扩展X射线吸收精细结构的实验方法研究

一、引言扩展Ｘ射线吸收精细结构（ＥＸＡＦＳ）是一种新的结构分析方法［１］．测定ＥＸＡＦＳ要求的实验条件较高,数据处理与分析也较复杂［２,３］．我们利用１２ｋｗ转靶Ｘ射线源在衍射仪样品台上放置平晶作分光晶体,开展了ＥＸＡＦＳ实验方法的研究．对有关的实验技术和数据处理等问题初步作了一些工作．二、实验方法ＥＸＡＦＳ的测定来用透射法,测量经吸收体吸收前、后射线强度Ｉ０与Ｉ随能量的变化．应用Ｒｉｇａｋ?...     

EXAFS研究负载型Ni／SiO2的区域结构

实验结果表明改进的实验室ＥＸＡＦＳ谱仪测试Ｎｉ箔的Ｋ吸收得到的ＥＸＡＦＳ谱与同步辐射上测量Ｎｉ箔得到的ＥＸＡＦＳ谱相近，利用实验室ＥＸＡＦＳ方法也可开展较好的结果测量研究，在ＳｉＯ２粉末载体上Ｎｉ负载量变化的ＥＸＡＦＳ结果表明，随着Ｎｉ负载量的降低，Ｎｉ的径向结构函数主配位峰的位置Ｒ＝０．２２０ｎｍ保持不变，但振幅强度逐渐降低。负载量从Ｎｉ箔到２．５％Ｎｉ／ＳｉＯ２，无序度因子σ由０．００６８ｎｍ     

双探测器EXAFS数据检测采集系统

扩展Ｘ射线吸收谱精细结构（ＥＸＡＦＳ）能有效地提供凝聚态物质中原子的近邻结构信息．一般ＥＸＡＦＳ的振荡幅度很小．测量它的理想光源是强度足够强、频率连续可调、强度恒定的Ｘ射线,通常由同步辐射加速器的白Ｘ光经晶体单色器分光而得．普通Ｘ光机的ｘ射线虽然容易得到,但是除强度较低外,靶及其中的杂质的特征谱线,使得不同能量的光强度有数量级的差别,同时单色器的高次衍射也会使ＥＸＡＦＳ的幅度降低［１］。这就?...     

遗传算法在EXAFS谱图解析中的应用

扩展Ｘ射线吸收精细结构（ＥＸＡＦＳ）谱是研究物质原子近邻结构和表面结构的有力工具。ＥＸＡＦＳ谱的解析通常采用标准样品比较法或最小二乘曲线拟合方法。但前者对标样的要求很高，而后者则参数初值难以确定，且结果有时不唯一。本文提出一种ＥＸＡＦＳ曲线拟合的新方法一遗传算法，并对单配位层Ｃｕ样品的ＥＸＡＦＳ谱图进行了解析，取得满意的结果。     

MSC理论研究固体CS2的实验谱

用近边Ｘ射线吸收精细结构（ＮＥＸＡＦＳ）的多重用射集团（ＭＳＣ）方法对固体ＣＳ２的硫Ｋ－边ＮＥＸＡＦＳ实验谱进行了详细的研究，结果表明：１．确认Ｋ－边ＮＥＸＡＦＳ实验谱的主体结构是双σ键和π２．固体ＣＳ２中间时存在的硫的单键和双键和对应的两种吸收谱；３．π几乎全由双键所贡献，而双σ则分别由单键和双键所贡献；４．ＮＥＸＡＦＳ实验谱是两种吸收谱的叠加。     

用双探测器系统实现实验室EXAFS测量

扩晨Ｘ射线吸收谱（ＦＸＡＦＳ）是用于研究凝聚态物质原子近邻结构的一种有效方法．它既可用于研究晶态物质,又可以用于研究非晶态物质及液体．由于不同元素的吸收边能量不同,所以可通过改变人射Ｘ射线能量,对不同种类原子分别进行测量。取得不同仲类原子各自周围的结构信息,因而这种方法在很多领域中得到应用,取得不少有意义的成果［１,２］．目前国际上大部分ＥＸＡＦＳ研究工作在同步辐射Ｘ射线源上进行,这种光源具?...     

