开路缺陷的软故障关键面积研究

从软故障的产生机制出发,研究了软故障的作用模式.为了计算软     

DM 50 kW中波广播发射机几例软故障的处理

本文对DM50kW中波广播发射机实际工作中发生的软故障进行了分析和处理,并介绍了全固态发射机软故障检修方法及维护经验。     

基于关键面积的冗余集成电路成品率分析

利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率,并给出了其计算模型.实例模拟表明,与传统的成品率分析方法相比,该模型预测IC成品率具有更高的精度.     

基于关键面积的冗余集成电路成品率分析

利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率,并给出了其计算模型.实例模拟表明,与传统的成品率分析方法相比,该模型预测IC成品率具有更高的精度.     

微机硬盘软故障的排除

详尽地分析了微机硬盘常见软故障发生的原因及其表现，并提出了既能排除故障，又能最大限度地保存硬盘上原有数据的方法，实践证明是行之有效的。     

集成电路关键面积研究方法的发展与挑战

研究方法进行了综述与分析,讨论了Monte Carlo方法、多边形算子方法、Voronoi图方法的优缺点;对亚波长光刻阶段关键面积研究面临的挑战进行了分析与探讨.     

真实缺陷的矩形模型及其关键面积计算

在集成电路(IC)中,为了进行有效的成品率估计和故障分析,与光刻有关的缺陷形状通常假设为圆模型.然而,真实缺陷的形状多种多样.本文提出一种真实缺陷的矩形模型及与之相关的关键面积计算模型,该模型既考虑了真实缺陷的形状又考虑了IC版图布线的特点.在缺陷引起故障概率预测方面,仿真结果表明新模型比圆模型更接近真实缺陷引起的故障概率.     

基于轻松修复电脑故障的研究

在使用电脑的时候,经常会遇到一些故障。有些故障并非物理损坏,我们完全可以通过修改注册表的方法来修复。本文介绍如何设计修改注册表的程序,由程序自动修复一些常见的电脑故障。     

竞争硬故障与软故障失效模式产品的可靠性分析

根据系统可靠性理论,考虑到硬故障和软故障两种竞争失效模式对产品失效的影响,对传统的可靠性分析方法进行了扩展。研究了满足硬故障和软故障竞争失效规则的产品可靠性函数和失效率函数。并通过不同的失效模式之间的关系。得到产品在不同的硬、软故障模式下的失效分布函数。另外还给出一个简单的算例来说明该分析方法的应用。该分析方法可能更符合机电产品的失效规律。     

基于信息熵的电子装备软故障预报

针对电子设备的故障识别提出了一种基于性能退化数据的缓变故障预报方法,以不同层次的可观测功能模块为基本的故障预测和定位单位,利用信息熵的概念建立性能检测数据波动趋势的信息模型,对模块进行功能故障预测。试验表明：熵可以比较准确地指明功能电路的软故障与器件老化,对以替换现场可更换单元为主要手段的电子装备原位维修与应急维修有重要的现实意义。     

一种改进的VLSI关键面积计算模型和方法

从故障机理上研究了现有的关键面积计算模型 ,改进了其开路 /短路关键面积计算模型的故障核 ,从而得到适用于一般版图图形结构的关键面积计算方法 .这对计算 VL SI关键面积、指导版图优化设计和提高 IC成品率有重要意义 .     

基于刻蚀工艺的IC关键面积计算模型与实现方法

在 IC的制造过程中 ,由于工艺的随机扰动 ,过刻蚀和欠刻蚀造成了导线条的宽度和线间距的变化 .论文在分析过刻蚀和欠刻蚀对 IC版图影响的基础上 ,提出了基于工艺偏差影响的 IC关键面积计算新模型和实现方法 .模拟实验表明模拟结果与理论分析是一致的     

可诊断容差模拟电路软故障的新故障字典法

基于支路屏蔽的原理,本文提出一种可以诊断容差模拟电路软故障的新故障字典法.文中讨论了该方法的诊断原理和字典的建立方法,给出了容差情况下的仿真诊断例子.     

模拟电路软故障诊断的研究

分析了模拟电路软故障诊断的重要性及现有的各种软故障诊断方法。对模拟电路软故障诊断字典法中基于支路屏蔽原理、电路参数随元件参数变化轨迹、节点电压灵敏度序列守恒定理和节点电压增量关系方程的四个研究方向各自的基本原理和优缺点进行了探讨;介绍了基于神经网络,结合模糊理论、小波变换的现代模拟电路软故障诊断的两个方向的研究现状;同时从通用的软故障诊断方法、大规模模拟电路的诊断策略和数模混合集成电路的诊断需求三方面指出了模拟电路软故障诊断的发展趋势和亟待解决的问题。     

模拟电路模块级软故障特征的提取与故障诊断

介绍了一种模拟电路故障诊断中功能模块级的单模块软故障模型的建立理论和特征提取的方法,运用该方法提取的单模块故障特征不仅可以有效区分单模块电路中的各类故障,而且单模块电路的故障特征还可以在多模块电路的单故障和多故障的情况下应用。仿真结果表明,通过采样电路输出并进行相应的信号处理来提取故障模型,可以准确地定位多模块故障电路的故障部位。     

提取带权关键面积的新算法

导体故障分析是一种列举与缺陷有关的集成电路版图中可能出现桥连的技术,计算带权关键面积是限制其性能的主要因素.文中提出了一种基于数学形态学和真实缺陷矩形模型提取带权关键面积的新算法,该算法不需要将版图上的线网拆分为矩形,也不需要合并矩形对的带权关键面积.实验结果验证了新算法的有效性.     

A Novel Algorithm to Extract Weighted Critical Area

导体故障分析是一种列举与缺陷有关的集成电路版图中可能出现桥连的技术,计算带权关键面积是限制其性能的主要因素.文中提出了一种基于数学形态学和真实缺陷矩形模型提取带权关键面积的新算法,该算法不需要将版图上的线网拆分为矩形,也不需要合并矩形对的带权关键面积.实验结果验证了新算法的有效性.