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铝合金建材的X射线荧光分析 总被引:2,自引:1,他引:1
陈天文 《分析测试技术与仪器》2007,13(2):88-92
用高性能飞利浦PW2424型X射线荧光光谱仪,测定铝合金建材中的Si、Fe、Cu、Mn、Mg、Zn、Ti、Cr、Ni等9个化学元素的含量.给出各元素的干扰校正系数和基体效应校正系数.方法准确、灵敏,稳定性好,速度快. 相似文献
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x-射线荧光光谱法测定重整催化剂中铂、铕、铈 总被引:4,自引:0,他引:4
使用X 射线荧光光谱仪 ,采用人工合成标样 ,粉末直接压片和经验系数校正基体效应的方法 ,建立了重整催化剂中铂、铕、铈含量的测定方法。测定铂、铕、铈的相对标准偏差依次为 :0 .5 9%、0 .72 %、0 .75 %。 相似文献
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X射线荧光光谱法测定铝合金及纯铝中痕量元素 总被引:1,自引:0,他引:1
根据X射线荧光光谱法分析样品形状要求,按照待测物料形状,适合于X射线荧光光谱测量的棒状类样品用车床车割,块、片状类样品用锯、锉刀处理,屑类样品首先用液压机压成片状,再用锉刀处理成适合于X射线荧光光谱分析的待测样品.测试了铝合金和纯铝中铁、硅、铜、镓、镁、锰、锌、钛和铬的含量,对于测量不灵敏的镁,每次测试带全套标样,峰值计量,单独为组测量可保障其准确度.基体单纯、固定的样品,测量痕量元素含量时峰值强度计量优于扣除背景的净强度计量,可避免背景测量误差,测量结果与直读光谱法相符.9项元素的精密度均优于3%. 相似文献
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在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的数学方法之一。我们使用带有不锈钢窗的~(241)Am59.6keVγ射线作为激发源,用Si(Li)半导体探测器和多道脉冲幅度分析器作为实验手段。采用无标样法,即绝对测量法,因而具有更大的广泛性和实用性。实验中,我们除了考虑元素间的二次、三次荧光吸收增强作用外,对样品中元素 相似文献
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以北京钢铁研究院研制的GSB 03-2028系列不锈钢标准物质作为光谱标样,采用基本参数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱测定不锈钢中铬元素的方法.用该方法对标准样品进行分析,分析结果和化学法分析值相吻合,10次制样测量,测定结果的相对标准偏差约为0.14%. 相似文献
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偏振式能量色散X射线荧光光谱仪分析高炉渣 总被引:1,自引:0,他引:1
在偏振化能量色散型X射线荧光光谱仪上,使用一个HOPG次级靶,成功地对高炉渣中主要成分进行了分析。总的测量时间为120 s。此方法所得分析结果与标样中有关组分的证书值相符,也与工作标样中组分的已知值(化学法测得)一致。 相似文献
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X射线荧光光谱法测定超硬铝合金中成分 总被引:3,自引:1,他引:2
叙述了用SRS 300型X射线荧光光谱仪测定超硬铝合金中铜、镁、锌、铁、硅、锰、铬、镍、钛、锆的X射线荧光光谱分析方法。试样用车床加工至表面平整、光滑,采用强度校正模型,由计算机拟合回归曲线。此法测定结果与常规湿法化学法测定结果相符。 相似文献
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应用基本参数(FP)法虚拟合成标样制作了X射线荧光光谱法(XRFS)测定不同类型的镍基高温合金中18种合金元素和4种杂质元素的通用工作曲线。选择了最佳的仪器工作条件和合理的待测元素的分析线系,测定了9种元素受共存元素分析线重叠干扰的校正系数,用瑞利散射线扣除背景及通道材料的影响。在设定虚拟合成标样中各元素的含量,并算得在此设定值下的荧光强度后,用FP法计算各元素在其定值下的最终强度,从而完成了FP法工作曲线。应用此虚拟合成单标工作曲线对多种标准样品进行测定,证明该工作曲线可通用于各种类型的镍基高温合金的分析。 相似文献
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x—射线荧光光谱法测定重型催化剂中铂、铕、铈 总被引:3,自引:0,他引:3
使用x-射线荧光光谱仪,采用人工合成标样,粉末直接压片和经验系数校正基体效应的方法,建立了重整催化剂中铂、铕、铈含量的测定方法。测定铂、铕、铈的相对标准偏差依次为:0.59%、0.72%、0.75%。 相似文献
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X-射线荧光光谱法测定加氢催化剂中钼和钴 总被引:5,自引:0,他引:5
使用X—射线荧光光谱仪,采用人工合成标样,粉末直接压片和经验系数校正基体效应的方法,建立了加氢催化剂中钼、钴含量的测定方法,测定范围MoO3:4.0%~24.0%,CoO为1.0%~8.0%。该方法不仅快速、简便,而且准确度和精密度较好,测定MoO3和CoO的相对标准偏差均小于1%,满足了科研和工业生产的需要。 相似文献