X射线荧光光谱分析中的基本参数法

基本参数法是利用X射线荧光强度的理论公式计算试样各组分浓度的方法。该法的优点是仅需纯元素作标样甚至不用标样即可进行多组分的试样分析。1968年Criss等提出这一方法后,近年来在试样分析、计算经验系数法中的经验系数以及将基本参数法与经验系数法相结合等方面均取得了较大的进展,而日益受到广泛的重视。一些作者认为目前基本参数法准确度尚差,主要是因为基本参数包括原级X射线谱强度分布数据不准确所致,至今已发表的原级X射线谱强度分布数据仅钨靶就有五种之多,其中四     

基本参数法在能量色散X射线荧光分析金属样品中的应用

在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的数学方法之一。我们使用带有不锈钢窗的~(241)Am59.6keVγ射线作为激发源,用Si(Li)半导体探测器和多道脉冲幅度分析器作为实验手段。采用无标样法,即绝对测量法,因而具有更大的广泛性和实用性。实验中,我们除了考虑元素间的二次、三次荧光吸收增强作用外,对样品中元素     

古代铜器X射线荧光分析中基本参数法及蒙特卡罗法的应用

本文介绍在X射线荧光分析中,用基本参数法和蒙特卡罗法(Monte Carlo)进行古文物样品的分析。分析中我们用蒙特卡罗法计算了样品对入射线的散射校正因子以及探测器对特征X射线的相对探测效率。蒙特卡罗法是模拟随机过程的一种统计试验方法,其统计过程是通过随机事件的概率分布函数的随机抽样来实现。     

X射线荧光光谱法无标样分析工业碳酸锶

使用X射线荧光光谱法的无标样半定量软件对工业碳酸锶进行分析,用模压法在15 MPa压力下压制30 s,将粉状碳酸锶制成片样,并对其中的锶、钡、钙、硫等元素的含量进行了检测。其中主成分碳酸锶的测定偏差小于0.3%,平行测定11次的相对标准偏差为0.034%。对于工业碳酸锶中碳酸钡杂质的含量进行了曲线拟合,拟合后的结果与化学值基本一致。应用此方法一个样品测定时间只需要16 min。     

在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份

引言在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的一种数学方法。它是根据样品受激发射荧光X射线的原理在测定了样品中各元素的特征X射线强度以后,利用已知的物理参数,如质量吸收系数,荧光产额,X射线特征谱线的相对强度,入射辐射能谱,几何因子,探测效率等,在给定的初值条件下通过理论计算,用迭代逐步逼近法直接求得样品中各元素的含量。     

X射线荧光光谱无标样分析在轻合金中的应用

基于X射线荧光光谱仪,运用其无标样分析软件以及元素灵敏度系数校正,分析了镁合金、铝合金样品的元素组成及其含量。结果表明,X射线荧光光谱仪无标样定量分析镁合金、铝合金,其测量结果具有非常高的可靠性和准确度。通过对元素灵敏度系数的校正,可以进一步提高合金的测量精度。     

X射线荧光光谱分析水基标样替代油基标样的实现

用水基标样替代油基标样,建立X射线荧光光谱测定石油及其产品中微量元素含量的方法。以钒、锰、铁、镍为研究对象,采用乳化技术制备试样,用乳化剂司班80将水基标样和油结合起来,合成油包水型乳状液;采用理论α影响系数法和内标法校准油水差异校正基体效应。实验发现,如果基体组成已知,理论α影响系数法可以校正水基和油基的基体差异,水基标样和油基标样可直接互换;如果基体组成未知,采用内标法校正基体效应,需要将样品合成油水混合液校正才能成功。用原油和燃料油样品进行对比实验,测得结果与标准方法一致。     

X—射线荧光光谱分析基本参数法程序在微型计算机上的移植和应用

本文介绍了ＦＬＹ－ＦＰＭ Ｘ－射线荧光分析基本参数法程序在微型计算机上的移植和应用情况。移植程序采用标准ＦＯＲＴＲＡＮ７７程序设计语言编写，适用于ＩＢＭ ＰＣ系列微型计算机。移植程序保留了原程序的所有功能和特点，可以根据需要进行基本参数法、理论α系数法和基本参数法－理论α系数法联用方法的分析计算。对移植程序进行了严格计算验证，程序移植前后计算结果一致，计算速度有所提高。本文给出了高温合金、水泥粉末     

