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1.
质子辐照电荷耦合器件诱导电荷转移效率退化的实验分析
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王祖军
唐本奇
肖志刚
刘敏波
黄绍艳
张勇
《物理学报》
2010,59(6):4136-4142
开展了电荷耦合器件(CCD)质子辐照损伤的实验研究. 分析了质子辐照CCD后电荷转移效率的退化规律,阐述了质子辐照诱导电荷转移效率退化的损伤机理,比较了不同能量质子对电荷转移效率的损伤程度. 通过开展辐射粒子输运理论计算,分析了不同能量质子对电荷转移效率损伤差异的原因.
关键词
: 电荷耦合器件 质子 辐照效应 电荷转移效率
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