发射率和温度同时测定的辐射测温仪

提出一种新的不依赖发射率变化的辐射测温技术，它利用红外源作为参考光源，求得辐射体的发射系数后，进而实现不依赖于发射率变化的真实温度的测定。     

红外加热器热发射率简易测试

对红外加热器热发射率的标准参比涂料测试法作了简化。仅需对加热器作热辐射功率测量,即可推出其热发射率。并对该测试法作了较详细的误差分析。     

反射及发射率对光纤测温仪精度的影响及抑制

在简要介绍一种利用钽酸锂热释电探测器实现的实用化双波长光纤测温仪的基础上,着重讨论了待测面对背景目标辐射的反射（反射辐射）及待测面的光谱发射率对仪器测温精度的影响,并提出了相应的抑制措施.结果表明,在采取相应的抗干扰措施后,在仪器要求的测温范围400～1360℃内,其测温精度符合设计要求.     

基于热像仪的物体波段发射率的测量

提出了一种新的测量发射率的方法。该方法利用黑体作为已知发射率的参考物体,使用热像仪测量物体的波段发射率。分析了影响波段发射率测量精度的因素,介绍了使用热像仪、黑体测量物体波段发射率的试验装置及测试方法。实际测试待测物体的波段发射率,验证发射率测量结果的准确性,发射率设定为该测定值时,热像仪测量温度与精密测温仪测量温度差值小于0.5℃。     

低发射率材料红外法向发射率谱测量方法的研究

采用热管技术研制了材料发射率谱的专用测量附件;利用双温测量技术,在P-E983型红外分光光度计及3600型数据站上进行了较低温度下低发射率材料红外法向发射率谱测量方法的研究.实测了几种材料的发射率谱;讨论了影响测量误差的诸因素.     

材料表面发射率测量技术研究进展

材料表面发射率是描述物体热辐射特性的重要参数,与辐射传热设计、测温、热像检测和武器隐身等技术密切相关.综述了量热法、能量法和多波长法测量材料表面发射率的研究进展,分析了材料发射率及其测量不确定度的影响因素,介绍了发射率测量标准样品的研制及国际间比对,最后展望了该领域的发展趋势.     

用椭球测量物体的辐射发射率

构思了一种用光学椭球测量物体辐射发射率ε的设想,在理论上给出了ε的表达式。并在套初样中进行了测量。应该强调的是不仅测量方法不同,且给出了物体立体辐射发射率。文章给出了初步实验结果,并对结果进行了分析。     

林地型伪装网热红外发射率取值分析

在晴朗无风的白天及夜间考察了不同发射率伪装网装饰布（热红外发射率从0.63~0.94)与樟树树冠的辐射温差,并参照可见光变形迷彩设计理论分析了林地型伪装网中间色斑块的发射率取值范围。实验表明,传统林地型伪装网在热红外波段不能满足昼夜与林地背景融合的要求。林地型伪装网要满足强日照下热红外伪装的要求,中间色斑块的发射率必须小于0.63;要满足夜间热红外伪装的要求,中间色斑块的发射率不小于0.83。综合采用发射率可变涂料、降低太阳能吸收率、增强网面对流换热等技术手段可改善林地型伪装网与背景的昼夜兼容能力。     

热红外发射率光谱的野外测量方法与土壤热红外发射率特性研究

基于光谱平滑的温度／发射率迭代算法，提出热红外发射率光谱的野外测量与反演方法；分析了不同组分、粒径及含水量土壤的热红外发射率变化规律。结果表明，在8～9．5μm波长范围内土壤的发射率随SiO2含量的增加而降低，随含H2O量的增加而增大；在11～13μm波长范围内土壤的发射率基本保持不变，基于此分析结果，提出利用热红外光谱数据反演土壤含沙量和含水量的方法。     

热象技术的目前状况及发展前景

热象技术正同时在工业,工艺知识上趋于成熟。本文介绍关于热象技术的思考及其专业概况。     

材料发射率与温度数学模型

材料表面的发射率特性与许多因素有关,温度是影响发射率最重要的因素之一,由于测量条件的限制,只能测量有限温度范围内发射率,对其他温度与发射率的关系不能准确得出。通过大量文献的发射率与温度测量数据,利用Matlab软件仿真出发射率与温度曲线。从曲线的走势分析,建立了线性和指数两种数学模型。选用文献提供的测量数据,分别计算出两种模型的未知参量,分别模拟出发射率与温度的曲线,与原始的测量曲线比较分析,发现指数发射率模型适合该材料。分别用两种数学模型对其他文献提供的数据进行模拟仿真,模型与实际测量的相对误差均小于2%,总结了适合两种模型的材料特性。     

高发射率红外涂层的研究

在以SiO_2和Al_2O_3为主要成分的原料中掺过渡金属氧化物,通过高温热处理制备成全发射率达0.93的红外辐射涂料。用X射线衍射及扫描电子显微镜研究了涂层的辐射机理。     

上海技术物理所研制成功IR-2型双波段发射率测量仪

发射率是材料热物性的基本参数之一．近几年来随着红外技术、辐射传热学、辐射测温、太阳能研究、材料科学以及军事目标隐身技术的发展,人们对用于研究材料发射率的测量装置的需求越来越大,对所需发射率测量装置测量精度的要求也越来越高．为了满足这一需求,中国科学院上海技术物理研究所科研人员在其前几年研制的IR-1型发射率测量仪的基础上,最近又研制成功了IR-2型双波段发射率测量仪．     

多光谱辐射测温的理论研究

在多光谱辐射温度计的数据处理中的常假设发射率的对数与波长成线性关系，本文提出卫种自动判别发射率和波长数学模型的新方法，着重分析了应用此方法时各种测量误差对真温及发射率的影响，计算机仿真结果与理想假设值符合得很好，是一种较好的获知真温及发射率的方法。     

提高高温红外辐射涂层发射率的途径

利用Kubelka—Munk的二流理论描述了红外辐射与涂层的相互作用,讨论了红外涂层的发射率与吸收系数及散射系数的关系。提出了提高高温红外辐射涂层发射率的途径。     

简易高温热发射率测试装置的研究

本文提出了一套简易的高温热发射率测试装置及测试方法,并对装置原理进行了理论分析,通过实测数据的比较,表明本装置具有实用价值。     

一种表面发射率的测量方法研究

大型实验设备由于表面温度难以控制而使其表面发射率精确测量较为困难。在分析表面发射率测量误差主要来源的基础上,提出一种表面发射率工程测量方法。分析并推导了到达探测器上的辐射量,利用两发射率已知的设备,实现了环境辐射量的测量,从而消除了环境辐射对表面发射率测量的影响,有效提高了测量精度。设计了实验方法并进行了发射率测量实验,实验结果表明未考虑环境辐射的测量方法与该方法的计算结果相对误差可达20.37%,验证了该测量方法的可行性和准确性。