Ni-Cr烤瓷合金的X射线荧光无标样定量分析

介绍了X射线荧光光谱的无标样定量分析软件应用于医疗用Ni-Cr烤瓷合金的检测,分析了合金中Ni、Cr、Mo、Al、Co、Ti、Si、Fe、Cl等元素的含量．结果表明该方法的分析速度快、准确度高,是一种实用的应用软件．     

X射线荧光光谱无标样分析法在催化剂检测中的应用

建立了X射线荧光光谱法无标样分析测定催化剂中主次量元素的方法。用熔融制样法将粉状催化剂制成玻片,应用UniQuant无标分析软件对其中的Al,Si,Gr,Ce,La等元素的含量进行了检测。测定结果的相对标准偏差(RSD,n=9)在0.11%~1.9%之间。通过与化学法测定结果比对,数据吻合良好。     

X射线荧光光谱扩展基本参数法测定不锈钢中的多种成分

针对多种类不锈钢多元素成分解析问题,应用X射线荧光光谱分析软件UniQuant,采用扩展基本参数法对多元不锈钢、双相不锈钢进行光谱干扰校正和基体校正,重新设定和优化多元不锈钢基体元素的测试条件,计算背景因子、杂质因子、谱线灵敏度系数和光谱重叠系数,测定Si、Mn、S、P、Ni、Cr、Cu、Mo、V、Al、Ti、Nb、Co、Ta、Fe的相对标准偏差在0.04%~3.8%,Ca、Zr、W、As、Sb、Sn的相对标准偏差在5.4%~20.3%,未知样品检测值与认定值比对结果相当理想,Ni、Cr的平均偏差小于0.05%,可以用很少标准样品实现各类型不锈钢多元素成分准确检测,检测范围宽,适用性好。     

X射线衍射法钾混盐无标样定量相分析

采用EVD、TOPAS应用软件和TOPAS结构数据库以及无机晶体结构数据库,对一些混合盐样品(如钾混盐、尾矿等)进行了X射线粉末衍射无标样定量相分析全谱拟合模拟研究。在用Rietveld分析法对上述样品中无机盐成分的X射线衍射谱进行模拟过程中,选择基本参数函数为峰形函数,并通过March-Dolase择优取向校正拟合,提高了拟合精度。测得钾混盐样品中钾盐镁矾相含量为72.44%,岩盐相含量为27.56%,误差值Rwp(17.45),Rp(12.21)和拟合度S(4.91)均有所降低。     

荧光X射线分析装置

本发明的课题在于提供一种进行氮置换的荧光X射线分析装置，容易更换试样室和照射室之间的隔壁膜，在分析时，试样室的空气不流入照射室。第1支架（21）按照其窗（21a）与试样室（3）和照射室（8）之间的壁部（4）的窗（如）重合的方式气密地安装于壁部（4）上，按照覆盖第1支架的窗（21a）的方式设置隔壁膜（9）。第2支架（23）按照其窗（23a）夹持隔壁膜（9），与第1支架的窗（21a）重合的方式设置。     

X射线荧光分析古钱

在X射线荧光分析中,由于荧光发生于样品的表层,因而样品表面状态对分析结果很重要。一般,在X射线荧光分析中,都要把待测物表面加工为光洁而平整的表面。但对古物的研究,不允许对古物作损伤性处理。因而用X射线荧光分析法测定表面粗糙的古物时的精确     

虚拟定值法在X射线荧光光谱分析中的应用

<正>X射线荧光光谱(XRF)分析中的基本参数法(FP),有着足够高的分析精度,它在新合金的化学成分分析中被广泛地应用。航空工业中新合金材料不断涌现,但因用户少、成本高,很少有单位研制相应的供XRF分析用的成套标准样品。目前在航空发动机上应用的新牌号材料仅镍基高温合金就达40余种,却只有DZ125与GH4169两套标准样品面世,且只有主量成分,没有次量成分。单标样灵敏度系数法(即FP)的高分析精度是