X射线荧光光谱分析

作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇,本文收集国内学者在1998年7月至2000年6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的129篇论文,并对此期间对我国X射线荧光光谱分析的概况、发展和国际上的地位进行了讲述,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射X射线荧光光谱、同步辐射光源X射线荧光光谱、粒子激发X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。     

X射线荧光光谱法在稀土元素分析中的应用

本文研究了Ｘ射线荧光光谱在混合稀土氧化物和高纯稀土氧化物分析中的应用，并探讨了在常量分析中影响分析准确度和精密度的主要因素；样品及标样制备，基体效应校正方法在痕量分析中降低检测限的方法，选择最佳测量条件，降低背景，与分离富集手段相结合，取得满意的结果。     

X射线荧光光谱法测定地质样品中的硫和氟

采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法研究地质样品中硫(S)和氟(F)元素的快速测定方法。通过分级过筛实验优化确定样品粒度,探讨样品粒度对测定结果的影响,并进行实际样品和标准物质验证。结果显示,样品粒度为85μm时,经实际样品和标准物质验证,测定结果与化学值和标准认定值相符,且相对标准偏差(RSD)均小于2%。方法具有准确度高、检出限好、测试范围宽、简便快速等优点,能确保样品分析结果的准确性,实现了地质样品中S和F的快速测定。     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2002年7月～2004年6月间X射线荧光光谱, 包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用, 内容包括仪器的研制、维护和维修、样品制备技术、 X射线荧光光谱基础研究、谱处理、分析方法研究和应用.     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用.     

X射线荧光光谱法测定黏土中的主次组分

采用熔融玻璃片制样,选用标准样品,以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对黏土样品中的Al₂O₃、SiO₂、Fe₂O₃、CaO、MgO、K₂O、Na₂O、MnO、P₂O₅、TiO₂、Cu、Cr等组分进行测定,分析结果与标准值和化学值相吻合,12次测定的相对标准偏差小于10%.     

X射线荧光光谱法快速测定费托蜡中铁

通过对费托蜡(合成蜡、渣蜡)创新制样与装样、测试条件优化,利用仪器自带的基本参数法无标样半定量分析软件,建立了X射线荧光光谱(XRF)测定费托蜡中Fe的方法。测定的相对标准偏差<1%、典型分析时间10 min/样,无需标样。与ICP-AES测定结果相比较,相对误差低于10%,同时降低了蜡样测试对仪器真空度或分光晶体产生的不良影响。     

X射线荧光光谱法测定萤石中的氟,钙及二氧化硅

提出艇偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融制样，以Ｘ－射线荧光光谱法定量测定萤石中ＣａＦ２、总钙和二氧化硅。经实际试样和标准试样检测，本法可用实际试样分析，在ＣａＦ２含量为７７－９８％时，其最大误差为０．６０％。     

铝青铜合金样品的X射线荧光光谱分析

建立了X 射线光谱测定铝青铜系列铜合金中Al、Mn、Fe、Si、Ni、Zn、Sn和Pb 8种元素的方法,探讨电流、电压对荧光强度的影响,基体效应校正采用基本参数法.用该方法对实际样品进行分析,分析结果与化学法分析结果相吻合.各元素测定结果的相对标准偏差为0.10%-5.56%(n=10).     

氮中二氧化硫标准气体定值方法的研究

介绍用脉冲荧光分析仪对氮中二氧化硫标准气体定值的分析方法,对方法的精密度、准确度及定值的不确定度进行了考察。该方法的定值结果与重量法的配制值相一致。用该法对荷兰国家计量院制备的氮中二氧化硫标准气体进行比对试验,取得了良好的等效性。     

X-射线荧光光谱法在线分析硅石中8种元素的含量

以四硼酸锂—偏硼酸锂混合熔剂熔融制备样品，利用X-射线荧光光谱法实现了硅石中硅、铝、钙、镁、磷、钾、钛、铁等元素的在线分析，分析速度快，结果准确。     

X射线荧光光谱法测定钢中的有害元素

采用X射线荧光光谱法测定钢中有害元素P.S.AS.Pb.Zn.Sn的含量,实现了钢中有害元素P.S.AS.Pb.Zn.Sn含量的在线分析。各待测成分的分析范围为：P0.0042％～0.047％.S0．0094％～0.073％.AS0.011％～0.092％.Pb0.0012％～0．087％.Zn0．0005％～0．011％.Sn0．0093％～0．095％。用该方法对标准样品进行测定。测定结果与标准值基本一致,测定结果的相对标准偏差为1．08％～1．90％(n=10)。     

X-射线荧光光谱分析中谱线重迭干扰的校正方法——线性规划法

本文叙述了用线性规划法校正稀土元素谱线重迭的方法,并对有关参数进行了讨论。本法成功地应用于EuLβ1和DyLa1、HoLβ1和LuLa1、HoLa1和GdLβ1的谱线重迭的校正。     

便携式能量色散X射线荧光光谱仪在土壤检测中定方法研究

能量色散X荧光光谱仪至今还没有形成统一的国家检定规程.因此,根据仪器的实际检定要求,参考相关仪器的检定规程,对能量色散X荧光光谱仪的检定方法进行了深入的研究和探讨,提出了能量色散X射线荧光光谱仪的检定方法.     

X-射线荧光光谱法分析硅质耐火材料的主次成分

采用硅石标准样品作为校准样品,建立了熔融制样X-射线荧光光谱法测定硅质耐火材料中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、P2O5、Fe2O3、TiO2、K2O、Na2O的方法.采用熔融法为样品片和校准片的制备方法,选择四硼酸锂-偏硼酸锂(质量比为67∶33)为助熔剂,1.00mL LiBr溶液为脱模剂,熔融温度1100℃...     

铌酸钾锂的X射线荧光光谱分析

提出了一种用X射线荧光光谱分析铌酸钾锂中Li_2O,K_2O和Nb_2O_5的方法.采用deJongh校正方程,将Li_2O当作消去组分,所得Li_2O的结果与ICP-AES法一致.同时建立了非破坏分析校正曲线.     

原子荧光光度法测定化妆品中微量汞

用浸提法处理化妆品样品 (不含腊质 ) ,原子荧光法测定微量汞 ,选择了最佳试验条件 ,检出限为 0 .0 32ng·ml- 1,加标回收率为 87.1%～ 113.0 % ,进行了大量样品的测定 ,结果满意。