X射线光电子能谱法分析爆炸残留物

提出了用X射线光电子能谱法(XPS)对某爆炸案件的爆炸残留物进行定性、定量分析,同时以X射线荧光光谱仪(XRF)、扫描电镜能谱仪(SEM/EDX)为辅助测试手段,判断为氯酸盐类炸药,所用炸药为烟火剂。结果表明:XPS可以无损、快速地检测出无机爆炸残留物的元素成分及含量,并确定主要爆炸成分的化学式,进而确定罪犯所用炸药的种类,为侦破案件提供线索。     

成像X射线光电子能谱定量分析研究

探索了直接用实验测得的XPS图像强度来做元素或化学态相对定量分析的可能性。以AgCl和Na2S2O3样品为例，实验结果表明：XPS图像强度与成像时间有良好的线性关系，根据图像强度对两种元素或化学态进行相对定量是可能的。     

电化聚合聚吡咯的角分布X射线光电子能谱研究

用角分布Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）测试和样品原位加热相结合的方法研究了阴离子是对甲苯磺酸根的电生导电聚吡咯的化学和聚集态结构．其结果表明聚吡咯表面约几个原子层内原子的相对浓度依下述次序递减：Ｃ＞Ｏ＞Ｓ＞Ｎ；导电聚吡咯中的氮原子至少有吡咯氮和氧化态氮两种；在２００℃加热以后聚合物链不受影响，但阴离子向表面迁移，同时氧化态氮大大减少．     

用X-射线光电子能谱定性和定量分析钴的化学状态

在Ni-MH和Ni-Cd电池制造业中,对钴的价态确定是重要的。高自旋二价钴给出较强的Shake-up伴峰,而三价钴是反磁性的,没有伴峰,由此可以确定钴的价态,并进行定量分析。由实验结果得出下面的经验方程：X%=100（13-20C）/13（C 1）。式中X%是三价钴的百分含量,C是待测样品Co2p1/2Shake-up伴峰与主峰强度之比。此方程可以给出三价钴近似含量。我们从Cop1/2与Shake-up伴峰之间距离或者从伴峰与主峰强度之比,可以鉴别氢氧化亚钴与氧化亚钴。     

X射线光电子能谱仪的开放使用与管理

X射线光电子能谱仪(XPS)是材料表面元素定性和半定量分析的重要手段之一,是表面分析科研工作的必备仪器.为提高测试效率,实施了大型仪器设备开放共享优化,总结了在推动XPS开放过程中管理的经验和体会.     

砷化镓半导体表面自然氧化层的X射线光电子能谱分析

用X射线光电子能谱(XPS)，测量了Ga3d和As3d光电子峰的结合能值，指认了砷化镓(GaAs)晶片表面的氧化物组成，计算了表面氧化层的厚度，定量分析了表面的化学组成；比较了几种不同的砷化镓晶片表面的差异。结果表明：砷化镓表面的自然氧化层主要由Ga2O3、As2O5、As2O3和单质As组成，表面镓砷比明显偏离理想的化学计量比，而且，氧化层的厚度随镓砷比的增大而增加；溶液处理后，砷化镓表面得到了改善。讨论了可能的机理。     

利用X射线光电子能谱研究马家塔煤显微组分中氧的赋存形态

煤中氧的赋存形态是煤结构研究的重要内容,煤炭加工转化（如煤的热解、直接加氢液化等）也需要确实详尽的煤中氧赋存形态的数据信息。x射线光电子能谱法（x—ray Photoelectron Speetroscopy,XPS）是近年来新出现的最有效的元素分析方法之一,目前,已在化学、物理、生物等各个领域中得到广泛应用。1974年,XPS分析方法首次用于煤的研究,近年来,XPS成为研究煤中硫和氮存在形态的有效方法之一。许多学者在煤中无机矿物中碳、氧、硫的存在形态及XPS直接测定煤中有机硫等方面做过较多研究工作,但由于煤结构的复杂性、实验条件不尽相同以及煤中矿物的干扰等,以往的研究结果并不完全相同。     

匀胶铬版表面界面微观构成的X射线光电子能谱表征

用Ｘ射线光电子能谱（ＸＰＳ）研究了几种不同工艺制备的匀胶铬版表面、铬膜内部以及各层之间界面处的微观化学组成和化学状态，讨论了不同工艺对铬版材料微观构成及宏观特性的影响。     

X射线光电子能谱研究低温氧等离子体对棉纤维表面改性

本文叙述了用X射线光电子能谱(XPS)表征棉纤维的表面特性,比较了不同方法处理的棉纤维的表面改性。还讨论了等离子体对棉纤维的润湿性和脱脂作用机理。实验表明:刻蚀、氧化、分裂和接枝含氧基团是低温氧等离子体对棉纤维表面的主要作用。     

X射线光电子能谱技术在高分子材料摩擦化学研究中的应用

X射线光电子能谱技术(XPS)是材料表面分析的重要手段,其近年的快速发展促进了表面化学领域研究的深入.高分子及其复合材料在摩擦学性能方面具有普遍的优势,通过XPS对高分子及其复合材料摩擦表面的分析,可以确定摩擦过程的化学变化,并对改进材料的摩擦学性能起到理论的指导作用.作者主要介绍XPS技术的基本原理,及其在高分子与复合材料摩擦学性能研究中的应用.     

用紫外光谱和X射线光电子能谱研究金属卟啉自组装膜

金属卟啉化合物由于具有丰富的电子结构和特殊的物理化学性质,因而在光电材料、分子器件和非线性光学等领域具有广阔的应用前景．有机硅可用于提高高分子化合物在氧化物基底表面的附着力;在气相和液相色谱中可作为固定相;在生物传感器中可用于蛋白质的固定．     

X射线光电子能谱测定固体粉末样品的制备方法比较

样品制备方法对X射线光电子能谱测试结果具有较大影响,以导电样品锂电材料和不导电样品奶粉为测试对象,探讨了不同制样方法对两者测试效果的影响.试验结果表明,导电样品锂电材料使用导电胶铜片制样效果较好,而不导电样品奶粉使用导电胶压片或3M胶带压片效果较好.     

