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本文对X光电视光学系统的象面能量分布提供了一种测试方法,并分析了影响能量分布均匀性的诸因素,为改进设计和系统调试提供了参考数据。 相似文献
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激光间接驱动内爆靶丸的X光诊断 总被引:4,自引:4,他引:0
报道了神光Ⅱ激光聚变实验中内爆燃料靶丸区电子温度、电子密度以及燃料面密度的X光诊断结果。在电子温度诊断中,采用X射线光谱学方法,根据聚变靶丸燃料区的Ar示踪元素的Ly-β线与He-β线的强度比推断出靶丸燃料区电子温度为(950±100) eV;在电子密度诊断中,利用靶丸燃料区Ar元素的He-β线Stark展宽确定聚变靶丸芯部的电子密度为(0.9±0.2)×1024 cm-3;在燃料区面密度诊断中,利用X光单能照相技术获得了内爆靶丸的燃料面密度为(3.2±0.5) mg/cm2。 相似文献
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报道了神光Ⅱ激光聚变实验中内爆燃料靶丸区电子温度、电子密度以及燃料面密度的X光诊断结果。在电子温度诊断中,采用X射线光谱学方法,根据聚变靶丸燃料区的Ar示踪元素的Ly-β线与He-β线的强度比推断出靶丸燃料区电子温度为(950±100) eV;在电子密度诊断中,利用靶丸燃料区Ar元素的He-β线Stark展宽确定聚变靶丸芯部的电子密度为(0.9±0.2)×1024 cm-3;在燃料区面密度诊断中,利用X光单能照相技术获得了内爆靶丸的燃料面密度为(3.2±0.5) mg/cm2。 相似文献
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在光学信息处理和现代光学实验中,常需要确定系统或某个元件的最佳焦点和象面位置.因此,掌握几种确定焦面和象面位置的实用方法非常必要.下面,将实际工作中常用且非常有效的几种方法介绍如下:一、确定焦面的方法 图1是最典型的光学处理系统.其中S为点光源,L0是准直透镜,L1和L2均为傅里叶变换透镜,P1、P2和P3分别是输入平面、频谱面和输出象面. 在光学信息处理中,许多操作(如制作空间匹配滤波器,进行各种空间滤波和频率编码等)都是在频谱面上进行.因此,需要首先确定频谱面(即L1的后焦面)的准确位置.其方法有: 1.目测法.这是一种最基本最… 相似文献
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磁流变抛光数学模型的建立 总被引:14,自引:1,他引:14
介绍了近年来的一种新兴的光学加工技术———磁流变抛光 (MRF)。以Preston方程为依据建立了这种抛光方法的数学模型。利用该数学模型详细分析了被加工工件表面材料去除率与压力参数P成正比的关系 ,指出了工件表面所受的压力P主要是由流体动压力Pd 和磁化压力Pm 两部分组成的。以用磁流变抛光方法加工凸球面工件为例 ,具体推导出流体动压力Pd 和磁化压力Pm 的数学表达式 ,并通过实验对压力P的数学表达式及抛光模型的合理性进行了验证。 相似文献
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解决了X光片光学标记摄影机由于暗盒厚度差所引起的开盖困难和导致光学成像质量不稳定的问题。采用一种曲条结构 ,降低了暗盒厚度差对拉盖行程的影响 ,同时依靠曲条的导向定位面保证了拉盖头定位的独立性 ,从而解决了双凸轮定位时同步的要求。暗盒厚度差对拉盖行程的影响降低了 1 /cos2 α倍 ,解决了光学系统中可能出现的漏光或遮挡成像的问题。结果表明 ,曲条结构方案简易实用 相似文献
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侧向背光照相能直接反映靶表面扰动幅度的变化情况。在神光Ⅱ装置上,实验利用侧向背光照相技术,对烧蚀面扰动引起的内界面扰动增长进行了观测。实验结果表明,观察到的内界面扰动幅度大于期望值。分析认为,造成内界面较大扰动增长的原因主要是2维效应。X光辐照的主要是烧蚀面的中间部分,烧蚀面扰动引起的内界面的扰动就呈现出一幅从中间的扰动区域逐渐过渡到四周的图像。由此,提出了新的靶优化设计方案,应尽可能减小沿背光方向的样品尺寸。 相似文献
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侧向背光照相能直接反映靶表面扰动幅度的变化情况。在神光Ⅱ装置上,实验利用侧向背光照相技术,对烧蚀面扰动引起的内界面扰动增长进行了观测。实验结果表明,观察到的内界面扰动幅度大于期望值。分析认为,造成内界面较大扰动增长的原因主要是2维效应。X光辐照的主要是烧蚀面的中间部分,烧蚀面扰动引起的内界面的扰动就呈现出一幅从中间的扰动区域逐渐过渡到四周的图像。由此,提出了新的靶优化设计方案,应尽可能减小沿背光方向的样品尺寸。 相似文献