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在复杂电磁环境下检验电子信息装备是一个复杂系统问题,综合集成方法是一种分析复杂系统的有效解决方法,它综合了还原论与整体论的优点,逐渐发展成为一个比较成熟的系统工程方法论。在简述综合集成方法基本理论的基础上,对电子信息装备试验检验的普遍问题进行了研究。分析了复杂电磁环境下电子信息装备试验的复杂性,指出了传统还原论方法在分析电子信息装备试验中的局限性和障碍,进一步讨论了综合集成方法在分析电子信息装备试验检验的实施过程,为电子装备试验检验提供了新的有效解决思路。 相似文献
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针对还原论在体系化电子信息装备试验评估中存在的困难,以一体化指挥信息系统这一典型电子信息装备为研究对象,依据“OODA”环基本理论,分析了信息在指挥信息系统中的传递过程,进而得到指挥信息系统OODA控制环路的本质内涵;从复杂系统角度,研究了一体化指挥信息系统的复杂性特点;结合一体化指挥信息系统自身的独特特征,剖析了基于还原论的性能试验方法在体系化电子信息装备试验问题分解时的根本困难;为解决此难题,基于系统论的综合集成方法,从方法论上提出一种用于指挥信息系统试验问题分解的方法,以一体化防空指挥信息系统抗干扰指标体系构建为例说明了该方法在试验问题分解方面的应用过程,表明了该方法在体系化电子信息装备试验评估问题分解中的有效性。 相似文献
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基于复杂系统的基本理论,研究了体系的概念、内涵及典型实例。根据体系对抗及体系对抗试验作为复杂系统的表现和特点,从非线性、涌现性这两个主要方面分析了体系对抗试验的复杂性。剖析了传统性能试验方法的特点,根据这些特点总结得出性能试验方法不能适应体系对抗条件的试验,其根本原因在于性能试验方法所遵循的还原论思想不适用于体系对抗试验的复杂性;接着,着重从方法论方面分析了性能试验方法在体系对抗条件下的不足之处,进而针对这些不足之处得到了应该从复杂系统角度研究适用于体系对抗试验的方法论等结论。 相似文献
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为解决装甲装备体系保障能力生成的关键技术难题,针对现有需求和装备保障体系仿真中心建设的实际情况,以装甲机械化部队为主要研究对象,论文主要研究内容包括:描述了装备保障体系概念,构建了装备保障体系结构框架;总结了适合装备保障体系的建模与仿真方法,采用分层建模、基于多Agent和基于UML的体系建模方法,建立了装备保障体系模型,并对模型进行了仿真;借鉴霍尔三维结构,建立了装备保障体系评估对象维、评估指标维和评估目标维,进行装备保障体系效能评估。通过研究,初步明确了装备保障体系的内涵,明确了适合装备保障体系的建模与仿真方法,具备一定的实用性和可操作性,能够为进一步推进装备保障体制改革、完善综合保障体系、创新保障模式、增强综合保障能力提供有力的理论支撑。 相似文献
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针对当前装甲装备火控系统电路组成与功能特点,对火控系统维修保养过程中的故障诊断方法与测试需求进行了研究,提出了一种火控系统半实物联合仿真方法,介绍了该仿真建模方法的设计思路与实现方法。该方法可充分发挥LabVIEW和Multisim软件的优势,通过半实物联合仿真的方法,以仿真模型代替部分或者全部火控系统部组件,能够很好地实现火控系统不同级别的电路功能模拟、故障复现,快速完成故障诊断分析,解决了当前装甲装备火控系统维修诊断设备通用性差、规范化程度低、开放性差,难以真实的模拟系统级、部件级功能、故障注入和故障检测等问题,为装甲装备火控系统故障诊断与测试设备开发提供了有效平台,为基层部队开展维修训练和维护保障提供了有效途径。 相似文献
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光电对抗装备的分类及其分析 总被引:1,自引:0,他引:1
光电对抗装备现已大量装备各国的陆、海、空三军,成为军事装备现代化的一个重要标志。光电对抗装备具有手段多样的特点,为了加深对光电对抗装备的理解,适当的分类是必须的。主要介绍了光电对抗装备的发展和应用,讨论了已有光电对抗装备的分类方法,并从装备效能评估的角度出发,提出了按功能对光电对抗装备进行分类的方法。 相似文献
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从建模角度探究物理问题编制 总被引:1,自引:1,他引:0
1 建模过程 关于问题编制的经验总结性的文章,笔者拜读过不少,但心中总有一种缺憾--未能以经验为对象加以深化和提升而给青年教师的业务进修给予方法论高度的指导.笔者以2002年普通高校招生全国统一考试理综试题中物理部分(以下简称理综物理)为材料,从物理科学方法论的高度建模的角度探究物理问题编制. 相似文献
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由于嵌入式系统对功能和性能的高要求,对嵌入式软件进行测试存在一定难度。嵌入式系统通过各种不同类型的接口与外界实现交互,故而对嵌入式系统的接口进行测试,是保证嵌入式软件质量的重要途径。以某型模拟对抗终端嵌入式软件为例,根据该型终端的特点,对基于IOTEST实现嵌入式软件测试的自动化进行研究。依照测试需求分析、测试环境搭建、测试建模、变量配置、测试脚本编写、测试执行的测试步骤和方法,通过测试实现过程详细说明了IOTEST在嵌入式软件测试中的应用。测试结果表明,IOTEST能够对嵌入式系统接口的正确性、实时性和可靠性进行有效地测试,该工具在测试过程中具备良好的实用性和通用性。在嵌入式软件的测试过程中合理使用IOTEST,可以有效提高测试效率,保证软件质量。 相似文献
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随着电力电子技术的进步和环境保护对清洁能源的要求,以同步发电机为主的传统电力系统正向着多样化电力电子装备为主的电力系统转变,由此电力系统正面临着百年来未有之大变局.近年来,国内外不断报道出以电力电子装备为主的新能源基地和传统高压直流等机理不明的电力事故,严重威胁了电力系统安全稳定运行.针对上述问题,本文首先介绍传统电力系统暂态稳定分析的主要方法,接着分析了典型故障场景下简单电力电子化电力系统的动力学行为,并建立了同时包含电力电子设备与传统同步机的多机耦合系统模型,最后总结了电力电子化电力系统的非线性、多时标、复杂性的本质特点,归纳其暂态稳定的基本问题与挑战以及对未来研究方向的展望,希望引起复杂系统和统计物理背景的研究人员的广泛兴趣. 相似文献
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Optical performance monitoring (OPM) is essential to guarantee the robust and reliable operation of few-mode fiber (FMF)-based transmission. The available OPM methods including the analytical models such as the enhanced Gaussian noise model provide high accuracy along with high computational complexity which makes them improper for real-time implementations. As an alternative approach, machine learning (ML)-based OPM removes this barrier at the cost of leveraging a large