便携式能量色散X射线荧光光谱仪在土壤检测中定方法研究

能量色散X荧光光谱仪至今还没有形成统一的国家检定规程.因此,根据仪器的实际检定要求,参考相关仪器的检定规程,对能量色散X荧光光谱仪的检定方法进行了深入的研究和探讨,提出了能量色散X射线荧光光谱仪的检定方法.     

基于能量色散X射线散射方法的液体物质探测与识别研究

固定散射角θ,采用连续波长的X射线对3类纯液体物质（伯醇、苯同系物与氯代甲烷）进行了能量色散X射线散射实验,得到了上述纯液体物质的能量色散X射线散射图谱。结果表明,每种液体物质的能量色散X射线散射图谱的峰形与峰位置彼此不同。伯醇随着碳链长度的增加,散射峰宽变窄,主峰位置向小的散射参数动量转移（q）值方向移动。苯同系物的...     

偏振能量色散X射线荧光光谱法测定炼钢污泥中的化学成分

提出了偏振能量色散X射线荧光光谱法测定炼钢污泥中化学成分的方法,优化了仪器的工作条件。在最佳分析条件下,测定了炼钢污泥样品中TFe、SiO2、MgO、Al2O3、P和CaO的含量,所测定的6种成分的相对标准偏差均小于3%,并对污泥试样进行了测定,其分析结果与用化学法的测定值相一致。采用偏振能量色散X射线荧光光谱法测定炼钢污泥中TFe等成分周期短、准确度高,方法简便、快速,完全能满足生产需求。     

能量色散X荧光分析仪分析钒钛烧结矿中SiO2、CaO和TFe

在烧结矿生产中，SiO2、CaO、TFe的准确含量是烧结成球造粒的最为重要指标，其分析准确与否直接关系到烧结矿的物化性能以及高炉产量。目前，国内外分析行业主要采用波长色散X荧光分析仪，很少使用能量色散X荧光分析仪。本法使用CIT-3000SJ钙硅铁能量色散X荧光分析仪，该仪器分析速度快、准确度高、操作简单、使用方便，能同时分析钒钛烧结矿中的SiQ、CaO、TFe等含量，分析结果完全达到了炼铁厂生产对分析的要求。     

能量色散X-射线荧光光谱法测定硅酸盐中主成分含量

传统的化学分析方法分析硅酸盐类矿物样品组份,操作过程繁琐、分析周期长、劳动强度较大,分析结果受分析人员及各种试剂因素影响较大。采用国产能量色散X-射线荧光分析仪,以Li2B4O7和LiBO2作混合熔剂,NH4NO3为氧化剂,熔融制作玻璃熔片,对硅酸盐中SiO2等10个主要成分含量进行同时分析,建立了能量色散X-射线荧光光谱法测定硅酸盐主成分含量的方法,准确度和精密度均达到了规范要求,得到了较为满意的分析结果。     

能量色散一X荧光能谱法同时测定工业硅中铝钙铁硅

研究了能量色散-X荧光法测定工业硅的方法，提出以硼酸作外壳，粉末直接压片测定，应用于实际测定，速度快、准确度高，与国家标准方法比较，无显著性差异。     

能量色散-X荧光能谱法同时测定工业硅中铝钙铁硅

研究了能量色散 X荧光法测定工业硅的方法 ,提出以硼酸作外壳 ,粉末直接压片测定 ,应用于实际测定 ,速度快、准确度高 ,与国家标准方法比较 ,无显著性差异     

X荧光光谱技术在油品硫分析中的应用

选择校正曲线法定量，在能量色散X荧光光谱仪上建立汽油、柴油和重油中硫分析方法。方法重复性、再现性符合国家标准要求，分析效率高。     

能量色散X射线荧光光谱背景扣除方法的探讨

能量色散X射线荧光分析使得特征X射线的全能峰叠加在背景之上,针对能量色散X射线荧光谱线背景扣除算法的研究,简述了剥峰法和小波变换法扣除背景的原理,并将这两种方法用于对实际谱线的处理,取得了良好的效果.同时对两种方法的算法和处理效果进行了对比研究,表明剥峰法相对简单,而小波变换法需要考虑小波基和分解层次等的影响,但是对整个谱线的综合处理效果相对要好一些.     

纳米管TiO2光催化降解丙烯的研究

制备了纳米管TiO₂并研究了不同pH和不同处理温度对纳米管TiO₂光催化氧化丙烯的影响,采用能量色散分析、荧光光谱和X射线衍射谱等方法对影响因素进行了初步探讨.     

