在台式测试仪上准确,廉价,有效地测试数字IC交流参数的方法

在台式系统上用此方法测试数字集成电路的交流参数,时间间隔测量的效果取决于对硬件的正确校准。     

一种数字IC测试系统的设计

给出一种数字集成电路(IC)测试系统的软硬件设计方案.该系统基于自定义总线结构,可测试宽范围电平.     

YB 3113数字IC测试仪的设计

介绍了ＹＢ３１１３数字ＩＣ测试仪的测试原理，硬件结构和软件设计。     

数字无线通信综合测试仪介绍

数字移动通信系统已经在我国迅速发展。由于它具有频谱利用率高、能支持多种通信业务、成本低、体积小、重量轻等优点，必将取代模拟移动通信系统。用于数字移动通信设备研究开发、生产测试和维护的数字无线通信测试仪也必将为人所关注，本文对国外一些仪器生产厂商先后推出的数字无线通信测试仪的主要特点和用途作一介绍。     

DSP在通用数字测试仪中的应用

本测试仪是基于DSP通用数字测试仪，采用DSP的SCI与PC机相连，通过DSP的SPI与8片GM8164串联，这样对外可提供256个双向I／O口与待测电路板连接。PC机发送测试数据给待测电路板并对返回的测试结果数据进行分析判断。来确定电路板是否有故障，从而实现测试功能。     

数字集成电路参数测试仪的设计及实现

本文论述了以AT89C52单片机为核心设计的一种数字集成电路参数的测试仪器。利用单片机的数学运算和控制功能,并通过8279键盘控制来实现测量中的量程自动切换,及各路测试项目的参数显示。实践结果表明,该测试仪器是一种性能实用、操作简单、成本低廉的优秀测试仪器,完全可以满足测试要求。     

模拟集成块（IC）测试仪

大多数集成电路(IC)测试仪只能测试数字集成电路,不能测试模拟或线性集成电路,而少数线性IC测试仪价格昂贵,使普通电子技术人员陷入困境。本文介绍的模拟IC测试仪将提供可靠的方法来测试各种集成电路。尽管这种装置     

数字测试仪下的参数测试单元的设计

随着电子技术的迅速发展,数字集成电路得到了广泛的应用,数字芯片已经渗透到各个生产、生活的领域.与之相对应的,各个领域对数字芯片的性能、稳定性、可靠性也有了更高的要求.数字测试仪作为测试芯片性能最主要的技术正是在这样的环境下迅速发展起来.     

集成电路多值逻辑测试仪

Simi100数字集成电路多值逻辑测试仪是在总结国内外同类产品优点的基础上,本着实用、方便、准确的宗旨向国内外市场推出的新品,是完全智能化的产品。它采用独特的测试技术,融数字集成电路的功能测试和参数测试为一体,无需其它辅助设备即可对数字集成电路进行测试,且易于掌握,为使用者提供了一种极为有效的测试手段。另外可人工干预设置测试参数,并可对未列入手册的数字集成电路编程进行二次开发,从而充分解决了用户对数字集成电路只进行抽测或简单的功能测试已不能保证器件质量、满足使用需求这一实际问题。 Simi100的性价比远远高于其它国内外厂家生产的市场上常见的数字集成电路功能测试仪及一般编程器测试仪。除可测试数字集成电路的功能和各项直流参数外,还能对“OC”、“三态”、“模拟开关”等数字集成电路进行有效测试。目前Simi100测试品种达到几千种,并可根据用户要求进行扩充,经过Simi100测试的器件组装而成的整机,其抗干扰能力大大提高,并且温度适应范围宽,可克服一般常见的软故障(如开机后数小时死机等)。     

电子仪器的新族——在线测试仪

<正> 各种电子设备一般都有一块或数块印刷电路板(PCB),其中任何一块印刷电路板发生故障,都会影响整个设备的正常工作。在维修人员缺乏足够技术资料、不清楚电路工作原理的情况下,用万用表、示波器、逻辑分析仪、仿真器等仪器查找故障元器件十分困难,通常不得不更换整块电路板,支付昂贵的维修费用。在线测试仪可用来解决这一问题。它能在电路板不工作的情况下,直接测试焊在电路板上的元器件,判断其好坏、功能和型号,从而能够方便、快捷地对各种复杂电路板特别是数字电路系统进行元器件一级的检测,     

Simi—100数字集成电路多值逻辑测试仪

Simi-100数字集成电路多值逻辑测试仪，是聚星电子技术研究所通过总结国外同类产品的优点，本着实用、方便、测试精简的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。     

GM8164在通用数字插件测试仪中的应用

介绍使用GM8164来构建通用数字插件测试仪的方法，并给出其工作过程。     

基于自动测试仪的阻抗测试方法

在高速集成电路测试中,阻抗不连续会影响集成电路信号传输的特性。介绍了一种利用自动测试仪实现阻抗测试的方法,首先介绍传输线理论并说明阻抗产生的原理,结合电路仿真确定阻抗测试方案,利用自动测试仪产生阶跃信号,并检测反射信号的波形得到传输线的阻抗特性,从而为集成电路测试提供有效的分析依据。     

数字IC可测性设计和自动测试生成技术

描述了一种自动局部扫描可测性设计方法，该方法在电路内部提供附加逻辑，把时序元件串成一条扫描通路，辅以适当的控制信号，使时序元件和组合元件分离开，从而达到可测试的目的，介绍了一种改进的ＰＯＤＥＭ测试生成算法和一种基于模拟的测试生成方法，该方法能较好处理时序电路的测试生成问题。     

Acterna DSAM2500综合数字测试仪的使用

随着广电HFC双向网业务的不断开展，迫切需要一种能测有线电视电平、反向通道频谱和DOCSIS协仪简单指标的便携式综合测试仪。Acterna DSAM2500测试仪是适合HFC双向网开通调试的便携综合测试仪，使用起来方便快捷。对于一台新到Acterna DSAM2500，它的很多测试参数都是出厂设置。在实际使用中要作调整，下面作一些介绍。     

多功能数字测试仪的设计与实现

为把数字万用表、绝缘电阻表、漏电开关测试仪等三种功能的测量仪器,合并为一种新型手持式测量仪表。采用专用集成电路ES51921和高性能微控制器MSP430F2111及外部扩展电路、液晶显示器（LCD）等组成,将多功能测试仪设计成具有多功能、智能化的特点和显示直观、读数精准、功能完善、耗电省、体积小、易于携带等优点。该多功能测试仪经测试符合相关技术标准。