X射线沿柱腔轴向能量传输实验测量

对X射线在柱腔内的能量传递情况进行实验测量,采用多种实验设备对X射线进行诊断,获得柱腔内软X射线谱、X射线强度及辐射温度的空间分布. 关键词： 柱腔 能量传递 辐射温度     

软X射线绝对光强测量系统及其标定

详细介绍了软X射线绝对光强测量系统的设计和结构及其标定的情况和结果,测量系统包括电离室、监测(或待标定)探测器及其传动系统两部分,可作为50—2000eV软X射线绝对强度测量的一级标准探测器. 并给出了系统的偏差.     

态选择电荷交换实验测量以及对天体物理软X射线发射模型的检验

在高温天体等离子体环境中,低能高电荷态离子与中性原子和分子之间的电荷交换是天体物理环境中软X射线发射的重要机制之一.电荷交换软X射线发射相关的天体物理建模需要大量的主量子数n和角量子数l分辨的态选择俘获截面数据,目前这类数据主要来自于经典或者半经典的原子碰撞理论模型.本文利用反应显微成像谱仪,系统测量了炮弹能量为1.6—20.0 keV/u Ne~(8+)与He的单电子俘获n分辨的态选择俘获截面.将测得的相对态选择截面与多通道Landau-Zener方法以及分子库仑过垒模型计算的结果进行比较,发现理论模型计算结果与实验测量结果在弱反应通道上存在显著差异.进一步结合天体物理中常用的l分布模型,计算了1.6和2.4 keV/u Ne~(8+)与He之间电荷交换中的软X射线发射谱,通过与近期实验测量的X射线谱比较,发现计算的软X射线谱强度明显偏离已有的测量值.这些研究表明,多通道Landau-Zener方法、分子库仑过垒模型以及l分布模型在定量描述电荷交换态选择截面时存在一定的不足,如果将这些理论模型应用于天体物理的X射线背景研究中,可能导致对天体等离子体参数的描述不够准确.     

X射线二极管时间特性研究

研究X射线二极管(XRD)时间特性.XRD 是构成软X射线能谱仪的主要部件，它用于激光等离子体发射软X射线谱测量.实验利用激光聚变研究中心的200TW激光器(激光能量～6J，脉冲宽度～30fs)打金箔靶产生的X射线发射谱,用滤片(Al)-XRD探测系统测量，探测信号由高频电缆(SUJ-50-10)传输和宽带示波器(TDS694C和TDS6604B)记录.实验数据进行了线性拟合和比对分析. 关键词： X射线二极管 时间特性 软X射线能谱仪 数据处理     

错位双光栅色散元件设计及衍射效率研究

设计了一种错位双光栅色散元件,与条纹相机耦合实现了0.1~5keV范围X射线时间分辨谱的测量.该色散元件由2 000lp/mm和5 000lp/mm两块子光栅在空间错位排布而成,低密度光栅测量低能段软X射线(100~1 000eV),高密度光栅测量中能段软X射线(1 000~5 000eV),通过空间错位实现能谱拼接.在同步辐射源上使用单色能点对其进行标定,获得了错位双光栅衍射效率的实验结果.根据光栅的结构特性,结合标定结果与严格耦合波分析理论,计算得到了100~5 000eV能区光栅的绝对衍射效率曲线,并给出了错位双光栅的解谱方法.该错位双光栅能够有效提升透射光栅谱仪的性能,为高温等离子体诊断提供宽谱X射线时间分辨谱定量测量.     

激光加热金双盘靶辐射与再辐射实验研究

在“星光Ⅱ”装置上,采用新型双盘靶研究X射线谱在次级得到改造的特性,并测量出初、次级等离子体碰撞的速度.这种双盘靶一定程度上避免了初级等离子体喷射的影响,可以提高烧蚀次级X射线的干净性.采用两台软X射线谱仪分别对初级和次级辐射的X射线进行测量,采用X射线条纹相机测量双盘靶等离子体喷射的时空扫描图象,并对实验结果进行简单的物理分析 关键词： 双盘靶 X射线再辐射 等离子体碰撞     

原位能量色散X射线荧光分析中岩样基体效应及其修正研究

原位能量色散X射线荧光现场分析岩样矿物成分时,岩样基体效应会对测量结果产生影响。本文以Cu元素作为待测元素,研究了17种不同岩样基体对原位能量色散X射线荧光分析Cu元素特征X射线强度的影响及其修正方法。采用蒙特卡罗方法模拟获得了Cu元素含量相同的17种不同岩样测量谱线,综合各类岩石元素构成的相似性,并依据模拟谱线Cu元素Kα射线强度与谱线参数之间的相关性,反映了原位能量色散X射线荧光分析岩样Cu元素的基体效应并不完全受岩体元素构成或岩石分类的控制,需要依据岩石样分析谱线参数的相关性进行归类讨论。针对基体影响Cu元素特征射线强度相似的15种岩样进一步研究,并对Cu元素特征X射线与谱线主要参数的主成分进行分析,发现散射本底、X光管靶材料特征X射线及其非相干散射峰强度能够很好的描述Cu元素特征X射线强度受岩样基体影响的变化,据此可以对基体效应影响相似的岩体进行Cu元素测量结果修正。采用本文方法同样也能为不同岩性岩体其他待测元素基体效应的修正提供参考。     

