光源变线宽度对测量滤光片光谱分布影响的研究

从理论上分析光源的光谱宽度对滤光片测量结果的影响，给出光源光谱曲线及滤光片透过率曲线为正态分布时测得的滤光片光谱分布曲线。     

基于遗传算法的夜天光光谱匹配方法研究

为了满足微光夜视仪室内性能测试的需求,对晴朗夜空满月光光谱和无月时星光光谱进行模拟.首先,对夜视仪的工作光谱范围进行研究,确定需要拟合的光谱波段.接着,对该波段的夜天光谱进行分析,选取合适的光源.采用简单夜天光谱拟合方法,根据目标光谱和光源光谱,得出所需的滤光片衰减曲线,找出该曲线近似对应的滤光片.提出基于遗传算法的光谱构造方法,根据光谱构造理论,采用现有的47种滤光片进行光谱构造,通过遗传算法求解该光谱构造函数,计算出不同滤光片的最佳匹配模式,并进行模拟.实验结果表明,采用基于遗传算法的光谱构造方法对夜天光谱拟合得到的光谱匹配度更高.     

基于混合光源的星模拟器光谱研究

提出了一种基于氙灯和卤钨灯混合光源的星模拟器光谱模拟方案.采用氙灯和卤钨灯组成宽光谱光源灯阵,并通过色温模拟与控制模块后射入积分球,为星模拟器提供理想光源,模拟出与特定色温3 900K,4 800K,6 500K相近的光谱曲线.通过对标准黑体光谱曲线的仿真,计算出滤光片各个微小波段最优透过率,并对微小波段区间的透过率进行区间合并处理,得到满足设计指标要求的滤光片透过率,实现对特定色温光谱曲线的模拟.仿真结果表明,采用本文方案能够满足微小波段匹配模拟误差在10%以内,用相对面积法验证匹配误差在4%以内,从而为星模拟器模拟特定色温的光谱曲线提供有效的方法.     

基于液晶可调谐滤光片的便携式多光谱成像仪

选用商品化照相机镜头、液晶可调谐滤光片和单色面阵CCD相机,将液晶可调谐滤光片置于由镜头和CCD相机组成的照相光路中构成便携式多光谱成像仪。该多光谱成像仪能够在被动和主动光源下进行多光谱图像数据采集,工作波长范围是400～720 nm,光谱分辨率为10 nm。建立了多光谱成像仪系统多光谱图像采集数值模型,分析了误差源,为系统定标提供了理论依据。在自然光照条件下进行了盆景植物的多光谱图像采集试验,重建出多光谱数据立方体,绘制了典型目标点的光谱曲线。     

一种基于光谱可调LED光源和多光谱成像技术的物体表面颜色测量方法

针对传统多光谱成像颜色测量系统光谱反射率重建算法计算量大、操作繁琐耗时、成本高等缺点,提出一种由LED主动照明光源和黑白高速相机构建的多光谱成像颜色测量系统。采用多个单色LED拟合出相对光谱功率分布与相机光谱灵敏度曲线成倒数关系的照明光源,并利用黑白相机的输出响应直接重建物体的光谱反射率。实验结果表明,与分光光度计测量结果相比,该方法测量Macbeth ColorChecker 24标准色卡的光谱反射率的平均误差在2.3个CIELAB色差左右。该系统具有原理简单可行、不需要滤光片、光谱反射率重建算法简单快速等优点。     

应用高光谱仪探测叶片反射光谱中的荧光

介绍了一种利用光谱仪进行荧光测量的方法。采用LI 1800_12S积分球,耦合ASD地物光谱仪,在光源前面分别加载长波通、短波通截止滤光片,按照不同算法提取叶片表观反射光谱中的荧光。结果表明利用长波通滤光片测得的表观反射率差值光谱可以代表荧光光谱,在红光区和远红光区表现为明显的双峰特征,不同截止波长滤光片提取的荧光强度不同。采用短波通滤光片可直接获得荧光光谱,不同植物种类荧光光谱差异明显。此法对于植物被动荧光遥感探测及叶绿素荧光仪的研制和开发具有一定参考价值。     

0.2 nm带宽滤光片的制备以及退火温度对其形貌和性能的影响

近红外波长为1.064 μm的激光是激光测距、自由空间光通信和空间光学遥感等应用中的主要激光光源之一.窄带滤光片是抑制背景光干扰的关键元件之一,目前大部分滤光片的半峰全宽为几纳米.本文研制了中心波长为(1064±0.05) nm、半峰全宽为0.19 nm、峰值透过率可达70.2％的带通滤光片,并考察了不同温度(100,200,300℃)退火处理后滤光片的表面形貌和光谱特性的变化.实验结果表明:滤光片的表面光滑,受退火温度的影响很小;滤光片的透射光谱随着退火温度的升高向长波方向移动,在100℃退火处理3h的滤光片的光谱漂移量为0.03 nm,说明该滤光片可在温控条件有限的空间光学系统中使用.     

