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北京师范大学外束PIXE分析装置的建立 总被引:3,自引:1,他引:2
北京师范大学串列实验室建立了外束质子激发X荧光(PIXE)分析装置.外束引出窗口采用7.5μm厚Kapton膜.为了保护加速器系统,在外束管道中安装自己设计制作的快速真空保护阀.考虑到绝缘样品不能直接测量束流积分,在RBS靶室放置175nm金箔,并建立了金RBS峰面积和束流积分之间的关系,这样在采集外束PIXE能谱的同时,通过记录金箔RBS信号就可获得束流积分.对GBW07306水系沉积物有证标准物质进行了外束PIXE测量及定性分析,并与真空PIXE结果进行了比较. 相似文献
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应用PIXE和多元统计方法鉴别成化青花瓷 总被引:6,自引:0,他引:6
应用外质束质子激发X荧光技术(PIXE)测定了明代成化窑青花瓷和清代康熙朝仿品的胎、釉的化学组成,运用多元统计方法,对瓷胎的化学组成进行分析,结果表明:清代烧造的成化瓷仿品可与成化窑真品加以区分。 相似文献
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北京师范大学大气颗粒物外束PIXE分析系统 总被引:1,自引:0,他引:1
北京师范大学串列加速器实验室建立了大气颗粒物外束PIXE分析系统,并利用标准样品获得了16种大气颗粒物常见元素的外束PIXE分析系统刻度因子.对Z≥15的大多数元素,刻度因子的重复性较好,相对标准偏差在2%左右.通过降低样品与探测器Be窗之间空气层的有效厚度来削弱空气对低能X射线的吸收作用并降低空气中Ar元素的峰面积,可使标准样品中Mg的探测限由9 157ng.cm-2降至331ng.cm-2,Al的探测限由645ng.cm-2降至191ng.cm-2.大气颗粒物样品中Al及原子序数高于Al的元素外束PIXE的探测限约为内束PIXE的2~6倍. 相似文献
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用NAA(中子活化分析)与XRF(源激发X荧光分析)测定清官寿桃丸中微量元素的含量,测得Ba,As,Br,Ca,Ce,Cr,Fe,La,Rb,Sb,Sr,Zn,Cu,Mn,Se,Ni等24种元素,并对它们和人体的关系进行了初步的讨论. 相似文献
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PIXE技术在分析汽车尾气颗粒物中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
介绍了利用PIXE分析技术对汽车尾气颗粒物的分析,获得了尾气颗粒物中的元素组成以及元素含量;同时对环境污染有影响的元素如S,Pb以及对影响污染物排放的元素如Si和Mn等进行了分析和讨论,研究表明,不同型号的汽车尾气颗粒物中,有害元素含量差异很大,虽然使用了汽油,但探测到有些尾气颗粒物中的铅含量还是相当高的,某些车型的汽车尾气中,Si,Mn含量相对偏高,此研究为治理汽车尾气污染提供依据。 相似文献
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如今,环境标准样品俨然已经成为环境监测以及质量控制和质量保证的常用方法和重要工具,因而正确使用和科学理解环境标准样品也就变得越来越重要了。本文从四个方面详细分析了标准样品在环境监测的应用中存在的问题,以期为业内人士提供一定的参考。 相似文献
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采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪测定海南地球化学样品中的SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、Ba、Br、Ce、Cl、Ga、La、V、Mn、Zn、Y、Zr、Nb、Th、Rb、Sr、Ph、P、Cr和Ti等27个组分进行测定。针对海南样品的特点,加入高铝、高钙、高铁和高钛标样进行回归。使用经验系数法和散射线内标法校正基体效应,方法简便、快速,其精密度和准确度完全满足质量临控要求。 相似文献
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本文介绍了氧化铜光谱标准样品的研制方法,探讨和解决了标样研制中的若干问题.采用本文介绍的标样,能对GB466-82[1]规定的纯铜中馑铋、锑、砷、铁、镍、铅、锡、锌八个杂质元素进行光谱定量分析. 相似文献
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罗达勇 《杭州师范学院学报(社会科学版)》1991,(3)
体育课是一门必修课,体育课成绩需要进行考核与评分。目前,评定体育课成绩方法多种多样、五花八门。有些方法缺乏科学性、合理性、正确性,没有统计学意义。“标准百分评分法”从学生实际情况出发,用数理统计的原理和方法,比较科学、合理地进行考核与评定,简明扼要,是一种行之有效的方法。 相似文献
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黄在银 《湖北民族学院学报(自然科学版)》1997,15(6):81-83
根据热力学第三定律和统计热力学,运用“相对标准法”对单质和化合物的熵的相对标准进行了讨论,并指出熵与焓的相对标准状态不同,应该统一起来,以满足热力学函数定义式;G=H-TS。 相似文献
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将1,2重混合检查推广到多重混合检查法,在给出多重混合检查样本空间划分规则的基础上,讨论了多重混合检查次数的分布和期望,从而证明了作者在另文中猜测的多重混合检查的平均检查量公式成立,还指出了利用牛顿法可计算出任意重混合的阳性率p的界,并给出2-20重界p的值。 相似文献
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研究了电力系统多变量Nyquist图相角变化率与其反馈模型开环和闭环极点间的关系,藉助相角变化率的极值点确定系统机械振荡频率的主要集结区域,并在此基础上,分析了发电机与各频率集结区域间的关联特性,为选择PSS的安装位置提供了新方法。 相似文献
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介绍了PIXE(质子激发X射线发射)分析技术分析硅晶片表面杂质元素的探测灵敏度和最低可探测限,用此分析技术,对在几个注入机上进行的注氧硅晶片的污染情况进行了测定,发现在有的注入机上注氧时带进了Cr,Mn,Fe,Cu等污染元素,结果表明,PIXE分析技术具有高灵敏、非破坏性等优点,十分适合在这一领域的研究中应用。 相似文献
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采用质子激发的X射线能谱分析(PIXE)方法对磁过滤阴极真空弧沉积(FVAPD)装置在Al板上合成Ti膜相对厚度进行了测量,给出了沉积靶室中不同位置大面积合成薄膜的均匀性.通过同背散射分析(RBS)测量结果的比较表明:利用在轻衬底上合成重元素薄膜的PIXE分析可以快速、无损和精确地测量FVAPD装置合成薄膜的均匀性. 相似文献