北京同步辐射装置软X光束线通量谱的绝对测量与计算

在北京同步辐射装置(BSRF)上用全吸收平行板充氙电离室作一级标准探测器,对硅光电二极管(AXUV—100)的效率在光子能量5—6.5keV进行了标定,建立了二级标准探测器;AXUV—100硅光电二极管在50eV-6keV有很好的线性响应,将其在硬X射线波段已标定的效率曲线外推到软X射线波段,并对BSRF3B1A和4B9B光束线在软X射线波段光子通量谱进行了初步地测量,测量结果与理论计算结果较为符合.在3B1A软X光学实验站,利用二级标准探测器对用于惯性约束聚变(ICF)的软X光探测器的灵敏度进行了标定,并取得了满意的结果.     

溅射气压对X射线多层膜反射率的影响

本文在不同的溅射气压的情况下制备了具有相同结构参量的Mo/Si多层膜,测出了其对应的小角度X衍射曲线,在北京同步辐射实验室测量了多层膜的软X射线反射率.小角X射线衍射谱表明:随着溅射气压升高,多层膜的小角X射线衍射曲线的高次峰的峰高急剧变小,半峰宽变大.反射率测量结果也表明:多层膜的X射线反射率随溅射气压的升高而急剧降低.     

激光核聚变中的一种X光解谱方法

本文在SAND迭代法的基础上,采取带有周期性光滑化的限幅迭代方法,求解激光核聚变中的X光能谱取得了较好的结果。这个方法适用于根据亚千X射线谱仪、多道k边滤波谱仪和多道滤波-荧光谱仪的测量结果回推靶等离子体的X射线能谱。计算结果表明,该方法完全抑制了数值不稳定性,消除了非物理的“负能谱”现象和解谱结果中的数值结构。特别是该方法对初始试探谱有很强的适应性,解谱计算结果与初始试探谱无关。     

高谱分辨X光能谱诊断技术

 采用国内首次研制出的2 000线/mm的自支撑透射光栅配上背照射软X光CCD(charge coupled device)组成了高谱分辨透射光栅谱仪。通过实验标定和理论模型计算相结合得到了高线对透射光栅的绝对衍射效率；同时建立了透射光栅谱仪测谱解谱方法，编制了相应的解谱程序。在“神光”激光装置上利用该谱仪通过激光打靶实验获得了金腔靶注入口发射的X光能谱定量实验结果，实验结果表明，该谱仪测谱范围在高能区达到6 000eV,谱分辨达到0.1nm，能够清晰地分辨金等离子体M带三峰分布X光谱结构。     

基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的标定

X光晶体本征参量的实验标定是准确鉴定X光晶体种类和品质,研制各种类型晶体谱仪,X光线谱定量测量和高分辨X光单能成像的基础.基于X射线衍射仪,通过制作平面晶体样品架,采取控制X射线管电源、滤波片选取和厚度控制等措施,极大地抑制了Cu-KJ3及韧致辐射,使X射线管光源Cu-Kα单能化,提出了用滤片作为光源单能化的判据.对X光线谱测量中常用的X光分光晶体季戊四醇[PET(002)]的晶格常量2d和Cu-Ka能点的积分衍射效率R.进行了标定方法研究,其标定值分别为(0.87425±0.00042)nm和(1.759±0.024)×10-4 Rad.基于X射线衍射仪的X光晶体本征参量的精密实验标定方法既快速高效,且十分方便和灵活.通过更换衍射仪的X射线管靶材,采取类似方法,可以标定其它能点的晶体积分衍射效率,可为X光晶体的本征参量库提供更多的标定数据.     

X射线管激发X荧光光谱连续本底扣除方法研究

X射线管是目前X射线荧光光谱分析中最常采用的激发源,它所产生的原级谱成为了X荧光光谱中本底成分的主要来源,在对这种光谱进行进一步的分析处理之前需要对其本底进行扣除,对本底估计的准确性直接影响后续处理步骤的效果。对射线管激发X荧光光谱的成分进行了分析,针对其本底特点构造了一种本底强度的估计方法,并根据实测谱线构建了理论测试谱线以便对光谱处理算法的效果进行评价。该方法利用测得X射线荧光光谱中不包含特征峰的谱段对X射线管原级谱造成的本底成分进行估计,使用只包含连续本底的谱段对整个测量谱段进行插值,从而避免了谱线特征峰重叠或对半高宽估计不当时所产生的影响。利用构建的测试光谱对SNIP法、傅里叶变换法和本文的本底估计方法的使用效果进行了比较,使用该方法估计的本底与理论本底更加接近。结果表明使用的方法对X射线管激发的X荧光光谱的本底估计准确,可以采用这种方法对连续本底进行扣除,在对实际测得的X射线荧光光谱的本底扣除中取得了较好的应用效果。     

Alternative difference analysis scheme combining R‐space EXAFS fit with global optimization XANES fit for X‐ray transient absorption spectroscopy