光学薄膜的自动设计

运用负滤光片的组合,对具有复杂光谱曲线的光学薄膜进行自动合成。为了克服个别负滤光片之间的多次反射形成的光谱曲线崎变,在负滤光片中间插入若干匹配层,并用统计试验方法选取膜层参数。最后用阻尼最小二乘法对全部或部分膜层的厚度进行精确化,使设计曲线达到予期结果。作为例子给出彩色电视摄影机的W分光膜,可见区三角形滤光片宽带中性分光膜和宽带反射膜的设计结果。     

液晶显示器广色域技术的研究

针对当前液晶显示器存在色彩表现不佳的缺点, 从原理上研究了影响液晶显示器色域的主要因素。通过实验, 分别验证了彩色滤光片厚度、LED光源光谱以及量子点材料对液晶显示器色域的影响。通过增加液晶面板的彩色滤光片厚度, 将色域增加了8%;通过更改LED光源光谱, 将色域提升到85%NTSC以上;通过采用量子点材料, 实现了100%NTSC以上色域。     

透射光谱法测量滤光片参数的实验研究

利用海洋光纤光谱仪将光信号经分光系统和CCD阵列转换为各个波长范围的电信号,用Spectra Suite软件进行分析处理,获得相应的光谱信号曲线。实验结果表明,不同滤光片的透过率曲线不同,分析了滤光片透过的波长范围及其各自的透过率,通过各个滤光片的测试结果,了解各滤光片的应用领域。     

基于迈克耳孙干涉仪分析微波源谱分布实验

本实验是对近代物理实验中微波光特性实验的迈克耳孙干涉实验内容的拓展,在分析傅里叶变换光谱原理的基础上,利用微波分光仪,基于离散傅里叶变换成功分析了两个已知微波源的谱分布。     

CCD光谱仪的波长定标和滤光片的透过率测定实验

介绍CCD光谱仪定标以及用CCD光谱仪测定滤光片透过率的方法,实验过程中需要了解CCD光栅光谱仪的结构以及最小二乘法拟合的知识。     

自相似时间信息的谱研究

本文以Cantor分维集合为时轴,构想了三种自相似时间信息。理论上以逐代繁衍的眼光看待自相似信息,导出它们的谱结构因子递推公式和谱形状因子递推公式,并给出四组谱图。从谱图的比较和演变,看出结构因子的本底作用和形状因子的调制作用,以及各代之间的竞争现象。此项研究为在另一表象(频域)中进一步认识自相似信息提供一种依据。 关键词：     

用类He离子谱线强度比测量激光产生等离子体电子温度和密度

一、引言在X光激光(XRL)和惯性约束聚变(ICF)研究中,等离子体电子温度和密度是表征等离子体状态的重要参数之一。虽然等离子体辐射各谱线强度与发射源的温度,密度和离子丰度直接相关,但要得到各谱线的绝对强度是很困难的,因为用于测量谱线强度探测器的绝对刻度相当困难。早在70年代初,苏联Aglitskii等首次用类He离子谱线强度比测量等离子体电子温度和密度。由于用该方法测量等离子体电子温度和密度可避免对探测器绝对     

星载成像光谱仪杂散光测量

星载成像光谱仪用于获得高准确度的光谱遥感数据,而杂散光是影响其光谱测量准确度的重要因素之一.介绍了此类成像光谱仪杂散光的定义、来源和危害,在比较截止滤光片法、光谱法、谱杂散光系数法等光谱仪器常用杂散光测量方法优缺点的基础上,论述了使用杂散光影响因子描述光谱仪杂散光的可行性和优越性.最后,介绍了使用窄带滤光片测量星载成像光谱仪杂散光影响因子的测量系统组成、测量步骤和测量结果,并分析了测量方法的不确定度.结果表明：杂散光影响因子能有效描述光谱仪的杂散光特性,测量结果与光源、探测器等测量条件无关;窄带滤光片法测量不确定度为0.646%（置信概率约为95%）,能满足星载成像光谱仪杂散光测量的工程需要.     

关于光谱分析中定标曲线斜度的讨论

为了说明Si2516线的定标曲线的斜度与物质浓度的定量关系是否有更普遍的意义,我们进一步考察了钴、镍的多重谱线系中13条谱线的定标曲线的斜度与物质浓度的关系。一系列的实验结果指出,对某一谱线来说,定标曲线的斜度决定于物质的浓度;在另一方面,当分析物质的浓度在一定范围时,多重谱线中不同谱线的定标曲线的斜度与相应谱线的固有强度也有线性的定量关系。因此我们可以认为在光谱分析中,定标曲线的斜度b主要决定于谱线的强度。对b的物理意义的进一步了解,指出了在实际分析时提高定标曲线斜度的一些途径。     

红外光谱辐射的绝对测量方法研究

本文探讨自发参量下转换双光子场的产生机理，研究了基于自发参量下转换相关双光子绝对测量红外光源辐射功率的原理和方法。     

星载超光谱成像仪杂散光及其测量

超光谱成像仪比一般光谱仪器具有更多的光谱通道和更高的光谱分辨率,而杂散光是影响超光谱成像仪光谱测节精度的重要因素之一,当前光谱仪器的杂散光测量方法尚不能满足超光谱成像仪杂散光检测的需要.作者探讨了此类成像光谱仪杂散光的定义、来源和危害,论述了使用杂散光影响因子di,j描述光谱仪杂散光的可行性和优越性,并给出了杂散光受扰系数fi(λ)和杂散光干扰系数Fi(λ)的定义、物理意义和工程应用价值.最后,介绍了使用窄带滤光片测量星载超光谱成像仪杂散光的测量系统组成、测量步骤和测量结果.结果表明:杂散光影响因子di,j能正确表示光谱仪的杂散光特性,与光源、滤光片、探测器等测量条件无关,而测量效率比谱杂散光系数法至少提高1倍,满足星载超光谱成像仪杂散光测量的工程需要.     

真空紫外双等离子体光源的研究

本文描述我们研制的真空紫外双等离子体光源的设计、结构及工作原理,讨论真空紫外性能测试,给出光源的真空紫外辐射特性测试结果。