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本文针对如何设计MOSFET半桥驱动线路进行了深入分析,其中对半桥驱动芯片的工作原理、自举电容的计算以及相线振铃和相线负压的产生作了详细分析并给出了相关实验波形。 相似文献
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600伏高压LDMOS的实现 总被引:3,自引:2,他引:1
综合利用RESURF技术、内场限环技术及双层浮空场板技术,充分降低高压LDMOS的表面电场,使用常规低压工艺,最终实现600伏高压LDMOS。本文介绍了此高压LDMOS的设计方法、器件结构、制造工艺和测试结果。 相似文献
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由于直流电机能实现方便的平滑调速且启动性能好的特性,在工业自动化领域中有着广泛的应用。目前,直流电机通常采用H桥电路进行控制,在控制大电流电机的情况下,控制电路的体积大,电路元件多,导致可靠性下降,电路成本也较高。本文提出了一种半桥控制电路,在不降低控制性能的前提下,减少了大功率的电路元件的使用,不但降低了成本,提高了电路的可靠性,而且还具有很好的扩展性。 相似文献
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基于半桥拓扑结构的特点,得出了MOS管驱动电路的基本要求,重点分析了MOS管驱动电路各分电路的设计参数,实验验证了驱动电路的合理性. 相似文献
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高压功率LDMOS的场极板击穿电压分析 总被引:1,自引:0,他引:1
提高 LDMOS的一个关键步骤是加场极板以降低其表面击穿电压。文中分析了加场极板后的 LDMOS击穿电压模式 ,指出了场极板的分压作用和场极板边界的影响 ,得到了其击穿电压的计算公式并用实验验证了公式的正确性 相似文献
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LDMOS器件是目前高压集成(HVIC)及功率集成的重要器件。本文提出了该器件的设计及研制结果。采用标准的DMOS工艺已研制成功耐压180V最大输出电流400mA、V_G=4V时跨导为50mV、最小导通电阻50Ω的器件。阈电压通过离子注入剂量调节在1~4V范围。某些参数达到了国外同类器件的水平。所研制的器件与同材料的VDMOS相比,作为双极型模拟电路兼容的高/低压MOS器件,它具有更好的性能。作者希望通过对该器件的研究,进一步推动国内高压集成的发展。 相似文献
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电气传动控制是现代工业发展过程中的重要成就,通过自动控制技术实现电机或者其他电气设备的运行,能够极大的节省人力成本,并且利用高精度的控制器可以更加精确的实现系统控制,保证设备的安全、高效和稳定运行。一般,在企业发展过程中,工厂中所使用的电气传动控制器大多数为PLC设备,该设备能够适应更加复杂的环境,控制系统鲁棒性更强。但是该系统发展的成本也更高,一般使用在大型生产线的控制中。而随着微处理器技术的发展,单片机技术也变得更加成熟,越来越多的领域可以通过单片机进行控制,并且这种控制系统成本很小,非常适合应用在小范围的电气控制过程中。本文首先对单片机技术在电气传动控制系统中的应用优势进行了分析,同时针对现在控制系统的发展,为单片机在该领域的应用提出了相应的建议。 相似文献
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使用专门设计的LDMOS高压器件,实现了一个具有高压驱动能力(±150 V)和大增益(>80 dB)的CMOS运算放大器。模拟结果显示,N沟道和P沟道LDMOS晶体管的最大击穿电压都超过了320 V,高压隔离超过300 V,从而可以确保其高压放大功能。该运算放大器适用于数字通信,如程控交换机中的高压驱动电路的单片集成。 相似文献
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Jiang Yongheng Luo Xiaorong Li Yanfei Wang Pei Fan Ye Zhou Kun Wang Qi Hu Xiarong Zhang Bo 《半导体学报》2013,34(9):094005-5
A novel CMOS-compatible thin film SOI LDMOS with a novel body contact structure is proposed. It has a Si window and a P-body extended to the substrate through the Si window, thus, the P-body touches the PC region to form the body contact. Compared with the conventional floating body SOI LDMOS(FB SOI LDMOS) structure, the new structure increases the off-state BV by 54%, decreases the specific on resistance by 20%, improves the output characteristics significantly, and suppresses the self-heating effect. Furthermore, the advantages of the low leakage current and low output capacitance of SOI devices do not degrade. 相似文献