Time‐resolved X‐ray absorption spectroscopy (TR‐XAS), based on the laser‐pump/X‐ray‐probe method, is powerful in capturing the change of the geometrical and electronic structure of the absorbing atom upon excitation. TR‐XAS data analysis is generally performed on the laser‐on minus laser‐off difference spectrum. Here, a new analysis scheme is presented for the TR‐XAS difference fitting in both the extended X‐ray absorption fine‐structure (EXAFS) and the X‐ray absorption near‐edge structure (XANES) regions. R‐space EXAFS difference fitting could quickly provide the main quantitative structure change of the first shell. The XANES fitting part introduces a global non‐derivative optimization algorithm and optimizes the local structure change in a flexible way where both the core XAS calculation package and the search method in the fitting shell are changeable. The scheme was applied to the TR‐XAS difference analysis of Fe(phen)₃ spin crossover complex and yielded reliable distance change and excitation population.     

单发实验测量软X射线多层膜反射镜反射特性

 提出了一种单发实验测量软X射线波段多层膜反射镜反射特性的简易方法。实验采用激光等离子体软X射线源作为光源,用平焦场光栅谱仪分光,在光路中引入掠入射镜以消除高级次谱的影响,用软X光CCD记录,在一发激光打靶实验中,测量了设计中心波长为13.9 nm的Mo/Si多层膜反射镜的反射特性。     

类Ne钛X射线激光输出特性实验

 在星光激光装置上, 使用X射线多层膜反射镜、铝滤片及X射线CCD探测器组成高灵敏度空间分辨探测系统, 对用预脉冲技术产生的类Ne钛单线 (J=0-1, 3p-3s跃迁)软X射线激光输出特性进行了测量。由实验得到了类Ne钛X 射线激光束近场与距靶端32mm处(准远场)强度的空间分布, 给出了该激光束在近场强度最大区域的空间尺度(FWHM)约为72μm×31μm, 以及在垂直靶面与平行靶面方向的束发散角分别约为4mrad与9mrad。     

短脉冲强X光泵浦产生光电离三体复合X光激光

 介绍了激光打靶产生短脉冲强X光辐射的方法,给出了打钠靶的数值模拟结果。 数值研究短脉冲强钠X光泵浦氖激光介质的X光激光,通过在氖中加氢的办法降低了电子温 度,有效地提高了激光增益。研究了短脉冲强X光泵浦的高增益光电离三体复合X光激光机 制,提出了在大中型激光器上开展这种X光激光研究的想法。     

Determination of kernel emission spectrum of a mini X‐ray tube for EDXRF applications

Knowing the spectrum near the output of the relatively new mini X‐ray tube (MXRT) commercial models is fundamentally important in energy‐dispersive X‐ray fluorescence scan images, especially in the in vivo applications. This information is relevant for determining the absorbed dose during a measurement and for absolute quantification by a fundamental parameter method. However, it is not possible to measure it directly using a silicon drift detector (SDD) given the high saturation in the counts. In this work, an experimental methodology is developed for determining the kernel spectrum emitted by the MXRT, enabling the quantification of its energy flux density over short distances. Different distances were used: source–detector, solid emission angle (collimation), attenuation characteristics of the medium (air), and in a vacuum, within an energy range of 1–40 keV, to determine the X‐ray tube spectrum. The spectrum is measured by an SDD, taking its efficiency and dead time into account. In order to verify the method, a spectrum that is rebuilt starting with the kernel is compared, under the same conditions, with a reference spectrum that is directly measured in air and with a theoretical spectrum obtained by the Ebel model. The results are consistent and validate the methodology employed in this work. Additionally, low‐energy peaks were detected, corresponding to the tube material's L lines, which are not present in the original spectrum reported by the manufacturer. Copyright © 2015 John Wiley & Sons, Ltd.     

X‐ray tube spectral measurement method for quantitative analysis of X‐ray fluorescence analysis

Lα and Lβ X‐ray fluorescence spectra of a lead metallic sheet were measured using an energy dispersive X‐ray spectrometer by changing the X‐ray tube voltage and the material of the primary filter. The Lα to Lβ intensity ratio changed from Lα: Lβ = 3: 1 at 15 kV to Lα: Lβ = 1: 1 at 50 kV depending on the X‐ray tube voltage and the filter. The scattered X‐ray spectra of an acrylic slab instead of the sample in the sample holder were measured by changing the applied voltage and the material of the primary filter. The calculated values of the Pb Lα/Lβ intensity ratio of the metallic sheet using the Shiraiwa–Fujino formula by inserting the scattered X‐ray spectra of an acrylic plate as incident X‐ray spectra and the fundamental parameters taken from the Elam database were in good agreement with the experimental ones. We conclude that we can obtain an incident X‐ray spectrum approximately by measuring the scattered X‐ray spectrum without measuring the direct incident beam. Copyright © 2010 John Wiley & Sons, Ltd.     

高重复频率激光等离子体软X光脉冲探测

研制了一种高重复频率小型激光等离子体软Ｘ光脉冲探测装置，给出其设计原理和性能参量，采用光谱学诊断方法研究了光源的软Ｘ射线辐射特性，得到了一些新的实验结果