竹木质素的红外光谱与X射线光电子能谱分析

应用傅里叶转换红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS), 研究了3种提纯方法得到的竹木质素及其化学反应产物的化学结构特性. 确定竹木质素C_1s的电子结合能分别为283.52 (C—H或C—C), 284.58～285.72 (C—OR或C—OH), 286.10～286.44 (C＝O或HO—C—OR), 287.65～287.72 (O—C＝O) eV. O_1s的电子结合能分别为530.31(羟基氧原子), 531.45～531.72(醛或酮的羰基氧原子), 532.73～533.74(酯键或羧酸中的羰基氧原子) eV. 竹木质素中的结构单元之间主要是通过醚键和碳碳单键连接, 慈竹磨木木质素结构单元中醚键、碳碳单键、酯键、羰基和烯双键的比例为100∶63∶32∶40∶32 (49.3∶31.0∶16.0∶19.9∶16.0)     

双钙钛矿Pr2NiMnO6的X射线光电子能谱研究

利用固相反应法合成了双钙钛矿Pr2NiMnO6.通过X射线衍射确定了样品物相的单一性.利用X射线光电子能谱和磁性测量系统分别对Ni、Mn的价态以及样品的低温磁性质进行分析.结果表明,在Pr2NiMnO6中,Ni、Mn主要以2价、4价的形式存在,低温下的铁磁行为来源于Ni2+-O-Mn4+铁磁超交换作用.该研究为探索同系双钙钛矿La2 NiMnO6的磁性起源提供了重要参考.     

磁透镜引起的氯化银谱峰异常位移及其在X射线光电子能谱成象分析中的应用

用X射线光电子能谱（XPS）分析了与样品托有良好电接触的银片及其上面的AgCl。观察到在使用样品磁透镜和非单色化X射线源的实验条件下不导电的AgCl的电子峰产生异常大的谱峰位移,还发现这种异常谱峰位移可以应用于XPS成象分析,以提高化学位移很小的元素化学态（如Ag^0和Ag^ )的XPS象的分辨能力。     

氮磷配位的钛酸酯络合物的X射线光电子能谱研究

制备了单烷基羧酸型和磺酸型钛酸酯氮配位与磷配位的配合物.用XPS法证明有N→Ti或P→Ti配位键生成,并从化学位移量推测了键的强度,磺酸型较羧酸型易配位,羟基取代胺的氮配体配位较容易发生;磷配位由于存在Ti→P的反馈作用,使化学位移不如氮配位明显.此外,异丙基钛酸酯与乙醇胺的反应物,证明分子内有N→Ti配位键生成.     

双梳型共聚物在莠去津颗粒表面吸附的X射线光电子能谱分析

采用X射线光电子能谱(XPS)研究了双梳型共聚物吸附于莠去津颗粒样品表面的电子状态,计算了吸附厚度.结果表明:吸附后,莠去津颗粒界面的N 1s和Cl 2p谱峰强度明显减弱,Cl 2s几乎消失,而C 1s和O1s谱峰强度则明显增强,这主要是双梳型共聚物中C和O的贡献,且吸附后能在莠去津颗粒界面形成良好的吸附保护膜,其厚度...     

正负压一体式无空气X射线光电子能谱原位转移仓的开发及研制

针对空气敏感材料的表面分析,为了获得更加真实的表面组成与结构信息,需要提供一个可以保护样品从制备完成到分析表征过程中不接触大气环境的装置.通过使用O圈密封和单向密封柱,提出一种简便且有效的设计概念,自主研制了正负压一体式无空气X射线光电子能谱(XPS)原位转移仓,用于空气敏感材料的XPS测试,利用单向密封柱实现不同工作需求下正负压两种模式的任意切换.通过对空气敏感的金属Li片和CuCl粉末进行XPS分析表明,采用XPS原位转移仓正压和负压模式均可有效避免样品表面接触空气,保证测试结果准确可靠,而且采用正压密封方式转移样品可以提供更长的密封时效性.研制的原位转移仓具有设计小巧、操作简便、成本低、密封效果好的特点,适合给有需求的用户开放使用.     

X射线光电子能谱和聚焦离子束法研究FeCrAl合金元素含量对涂层抗氧化行为的影响

利用X射线光电子能谱(XPS)和聚焦离子束(FIB)技术,实现对FeCrAl合金涂层在1200℃水蒸气环境下氧化行为的研究.XPS和FIB法可以检测和观测到材料随深度变化的界面层、化学态和真实结构等信息,具有直观、且信息丰富(含量、化学态及形貌)等优点.为方法在更广泛的材料体系内的应用提供理论和实践基础.     

CL-20电子束的X射线光电子能谱-气体质谱原位同步分析技术研究

X射线光电子能谱仪是材料表面元素定性和半定量分析,尤其是元素化学态分析的重要手段之一. X射线光电子能谱仪的分析腔连接质谱仪进行分析,可有效获得样品表面元素变化及气体产物,实现原位同步分析. 基于炸药CL-20在光作用下存在着明显的分解现象,采用X射线光电子能谱-气体质谱同步分析方法(XPS-MS)获得CL-20在电子束作用下的表面元素及气体产物的变化. 试验结果表明,随着辐照时间增加,N、O元素峰峰强迅速下降,同时质谱仪可以有效获得气态产物峰,证实XPS-MS同步分析技术能够有效地实现对固态光降解反应的原位同步追踪.