X射线荧光与粒子激发X射线光谱分析

本文是《分析试验室》定期评述“Ｘ射线荧光光谱分析”系列评论第７篇,简述了１９９６年７月至１９９８年６月国内Ｘ射线荧光光谱分析技术发展的概况,从Ｘ射线荧光光谱仪的研制与改造、特殊激发方式的研究与应用、化学计量学与数据处理方法研究、化学态分析、标准物质与样品制备、测定方法研究与应用６个方面评述了国内Ｘ射线荧光与粒子激发Ｘ射线光谱分析进展。共收录国内学者论文及相关文集１４３篇。     

X射线衍射仪

<正>日本理学D/max-1200型X射线衍射仪(XRD)日本理学D/max-1200型X射线衍射仪(XRD)可用于物相分析检测;无机物、有机物的定性及半定量分析;检测滑石粉、矿棉等样品中的石棉;分析检测聚合物、纤维素等样品的结晶度。仪器应用广泛,检测数据准确可靠。主要技术指标:功率:3 kW;管压:20～60 kW;管流:2～80 mA;测角仪精密度:±0.001o(2θ);扫描速度:0.01～100o/min(2θ);扫描范围:1.5～150o(2θ)。     

准晶体结晶学——结晶学的新阶段

1985年8月17日的美国《科学新闻》上刊登了一篇题为“打破结晶学准则”的文章,文章一开头就写道:“结晶学家正在垃圾箱中翻寻,他们正以一种新的眼光考察晶体结构——拭去旧的图象,拯救曾经舍弃了的数据,重新测量晶胞参数……”。为什么结晶学目前陷入如此     

几种X射线衍射仪及X射线荧光光谱仪

X射线衍射仪是研究固体物质结构及性能的重要手段。X射线荧光光谱仪是一种高效能、高灵敏度的元素分析工具。本文根据考察所见及收集到的国外资料对几家主要公司的主要产品作一介绍。     

能量色散X射线光谱分析

本文介绍能量色散X射线荧光光谱分析的基本原理、仪器特征、Si(Li)探测器特性以及它的多种应用等。文中着重对能量色散与波长色散技术的不同特点进行了比较,并讨论了能量色散方法所具有的优点和它的适用范围。     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2002年7月～2004年6月间X射线荧光光谱, 包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用, 内容包括仪器的研制、维护和维修、样品制备技术、 X射线荧光光谱基础研究、谱处理、分析方法研究和应用.     

X射线荧光光谱分析

评述了我国在2000年7月-2002年6月间X射线荧光光谱，包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用，内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。     

X射线荧光光谱分析

本评论收集了1986年7月至1988年6月国内主要分析刊物和会议上发表的373篇文章。评述了在此期间我国X射线荧光光谱分析的概况与进展,内容包括:仪器、数据处理、应用、标准化和标准方法以及分析技术等六个方面。     

X射线荧光光谱分析

本文是“分析试验室”定期评述中“Ｘ射线荧光光谱分析”学科的第五篇评述。它收集了国内学者１９９２年７月到１９９４年６月期间发表在国内外刊物上的１７１篇文章，并对此期间我国Ｘ射线荧光光谱分析的概况和发展进行评述。内容包括ＸＲＦ仪器，同步辐射ＸＲＦ，全反射ＸＲＦ，粒子激发Ｘ线发射光谱，定量分析方法，制样技术，以及在各个科学烽戒严领域中的应用。     

X射线荧光光谱分析

本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用.     

X射线荧光光谱分析

本文是“分析试验室”定期评述中“Ｘ射线荧光光谱法”学科的第六篇评述，它收集了国内学者１９９４年７月到１９９６年６月期间发表的在国内外刊物上的１４９篇文章，并对此期间我国Ｘ射线荧光光谱分析的概况和发展进行评述，内容包括ＸＲＦ仪器，同步辐射ＸＲＦ，全反射ＸＲＦ，粒子激发Ｘ射线发射光谱，定量，定性和化学态分析方法，制样技术，以及在各个科学和工业领域中的应用。     

X射线荧光光谱分析

作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇,本文收集国内学者在1998年7月至2000年6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的129篇论文,并对此期间对我国X射线荧光光谱分析的概况、发展和国际上的地位进行了讲述,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射X射线荧光光谱、同步辐射光源X射线荧光光谱、粒子激发X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。     

X射线荧光光谱分析

本文是《分析试验室》定期评述中“X射线荧光光谱分析”课题的第三篇评述文章。它收集了国内学者在国内外刊物和专业会议上发表的268篇文章(其中在刊物上发表的153篇),时间基本上限于1988年6月至1990年6月。评述了在此期间我国X射线荧光光谱概况及进展。内容有仪器、进口仪器性能扩充、定量分析、定性和半定量分析、XRF在标准物质研制中的应用及状态分析和解谱程序等六个方面。关于应用方面放在定量分析方法的评述中予以论述。     

荧光X射线分析装置

本发明的课题在于提供一种进行氮置换的荧光X射线分析装置，容易更换试样室和照射室之间的隔壁膜，在分析时，试样室的空气不流入照射室。第1支架（21）按照其窗（21a）与试样室（3）和照射室（8）之间的壁部（4）的窗（如）重合的方式气密地安装于壁部（4）上，按照覆盖第1支架的窗（21a）的方式设置隔壁膜（9）。第2支架（23）按照其窗（23a）夹持隔壁膜（9），与第1支架的窗（21a）重合的方式设置。     

X射线荧光分析古钱

在X射线荧光分析中,由于荧光发生于样品的表层,因而样品表面状态对分析结果很重要。一般,在X射线荧光分析中,都要把待测物表面加工为光洁而平整的表面。但对古物的研究,不允许对古物作损伤性处理。因而用X射线荧光分析法测定表面粗糙的古物时的精确     

X射线吸收分析法简介

近十余年来,X射线化学分析法已被广泛采用。利用X射线进行化学分析,有三类不同方法:衍射分析法,发射光谱分析法和吸收分析法。衍射分析法常称物相分析,它是根据晶态物质的X射线衍射花样的特征和衍射线的强度来进行定性与定量分析的。分析结果直接给出样品中所含晶体的种类、数目及其相对含量。非晶态物质沒有一定的衍射花样,故不能用此法分析。发射光谱分析法(包括初级发射光谱法及熒光X光谱分析法)的原理与通常的光学光谱分析法相同,是根据各种元素所固有的特征X射线的波长及强度来进行定性定量分析的,分析结果给出样品中所含元素的种类及含量。上述二法本刊已先后作过介绍,本文之目的是要对吸收分析法的原理、设备及应用作一简要介绍。     

X射线荧光光光谱分析

评述了我国在2007～2008年X射线荧光光谱,包括质子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、基础研究和分析方法研究及其应用.     

国外X射线光谱分析近况

X光谱法如今已成为一种很重要的仪器分析法。近年来文献俱增,应用范围不断扩大。自70年代以来,其进展大致归纳如下几点。首先波长色散X光谱法在仪器分析中占有了一个重要的位置。包括吸收增强效应,粒度效应以及表面结构效应在内的基体影响,大部分可用各种数学校正的办法得到解决。各种间接的分析方法把X光谱法的适用范围几乎扩大到整个周期表。新颖的多道X光谱仪在1～2分钟内可同时测量30个元素,还能对多达60个样品有条不紊地进行自动分析。