training dataset. However, generating a field or synthetic dataset for FMF-based transmission is very hard and time-consuming. As a specific ML deployment, active learning (AL) is designed to work with a small training dataset, therefore, in this paper, we employ AL for OPM in FMF-based transmission. Results indicate that the proposed AL-based OPM can properly estimate the generalized signal-to-noise ratio by using a very small training dataset and achieve the root mean squared error similar to that obtained by working on large training datasets. 相似文献
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A. G. Madera 《Journal of Engineering Thermophysics》2017,26(1):29-38
Mathematical and computer modeling of thermal processes, applied presently in thermal design of electronic systems, is based on the assumption that the factors determining the thermal processes are completely known and uniquely determined, that is, they are deterministic. Meanwhile, practice shows that the determining factors are of indeterminate interval-stochastic character. Moreover, thermal processes in electronic systems are nonstationary and nonlinearly depend on both the stochastic determining factors and the temperatures of electronics elements and environment. At present, the literature does not present methods of mathematical modeling of nonstationary, stochastic, nonlinear, interval-stochastic thermal processes in electronic systems to model thermal processes, which satisfy all the above-listed requirements to modeling adequacy. The present paper develops a method of mathematical and computer modeling of the nonstationary interval-stochastic nonlinear thermal processes in electronic systems. The method is based on obtaining equations describing the dynamics of time variation of statistical measures (expectations, variances, covariances) of temperature of electronic systemelements with given statistical measures of the initial interval-stochastic determining factors. A practical example of applying the developed approach to a the real electronic system is given. 相似文献
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A. G. Madera 《Journal of Engineering Thermophysics》2017,26(1):17-28
Mathematical and computermodeling of thermal processes, applied presently in thermal design of electronic systems, is based on the assumption that the factors determining the thermal processes are completely known and uniquely determined, that is, they are deterministic.Meanwhile, practice shows that the determining factors are of indeterminate interval-stochastic character. Moreover, thermal processes in electronic systems are stochastic and nonlinearly depend on both the stochastic determining factors and on the temperatures of electronics elements and environment. At present, the literature does not present methods of mathematical modeling of nonstationary, stochastic, nonlinear, interval-stochastic thermal processes in electronic systems to model thermal processes, which satisfy all the above-listed requirements to modeling adequacy. The present paper develops a method of mathematical and computer modeling of the nonstationary intervalstochastic nonlinear thermal processes in electronic systems. The method is based on obtaining equations describing the dynamics of time variation of statistical measures (expectations, variances, covariances) of temperature of electronic system elements with given statistical measures of the initial interval-stochastic determining factors. 相似文献