的顺序是:ZnO>Fe2O3>TiO2,而对APP凝聚相热分解P-O产物的交联能力从大到小的顺序为:Fe2O3>ZnO>TiO2。XRD结果显示,ZnO在高温下与APP反应生成了Zn(PO3)2晶体,而Fe2O3和TiO2与APP反应分别生成了Fe4(P2O7)3和TiP2O7晶体。  相似文献   

10.
通过X射线光电子能谱(XPS)、椭圆偏振原位测试考察了氯化2,3,5-三苯基-2H-四唑(TTC), 2,4,6-三(2-吡啶基)-s-三嗪(TPT)分子在1 mol/L HCl中对碳钢表面的缓蚀作用, 并从微观上对二者的缓蚀机理进行探讨. XPS测试结果显示, 由C, N元素的1s特征峰产生的化学位移及其积分峰面积表明TTC, TPT分子在金属表面产生了有效抑制腐蚀的保护层; 由椭圆偏振原位测试并结合动电位极化曲线测试,考察了TTC, TPT分子对金属表面腐蚀反应的抑制程度, 并得到了相位差等参量, 结果表明二者在金属表面形成了具有缓蚀作用的覆盖层.  相似文献   

11.
以绝缘样品聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)为X射线光电子能谱(XPS)分析测试对象,探讨了使用不同的X射线源作为激发源时,磁透镜对荷电中和系统中和效果的影响.试验结果表明,当使用单色化Al Kα为激发源时,磁透镜对荷电中和器的中和效果没有显著影响.而使用非单色化双阳极Mg Kα为激发源,磁透镜开启时才能得到良好的荷电中和效果,磁透镜关闭时所测谱峰会因荷电效应而发生峰形畸变.  相似文献   

12.
采用XPS与接触角法研究氟聚合物表面结构与性能   总被引:6,自引:0,他引:6  
本文采用接触角和变角XPS方法对FA共聚物的表面能、 表面微相结构做了进一步的研究.  相似文献   

13.
稀土富勒烯电子结构的XPS研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
采用X射线光电子能谱(XPS)对富含稀土富勒烯Pr、Gd、Tb、Dy、Er@C2n的吡啶提取液的固态沉积膜进行了研究,检测到明确的稀土元素的XPS谱峰,表明富勒烯笼内嵌入的稀土元素具有特征的XPS谱峰。通过对谱峰的分析,发现稀土富勒烯具有较为稳定的结构。嵌入的Pr、Gd、Tb、Dy、Er等稀土元素与富勒烯球笼间存在电子的迁移。  相似文献   

14.
采用Al靶微聚焦单色器光电子能谱仪进行XPS测试时,如果样品高度选择不好,会导致测得的光电子峰强度降低. 而对于一些电子结合能较高的元素,其光电子峰会变宽,有时出现双峰. 分析了该现象的原因是X射线光斑、电子中和枪中和区域以及光电子能量接收区域没有聚焦于同一点.  相似文献   

15.
利用X射线光电子能谱(XPS)和聚焦离子束(FIB)技术,实现对FeCrAl合金涂层在1200℃水蒸气环境下氧化行为的研究.XPS和FIB法可以检测和观测到材料随深度变化的界面层、化学态和真实结构等信息,具有直观、且信息丰富(含量、化学态及形貌)等优点.为方法在更广泛的材料体系内的应用提供理论和实践基础.  相似文献   

16.
采用X射线光电子能谱(XPS)技术研究了二氧化碳与环氧丙烷共聚反应的稀土三元催化剂,探讨了中心金属的X射线光电子能谱与催化活性间的关系,指出稀土三元催化剂的活性中心在于配位活化后的锌氧键,稀土盐通过与烷氧基锌形成双金属桥键,改变了活性中心的电子云分布,从而提高了反应活性.  相似文献   

17.
用XPS分析固体粉末样品时通常将粉末直接撒在双面胶带上进行测试.这种方法粉末容易脱落,并导致仪器污染或损坏.本文介绍一种将粉末样品铺在胶带上压成薄层进行测试的制样方法.后一种方法不需模具,简单快捷,实验表明它不仅有利于保护仪器,而且有利于提高XPS分析的灵敏度和分辨率.  相似文献   

18.
用 XPS分析了三种纳米钛薄膜表面和经 Ar 溅射后内部碳、氧、氮、钛等的含量和化学态。发现三种薄膜表面碳、氧含量完全一致 ,碳为石墨态 ,氧为吸附态的水。薄膜内部碳、氧、氮的化学态主要为 Ti C、Ti O2 、Ti N。随着分析深度的增加 ,薄膜内金属钛的原子百分比浓度不断增加并逐渐趋于恒定。镀膜时真空度的提高有利于减少碳、氧、氮的污染。Ar 溅射所镀的膜与电子枪所镀的膜相比 ,晶粒尺寸小 ,在表面至浅表层内氧的含量有明显差异。  相似文献   

19.
电子能谱线形分析研究碳物种的化学状态   总被引:3,自引:0,他引:3  
利用XPS的CIs携上峰,X射线激发供歇线形,XPS价带谱以及俄歇电子能谱的CKLL线形研究了几处碳材料的化学状态和电子结构。研究结果表明:XPS的携上效应可以鉴别不同结构的碳材料。XAESR 化学位移和线形也可以有效地研究中不同的碳材料的成像方式。XPS的价带谱电子结构的一种有效方法,对碳材料的研究也很有效。AES的CKLL俄歇线形非常适合金属碳化物的鉴别。  相似文献   

20.
应用溶剂化金属原子浸渍(SMAI)法和普通浸渍(CI)法制备了三种不同摩尔比的γ-Al2O3负载Ni-Ag双金属催化剂。XRD和磁测定结果表明SMAI催化剂中Ni和Ag的粒度均小于金属含量相同的CI催化剂,SMAI催化剂中Ni和Ag未形成合金,而CI催化剂中Ni和Ag形成了合金。SMAI和CI催化剂都具有超顺磁性。XPS测定结果表明SMAI催化剂中零价Ni和Ag的含量均高于CI催化剂。SMAI催化剂Ni在表面含量高于体相,Ni在表面富集,而CI催化剂Ni在表面和体相的含量相同  相似文献   

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