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相似文献
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1.
介绍了清华大学物理系研制的一个测量高温超导薄膜微波表面电阻的系统,展示了测量的原理和过程.本系统是按照目前国际上高温超导薄膜的微波表面电阻的测量标准方案(ICE/TC90)选定的 TE011- TE013双介质谐振器法来对超导薄膜进行测量.介质谐振器谐振的中心频率约为11.96 GHz,具有很高的准确性和灵敏度.在液氮(77 K)温度下,用物理所提供的两片YBCO薄膜测量,TE011和TE013模式的无载Q值分别达到5.57×10 5和1.51×10 6, 就我们所知,这是国内所报道的最高Q值.其Rs(77 K,10 GHz)平均值为263微欧.因此,本系统可以较为准确地测量表面电阻很小(300微欧以下)的高温超导薄膜.  相似文献   

2.
介质谐振器法测量高温超导薄膜微波表面电阻的误差分析   总被引:3,自引:0,他引:3  
李宏成  王瑞兰  魏斌 《物理学报》2001,50(5):938-941
用微扰法研究了两端接地型蓝宝石介质谐振器测量高温超导薄膜微波表面电阻RS的误差与几何结构和工作频率的关系.结果表明,介质柱直径与高度之比2a/L,金属屏蔽腔内半径与介质柱半径之比b/a以及工作频率f对测量误差和最小可测表面电阻Rsmin有很大影响.所得到的曲线可用于蓝宝石介质谐振器的设计中.结果还表明,适当选取2a/L,b/a与f可使测量误差接近于1%,最小可测表面电阻Rsmin可达到微欧姆的数量级.这对于高温超导薄膜的检测和微波器件应用说关键词:介质谐振器高温超导薄膜微波表面电阻误差分析  相似文献   

3.
本文报导一种测量高温超导薄膜微波表面电阻的新方法和测试装置.通过对加载两个不同蓝宝石的同一谐振腔进行测试,可以得到测试样品以外所有其它损耗对应的Q值.根据电磁场分布计算出谐振腔的结构参数G.用网络分析仪测量出谐振腔的无载Q值,便可计算出超导薄膜的微波表面电阻Rs.测量过程中既不会损伤超导薄膜样品,同时可以实现单片超导薄膜表面电阻的绝对测量,不需要校准件,测量简便可靠,精度高.  相似文献   

4.
本文介绍一种蓝宝石加载单端短路谐振腔测量高温超导薄膜的方法,并对测量误差进行了较详细的分析.造成测量误差的主要因素有三个:系统无载品质因数Q0的测量误差,超导薄膜以外损耗品质因数Qother的实验误差,以及在谐振腔内超导薄膜的几何参数G的计算误差.大量的实验结果表明,本方法操作简便,重复性好,测量精度高,相对测量误差不超过10%.  相似文献   

5.
两种测试高温超导薄膜微波表面电阻方法的讨论   总被引:3,自引:0,他引:3  
介绍两种工作在12GHz附近的高温超导薄膜微波表面电阻Rs测试系统,并分析各自的特点.同时简介电子科技大学在提高Rs测试精度上所作的一些改进.  相似文献   

6.
高温超导介质谐振器是毫米波应用的重要部件之一。本文研究了在确定频率下的介质谐振器的理论计算和实验结果,表明了采用园柱形GdBaCuO超导薄膜介质谐振器可以在毫米波段获得稳定的高Q谐振。  相似文献   

7.
本文介绍一种蓝宝石加载单端短路谐振腔测量高温超导薄膜的方法,并对测量误差进行了较详细的分析.造成测量误差的主要因素有三个:系统无载品质因数 Q0的测量误差,超导薄膜以外损耗品质因数 Qother的实验误差,以及在谐振腔内超导薄膜的几何参数 G的计算误差.大量的实验结果表明,本方法操作简便,重复性好,测量精度高,相对测量误差不超过10%.  相似文献   

8.
用微波传输法测量高Tc超导薄膜的表面电阻   总被引:1,自引:0,他引:1  
当有微波入射至厚度为d的高温超导薄膜时,测量透射波(或反射波)的幅度及相位,便可定出材料的复数电导率σ=σ1-jσ2,进而计算表面电阻Ra和穿透深度λL,本对于薄膜样品置于矩形波导中的实际情况,给出了一般情况下,波导中透射系数和反射系数的正确解表达式。在诸如σ1<<σ2,d<<λL等近似条件下,这些正确解表达式可以奶化为目前献中的常用公式。本指出了这些常用公式的缺陷,并用数值方法对正确解、近  相似文献   

9.
高吉  杨涛  马平  戴远东 《物理学报》2010,59(7):5044-5048
介质谐振器是目前高温射频超导量子干涉器较常采用的一种高品质因数微波谐振器.它是由10 mm×10 mm×1 mm的SrTiO3(STO)标准衬底及覆盖在其上的YBa2Cu3O7-δ(YBCO)薄膜磁通聚焦器共同构成的.为探明磁通聚焦器构形对介质谐振器谐振频率的影响,本文采用Ansoft公司出品的HFSS高频结构仿真软件对磁通聚焦器构形不同的若干介质谐振器的谐振特性进行了仿真.结果表明:增大磁通聚焦器开  相似文献   

10.
我们对高温超导YBa2Cu3O7(YBCO)薄膜样品在超导转变温区微波表面电阻RS随温度变化的初步测量结果.利用介质谐振器方法,分别测量了由镀银高纯铜标准试样和脉冲激光淀积方法制备的高温YBCO超导薄膜为下底板的谐振器品质因素随温度变化的数据.通过对镀银高纯铜标准试样和RS为零的谐振器数据分析,得到谐振器参数随温度变化的曲线.由有高温YBCO超导薄膜组成的谐振器Q值随温度变化数据得到YBCO薄膜样品超导转变温区微波表面电阻的变化.讨论了YBCO超导薄膜的微波表面电阻测量结果.  相似文献   

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