并行LED驱动电路的多SITE测试方法

并行LED驱动电路的多SITE测试对系统资源和测试速度有较高要求,文章介绍了并行LED驱动电路的工作方式、常见测试参数以及常见参数的测试方法。探讨了在中测阶段进行多SITE测试的方法,对该类电路多SITE测试中的一些难点进行了分析,并提出了一种新的测试方案。该测试方案通过资源复用的方式,采用最新的切换技术,可以有效提高测试准确性,并提高测试效率,降低测试成本。最后介绍了多SITE测试的一些其他要点以及最终的测试结果。     

DFT类IC的多SITE高效测试研究

介绍了多SITE的测试技术,实现了对DFT类电路的SCAN测试。详细讨论了DFT类电路的硬件和软件设计过程及测试难点,针对测试过程中可能会遇到的信号干扰问题给出解决方法并得到良好的效果。多SITE测试大幅度提高了测试效率,减少了测试成本。     

LDO类IC多工位测试方法探索

随着科技的发展,芯片的功能、可靠性和稳定性变得越来越重要,从而使得芯片测试越来越受到重视.低压差线性稳压器(Low Dropout Regulator,LDO)因其成本低廉,应用广泛,市场需求量巨大,该类芯片的测试在硬件测试中的地位不可或缺.而LDO类芯片根据其衬底不同,测试方法也不尽相同.研究不同衬底下LDO类芯片多...     

LED显示屏相关元器件测试

文章主要介绍LED显示屏相关电子元器件的工厂测试内容和测试方法。     

马达驱动IC的测试

本文主要阐述了高集成度多通道BTL马达驱动IC的测试方法.     

LED BLU的驱动IC

新兴的LED背光模组需要驱动IC以实现更好的对比度和清晰度 近几年来,随着新技术的出现,液晶显示器（LCD）和等离子体显示板（PDP）之间激烈的竞争愈演愈烈。伴随着更多的技术选择,这种竞争还导致了相关产品价格的下降。随着市场接近饱合,一场重大变革正在显现,这时许多人称LED背光模组（BLU）将成为显示应用的新一代产品。     

LED积分球测试系统中配置的电源对测试的影响

由于应用场合对于LED照明质量要求更为严格,LED光源出厂前需要进行发光效率、显色性及色温一致性的测试,并提供以数据为基础的测试报表。     

背光及照明用LED驱动IC技术市场分析

从技术和市场经济的角度对LED驱动IC的需求迅速增长作出分析,消费电子用LED驱动器的技术和市场比较成熟,家庭照明用LED驱动器还有技术瓶颈尚待突破。     

低成本多功能厚膜集成电路测试系统

HM 970 7是用于通信设备的厚膜集成接口电路 ,测试项目较多。文章介绍了测试这一厚膜集成接口电路的专用系统 ,该系统具有性能高、成本低、功能多的特点。     

一种LED显示驱动芯片倍频OS-PWM算法

为解决小点间距发光二极管(Light Emitting Diode,LED)显示屏中存在的刷新率较低和低灰显示均匀性差等问题,基于优化打散脉冲调制(Optimize-Scrambled Pulse with Modulation,OS-PWM)算法,采用时钟倍频技术,提出一种倍频OS-PWM算法。基于倍频OS-PWM算法,在不改变总灰度的前提下提高了刷新率,算法复杂度减少一半;对算法进行等级优化,提升了显示均匀性,并在实际样片中得到了验证。     

LED显示屏驱动芯片的应用

介绍了LED显示屏驱动芯片种类及关键参数,并对比了一些LED屏驱动IC的应用方案,总结出各种方案的优缺点,最后对芯片的应用提出了一些建议.     

一种LED驱动芯片内置CMOS振荡器的设计

为了适应全彩LED驱动芯片的需要,采用CSMC 0.5μm标准工艺,设计了一种用于LED驱动芯片的新型CMOS环形振荡器.电路使用正负温度特性补偿、延时迟滞以及时钟同步技术.在电源电压为3～6 V、温度范围为-45℃～100℃,以及不同的工艺角下,利用Cadence平台下的Spectre进行验证,结果表明:在一定的电压、温度范围内,振荡器的输出频率为16 MHz,最大变化范围为±5％;在不同工艺角模型下,振荡器输出频率均在LED驱动芯片的解码允许误差范围之内.该振荡器已成功应用于一款LED驱动芯片.     

专用超大规模集成电路在LED显示系统中的应用

自1976年蒙特利尔奥运会采用了第一块黑白视频显示屏以来，各种大屏幕特别是LED显示屏得到了迅猛发展，在现代信息社会中更是随处可见。在这些显示系统中，应用了大量的不同种类的集成电路作为驱动芯片。本文叙述了运用于LED显示系统中的超大规模集成电路的强大功能。     

小尺寸集成电路CDM测试

本文将探讨小器件CDM测试的难处,并提出一些已经尝试用于使用场致CDM测试方法改善小器件可测试性的构想.     

液晶显示多行扫描驱动芯片设计

多行扫描驱动方式具备低功耗、高对比度、响应速度快、串扰少、制造成本低和宽温度范围等优点 ,可大幅提高无源驱动的显示质量。文中采用 Hadmoard矩阵作为基本正交函数 ,设计了 4行驱动多行扫描芯片的系统结构 ,并采用动态 CMOS逻辑阵列结构设计了列驱动芯片中的关键电路 -码转换模块。结合 UMC0 .6μm工艺模拟验证后的结果显示 ,该模块 5V下的延迟时间为 11ns,最大工作频率可超过 2 0 MHz,功能和参数性能均符合实际设计和应用要求     

IC测试的创新

2009年11月底,本刊编辑参加了Globalpress公司的AsiaPress Tour采访团,采访了从IC设计公司到IC测试公司的整个产业链,现在分IC测试、电源管理等部分介绍。     

LED显示屏可靠性验收试验

本文主要描述如何进行LED显示屏可靠性验收试验。