衬底温度对CaS∶TbF_3薄膜电致发光亮度的影响

利用Ｘ射线衍射和扫描电子显微镜对不同衬底温度下电子束蒸发的ＣａＳ∶ＴｂＦ３电致发光薄膜的结晶性和表面形貌进行了研究．通过对薄膜的透射率和漫反射率的测量研究了薄膜的致密性．Ｘ射线衍射表明衬底温度在２２０到５８０℃范围之间，电子束蒸发的ＣａＳ∶ＴｂＦ３电致发光薄膜为多晶立方晶相．随着衬底温度的提高，ＣａＳ∶ＴｂＦ３薄膜的表面形貌发生显著的变化，薄膜的致密性增加，从而增加了电致发光亮度．     

PAN基活性炭纤维的表面及其孔隙结构解析

通过氮吸附等温线、Ｘ射线光电子能谱以及扫描电子显微镜（ＳＥＭ）对聚丙烯腈（ＰＡＮ－Ｐｏｌｙａｃｒｙｌｏｎｉｔｒｉｌｅ）－基活性炭纤维（ＡＣＦ－Ａｃｔｉｖａｔｅｄ Ｃａｒｂｏｎ Ｆｉｂｅｒ）的表面和孔隙结构进行了分析，结果表明吸附测量可以提供有关碳质吸附剂的孔结构复杂性；通过ＸＰＳ对ＰＡＮ基ＡＣＦ的表面官能团的种类及含量进行了表征，由ＳＥＭ对ＰＡＮ基ＡＣＦ的表面以及断面的孔隙结构进行直拉观察，提供了     

可用于光存储和光学信息处理的SrS（Eu,Sm）电子俘获薄膜的研究

报道用电子束蒸发法制备的ＳｒＳ（Ｅｕ，Ｓｍ）电子俘获薄膜的特性，给出了这种薄膜的Ｘ射线衍射图、原子力显微镜（ＡＦＭ）形貌观察结果、光谱及存储的图像照片等。结果表明所制备的电子俘获薄膜具有很好的光学特性，具有应用在光存储和光学信息处理上的能力。     

DEUTERIUM INFLUX PROFILE ALONG THE APEX OF THE UPPER X-POINT TILES IN JET

ＤＥＵＴＥＲＩＵＭＩＮＦＬＵＸＰＲＯＦＩＬＥＡＬＯＮＧＴＨＥＡＰＥＸＯＦＴＨＥＵＰＰＥＲＸ－ＰＯＩＮＴＴＩＬＥＳＩＮＪＥＴ￥Ｙ．Ｋ．Ｚｈｕ（ＳｏｕｔｈｗｅｓｔｅｒｎＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＰｈｙｓｉｃｓ，Ｐ．Ｏ．Ｂｏｘ４３２，Ｃｈｅｎｇｄｕ６１００４１...     

喷雾热解法制备掺Cr的Al2O3薄膜及其抗腐蚀性能

用喷雾热解法制备出厚为２０００Ａ的掺Ｃｒ的Ａｌ２Ｏ３薄膜。ＸＲＤ和ＸＰＳ分析证明其为无定形的Ａｌ２－ｘＣｒｘＯ３（ｘ＝０．０７２），ＳＥＭ和椭圆仪分析结果验证了薄膜的均匀性。该薄膜表现出良好的绝缘性质和抗腐蚀性能。     

稀磁半导体Zn_（1－x）Mn_xSe外延膜的反射和光致发光谱

测量了用热壁外延（ＨＷＥ）生长的不同组分（０≤ｘ≤０．９８）的Ｚｎ１－ｘＭｎｘＳｅ薄膜在温度为３００Ｋ下的反射光谱，用Ｘ射线能借测定样品实际的组分ｘ值，由此获得了其能隙Ｅｇ与组分ｘ的关系：在Ｏ＜Ｘ＜０．２组分范围，Ｅｇ随ｘ的变化显示了反常现象，当Ｘ＞０．２时，能隙Ｅｇ随ｘ线性增大。在室温和低温下测量了样品的光致发光，除观测到Ｍｎ２＋离子内部４Ｔ１→６Ａ１发光峰外，在其低能边观测到一个较宽的发光峰，对结果进行了分析讨论。     

THE EXCESS HEAT EXPERIMENTS ON COLD FUSION IN TITANIUM LATTICE

ＴＨＥ　ＥＸＣＥＳＳ　ＨＥＡＴ　ＥＸＰＥＲＩＭＥＮＴＳ　ＯＮ　ＣＯＬＤ　ＦＵＳＩＯＮ　ＩＮ　ＴＩＴＡＮＩＵＭ　ＬＡＴＴＩＣＥＴＨＥＥＸＣＥＳＳＨＥＡＴＥＸＰＥＲＩＭＥＮＴＳＯＮＣＯＬＤＦＵＳＩＯＮＩＮＴＩＴＡＮＩＵＭＬＡＴＴＩＣＥ￥ＺｈａｎｇＱｉｎｇ...     