能量色散X荧光光谱法测定碳钢表面的镀铬层厚度

制作了一组表面具有不同厚度镀铬层的４５碳钢标准块,并应用能量色散Ｘ荧光光谱法（ＥＤＸＲＦ）对镀层厚度进行了测度基数据处理中运用Ｎｅｗｔｏｎ迭代法对工作曲线进行了拟合,结果满意。     

基于EDXRF的铁精矿品位、水分在线分析系统的应用

采用基于能量色散X射线荧光（EDXRF）的铁精矿品位、水分在线分析系统在攀钢矿业公司选矿厂对Fe、H2O进行实时分析。结果表明，该分析系统满足对铁精矿中Fe及H2O的分析要求。     

能量色散型X荧光分析仪测定生铁样品

目前 ,国内钢铁企业生铁样品分析大多采用传统的化学分析方法 ,分析速度慢 ,难以满足生产需要 ,部分企业采用进口的波长色散型X荧光分析仪 ,但因其价格昂贵 ,很多企业难以接受。而采用能量色散型X荧光分析仪 (简称EDXRF)测定生铁样品 ,国内还未见报道。本文试验了国产X荧光仪分析生铁样品的方法 ,成功地应用于炼铁化验室生产分析 ,为国内炼铁化验手段的更新换代作了有益的探索。1　试验部分1.1　仪器及性能WISDOM 80 0 0型能量色散X荧光分析仪 (上海精谱仪器有限公司 )分析范围 :同时分析元素周期表中由钠到铀之间的全部元素。高压发…     

精工电子纳米科技X射线荧光分析仪全新上市

精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪（SEA6000VX）于近期全新上市。     

银焊铜合金制品化学抛光的研究

本文通过x-射线光电子能谱(XPS)、x射线能量色散显微分析(EDXM)、x-射线衍射分析(XRD)和透射电镜(TEM),对经混合酸抛光前后的铜/铜合金制品进行了表面分析,发现导致焊缝表面变黑的原因是由于存在Ag_2SO_4、Ag_2O和Ag颗粒。     

K_2FeO_4的合成及对含苯酚水溶液中重金属离子的去除性能（英文）

以次氯酸钙和九水硝酸铁为原料采用湿化学法合成K_2FeO_4,X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、红外吸收光谱(FTIR)、能量色散谱(EDS)的对比分析表明通过二次重结晶纯化可有效去除粗产品中的杂质,获得纯度更高、晶形更完整的K_2FeO_4晶体。同时研究了K_2FeO_4投加量、时间、溶液pH值、温度、初始离子浓度等因素下,K_2FeO_4对含苯酚水溶液中的Cu髤、Cd髤的去除性能,并通过扫描电子显微分析(SEM)、能量色散谱(EDS)、红外吸收光谱(FTIR)等方法研究了K_2FeO_4对溶液中重金属离子的去除机理。实验结果表明:K_2FeO_4可通过一步反应同时去除溶液中的Cu髤、Cd髤以及苯酚,K_2FeO_4主要通过吸附、共沉淀和表面配位的方式去除溶液中的重金属离子。     

第三届北京分析测试学术报告会及展览会仪器评议报告

为了促进国内分析仪器的研制及技术的提高,了解、跟踪国际分析技术及仪器的发展动态,为进口仪器提供咨询服务,经国家科委倡导,中国分析测试协会咨询委员会在第三届BCEIA’89展览会上举办了分析技术及仪器专题性评议活动。此次评议的主要题目是:1、能量色散X射线光谱仪。2、图象分析仪。3傅     

一代碳硅烷树枝状大分子钯配合物的液晶性

合成了新的周边含12个4-硝基偶氮苯端基一代碳硅烷树枝状大分子的钯(II)配合物(G1Pd), 并用元素分析、核磁共振氢谱、碳谱、红外、紫外-可见光谱、能量色散X射线分析(EDXRA)、偏光显微镜、差示扫描量热法和广角X射线衍射法对其结构和液晶性质进行了表征. 配合物G1Pd的相行为是K122ch189I166ch90K. 给出一种具有新的结构特点的液晶性树枝状大分子, 它兼有配位金属和介晶基元. 在液晶和液晶高分子界观察到首例胆甾相的高强向错和首例树枝状大分子配合物的高强向错现象.     

高杂质钼铁中Mo等元素的能量色散X射线分析

对一批高杂质钼铁进行了能量色散X射线(EDX)分析,测出了Mo的质量分数以及所含P、S、V、Ni等杂质元素,并与X射线荧光(XRF)的分析结果做了比较。实验采用大载荷压力机将粉末样品压片,用扫描电子显微镜(SEM)检查样品的表面形貌。实验表明,Mo和Si的分析结果令人满意,而P、S、Cu较差。     

偏振式能量色散X射线荧光光谱仪分析高炉渣

在偏振化能量色散型X射线荧光光谱仪上,使用一个HOPG次级靶,成功地对高炉渣中主要成分进行了分析。总的测量时间为120 s。此方法所得分析结果与标样中有关组分的证书值相符,也与工作标样中组分的已知值(化学法测得)一致。