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首次用国产量子阱激光半导体二极管双路端面泵浦Nd:YLF激光器,得到波长1.047μm、能量6_μJ、峰值功率120mW的激光输出.实验结果表明:双路同时泵浦输出功率大于两单路分别泵浦输出功率相加,起伏小于3%,与理论分析基本一致。 相似文献
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采用节点法和晶体管y参数等效电路,对单级阻容耦合晶体管共射极连接放大器的频率特性进行精确的分析。 相似文献
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单电子晶体管(SET)作为灵敏静电计的灵敏度受到噪声的限制,其中散粒噪声(shot noise)是本征噪声,决定着单电子晶体管灵敏度的极限.利用射频(radio frequency,RF)单电子晶体管的极高的工作频率,可以消除SET的1/f噪声,从而达到极限灵敏度.利用一级低温低噪声放大器和一级室温放大器放大工作在反射模式的射频单电子晶体管的输出信号,使用LC共振电路,抬高了SET右边的整个微波系统的阻抗,使之与单电子的输出阻抗匹配,从而提高了RFSET静电计的灵敏度. 相似文献
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摘要:介绍了一种测试晶体管基区电阻γbb的方法,得出了晶体管电流放大系数β值不同γbb值不同的结论,并对γbe的计算公式进行了修正. 相似文献
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JT-1型晶体管特性图示器由于其读测简便、直接显示的优点而被广泛采用,但有的晶体管特性图示器集电极取样电路设计具有一定的缺陷,会给测量带来严重的影响。本提出了自己的观点,并给出了改进方法。 相似文献
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影响npn晶体管辐射损伤的因素有很多,如晶体管工艺、剂量率以及辐照偏置等.主要研究了三种发射极面积的国产npn晶体管在高低剂量率下的辐射损伤特性,分析了发射极尺寸对辐射损伤的影响.研究结果表明,国产npn晶体管具有低剂量率损伤增强效应,且发现当小电流注入下晶体管的辐射损伤会表现得愈加显著.比较三种发射极尺寸的晶体管辐照响应发现,发射极周长面积比P/A越大时晶体管归一化过剩基极电流ΔIB/IB0也越大.详细阐述了npn晶体管辐射损伤机制,从发射极尺寸和晶体管工作电压角度对npn晶体管的加固保证方法进行了探索.
关键词:
发射极面积
国产npn晶体管
剂量率
辐射损伤 相似文献
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在一块印刷电路板上通过将自电效应器件(SEED)与GaAs场效应晶体管(FET)进行互连制作一种简单的场效应晶体管-自电光效应器件(FET-SEED)灵巧像素,这种灵巧像素由一个输入自电光效应器件,一个输出自电光效应器件及一个GaAs场效应晶体管放大器构成,设计了一个光学系统,在这个系统以对这种灵巧像素进行了演示及测试,并对其工作原理及过程进行了描述。 相似文献
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研究了埋氧注氮对部分耗尽SOI PMOSFET顶栅氧的总剂量辐射硬度所造成的影响。注入埋氧的氮剂量分别是8×1015 , 2×1016 和1×1017cm-2。实验结果表明,辐照前,晶体管的阈值电压随氮注入剂量的增加向负方向漂移。在正2V的栅偏压下,经5×105 rad(Si)的总剂量辐照后,同埋氧未注氮的晶体管相比,埋氧注氮剂量为8×1015 cm-2的晶体管呈现出了较小的阈值电压漂移量。然而,当注氮剂量高达2×1016 和 1×1017cm-2时,所测大多数晶体管的顶栅氧却由于5×105 rad(Si)的总剂量辐照而受到了严重损伤。另外,对于顶栅氧严重受损的晶体管,其体-漏结也受到了损伤。所有的实验结果可通过氮注入过程中对顶硅的晶格损伤来解释。 相似文献
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双路离心式喷嘴的实验与数值模拟 总被引:1,自引:0,他引:1
《工程热物理学报》2010,(10)
通过实验与数值模拟方法开展了双路离心式喷嘴的研究。实验测量了喷嘴主、副油路在不同压力下的雾化锥角与流量特性,拍摄了喷嘴在典型工况下的喷雾场照片。数值模拟采用VOF(Volume-of-Fluid)两相流模型来模拟喷嘴内气液两相流流动,较好地模拟出喷嘴内的空气涡与喷雾锥角,所得到喷雾锥角与实验结果吻合较好。通过实验与数值模拟相结合的方法验证了双路离心式喷嘴的雾化性能,从而为双路离心喷嘴的设计和性能预测提供了理论基础。 相似文献