扩展X射线吸收精细结构及其应用

利用Ｘ射线吸收现象来进行化学分析,这是早就为人们所熟悉和使用的方法．近十余年来,由于理论上的突破和实验技术的改进,又已证明可以根据Ｘ射线在某种元素原子的吸收限附近吸收系数的精细变化情况,来进行凝聚态物质的结构分析,即分析凝聚态物质中原子的近程排列情况．这就是扩展Ｘ射线吸收精细结构（ＥＸＡＦＳ）．它与一般的Ｘ射线衍射结构分析不同,不是以Ｘ射线的衍射现象作为分析依据．这种方法不但可以分析晶体,也?...     

衬底温度对CaS：TbF3薄膜电致发光亮度的影响

利用Ｘ射线衍射和扫描电子显微镜地不同衬底温度下电子束蒸发的ＣａＳ：ＴｂＦ３电致发光薄膜的结晶性和表面形貌进行了研究，通过对薄膜的透射率和慢反射率的测量研究了薄 致密性，Ｘ射线衍射表明衬底温度在２２０到５８０℃范围之间，电子束蒸发的ＣａＳ：ＴｂＦ３电致发光薄膜为多晶立方晶相，随着衬底温度的提高，ＣａＳ：ＴｂＦ３薄厝的表面形貌发生显著的变化，薄膜的致密性增另，从而增中了电致发光亮度。     

FISHBASE：一个加速器腔设计专用DBMS原型

开发设计了一种用于加速器设计的数据库管理系统原型,即ＦＩＳＨＢＡＳＥ。该系统采用一与目前较流行的通用数据库管理系统ＦＯＸＢＡＳＥ相类似的界面。对于腔内电磁场的计算,则是移植了ＳＵＰＥＲＦＩＳＨ的代码。     

LOW ENERGY TRIPLE DIFFERENTIAL CROSS SECTIONS FOR ELECTRON IMPACT IONIZATION OF HYDROGEN

ＬＯＷＥＮＥＲＧＹＴＲＩＰＬＥＤＩＦＦＥＲＥＮＴＩＡＬＣＲＯＳＳＳＥＣＴＩＯＮＳＦＯＲＥＬＥＣＴＲＯＮＩＭＰＡＣＴＩＯＮＩＺＡＴＩＯＮＯＦＨＹＤＲＯＧＥＮＣｈｅｎＺｈａｎｇｊｉｎａ，ｂＸｕＫｅｚｕｎｂＸｕＦｕｘｉｎａａＤｅｐａｒｔｍｅｎｔｏｆＰｈｙ...     

非晶纳米发光材料(Y,Eu)_2O_3-SiO_2发射光谱的分析研究

ＥＸＡＦＳ测定表明ｓｏｌ－ｇｅｌ方法制备的纳米非晶（Ｙ，Ｅｕ）２Ｏ３－ＳｉＯ２发光材料中，发光中心Ｅｕ３＋的局域环境和晶态Ｘ２型Ｙ２ＳｉＯ５Ｅｕ中Ｅｕ３＋离子的局域环境相似．以此结构为依据，用Ｍ．Ｆ．Ｒｅｉｄ的方案计算了晶场迭加模型中的能级参数及光谱强度参数，并得到了与实验结果基本一致的理论光谱图     

超高能宇宙线广延大气簇射（EAS）观测阵列事例重建的研究

通过认真分析影响ＥＡＳ事例重建精度与速度的种种精细因素，采用适当的算法，设计，编制了具有一定的通用性的ＥＡＳ阵列事件重建程度ＥＡＳＦＩＴ。北京怀柔ＥＡＳ阵列采用ＥＡＳＦＩＴ后，改善了阵列综合测量精度与参数离线重建速度，并得到了该ＥＡＳ阵的一些重要的物理结果。     

新实验技术在材料研究中的应用讲座第九讲 电子能量损失谱原理及应用

一、物理本质把与样品交互作用后的透射电子按能量大小进行计数,这就是电子能量损失谱（ＥＥＬＳ）．ＥＥＬＳ是一次过程,其中的电离损失峰是内壳层电子直接被激发或电离的过程．Ｘ射线能谱是电离后的弛豫过程,是二次过程,取决于Ｘ射线的产额．故从理论上说,ＥＥＬＳ的测量效率应较之Ｘ射线能谱为高．但因为在实际测量中,ＥＥＬＳ受谱仪接受角大小的限制,只能接受一部分非弹性散射的电子,所以实际测量效率相近．二、谱?...