首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 78 毫秒
1.
朱岩  苏德伦  廖守亿  张金生 《红外技术》2009,31(7):377-380,385
提出了一种能够驱动128×128电阻阵列达到200Hz帧频,并且有能力驱动256×256电阻阵列达到100 Hz帧频的驱动控制器设计.针对电阻阵列驱动控制器的高实时性要求,在设计中采用了FPGA、双端口RAM、PC104模块和反射内存网等技术.研究了解决图像数据的高速传输和多路模拟驱动信号的高速产生等电阻阵列驱动控制领域的关键技术问题的方法.PC104、FPGA和反射内存网等技术的应用为将来对更大规模电阻阵列的驱动控制留下了扩展余地.  相似文献   

2.
动态红外图像转换技术是建立红外成像制导系统集成与性能评定试验系统的关键技术,电阻阵列技术是动态红外图像转换技术的主要发展方向.介绍了红外成像制导系统实验室测试评估系统工作原理,并详细阐述了美国林肯实验室在该项技术的发展现状.  相似文献   

3.
过钻具阵列感应仪器是一种在过钻具施工工艺中测量地层电导率的阵列感应测井仪器.过钻具阵列感应测井仪器采用泵出工艺,使用电池供电,因此对仪器功耗要求更高.传统感应采用线性功放,效率低,交越失真大.本文利用D类功率放大器工作于开关状态的特点,实际功耗小,效率高,实现低功耗过钻具阵列感应测井仪发射电路.该电路采用DDS技术合成...  相似文献   

4.
国产电阻阵列技术的发展趋势   总被引:6,自引:2,他引:6  
回顾和总结了国产电阻阵列3个发展阶段的主要技术方案、优缺点和最终结果.第一代64×64电阻阵列采用了体材料微机械加工的单晶硅薄膜微型电阻,成品率较高但与CMOS工艺不兼容、均匀性差、功耗大、占空比极低、规模小;第二代128×128和256×256电阻阵列采用了体材料微机械加工的复合薄膜微型电阻,基本解决了工艺兼容性、均...  相似文献   

5.
夏晓娟 《半导体光电》2012,33(5):731-734
像素单元电路是读出电路的核心单元电路,其性能直接关系到整个焦平面成像的性能。文章从电路结构设计、注入效率的分析、电荷存储能力的分析、非线性的优化设计对直接注入型像素单元电路进行了研究。通过仿真,主要分析了像素单元电路中器件参数对注入效率的影响,以及积分电容对读出电路的电荷存储能力及非线性的影响。基于研究结果设计的读出电路采用了CSMC 0.5μm工艺进行流片验证,实测结果表明,电路具有较好的特性,芯片已成功应用于国内某研究所致冷型探测器组件中。  相似文献   

6.
红外武器系统的快速发展, 对红外仿真系统提出了更高的要求。微桥电阻阵列作为红外仿真系统的核心器件, 其性能的提高对红外仿真系统的发展至关重要。微桥电阻是利用电阻加热微辐射元来产生红外辐射的, 根据微桥电阻的工作原理可知, 提高微桥电阻阵列单元辐射效率是微桥电阻性能提高的关键技术之一。利用以Al 为反射层电阻、空气为中间介质层和TiNx 为吸收层电阻组成的谐振腔结构可以明显提高所需波段的红外辐射效率, 从而提高微桥电阻的性能。共振吸收结构为微桥电阻阵列的进一步低功耗、大面阵化提供了有效的设计和制作途径。  相似文献   

7.
红外武器系统的快速发展,对红外仿真系统提出了更高的要求。微桥电阻阵列作为红外仿真系统的核心器件,其性能的提高对红外仿真系统的发展至关重要。微桥电阻是利用电阻加热微辐射元来产生红外辐射的,根据微桥电阻的工作原理可知,提高微桥电阻阵列单元辐射效率是微桥电阻性能提高的关键技术之一。利用以Al为反射层电阻、空气为中间介质层和TiNx为吸收层电阻组成的谐振腔结构可以明显提高所需波段的红外辐射效率.从而提高微桥电阻的性能。共振吸收结构为微桥电阻阵列的进一步低功耗、大面阵化提供了有效的设计和制作途径。  相似文献   

8.
介绍有关LCD显示器驱动技术的最新进展。  相似文献   

9.
TFT—LCD的过驱动技术及其发展   总被引:2,自引:0,他引:2  
阐述了LCD响应时间的定义,介绍了衡量LCD响应速度的两种方法:传统的开关(ON/OFF)响应时间和Gray To Gray(GTG)响应时间。并且介绍了提高响应速度的方法之一———过驱动技术的原理以及该技术的发展,如倍频技术(DFR)、倍频 插黑技术、倍频 运动补偿技术、倍频 扫描背光源技术。  相似文献   

10.
硅基有机发光微显示像素驱动电路设计   总被引:1,自引:1,他引:0  
由于微型显示像素面积的限制,硅基有机发光微显示像素驱动电路需要实现足够小的驱动电流.文章提出的三管电压控制型像素驱动电路与常规的采用电流镜电路的电流控制型像素驱动电路都能实现微显示所需的小电流驱动.利用Synopsys公司的H-spice软件对两种电路仿真比较,发现电流控制型电路具有线性灰度和较宽的有效灰度范围,但是通过调整电压控制型电路中与OLED并联的晶体管的宽长比,即可使其有效灰度范围与电流控制型电路可比.同时也发现电流控制型电路的功耗是电压控制型电路的4倍以上,且电路形式较复杂,工艺要求较高.所以三管电压控制型电路更适合于硅基有机发光微显示驱动电路.  相似文献   

11.
刘凡  肖树臣  陈秀健  陈萃 《红外》2011,32(9):10-14
对MOS电阻阵列非均匀性产生的原因进行了深入分析,并提出了一种可明显提高红外图像生成质量的新的电阻阵列非均匀性校正方法.通过离线测试得到整个电阻阵列的电压-温度数据和待校正单元的电压-温度数据.以这些原始数据作为神经网络的输入,建立电阻阵列中每个单元的校正前输入和期望输入之间的函数关系,生成查找表,从而解决MOS电阻阵...  相似文献   

12.
陈世军  马斌 《激光与红外》2008,38(7):668-670
介绍了动态红外场景模拟的电阻阵列单元电路结构,分析了地Vss压降对输出电流的影响。比较了两种不同金属布线的地电位压降,并用Spice软件进行了仿真,对128×128网格状金属布线结构的电阻阵列器件进行了测试,实际验证了仿真结果的可靠性。  相似文献   

13.
MOS电阻阵列非均匀性校正技术研究   总被引:1,自引:3,他引:1  
电阻阵列是动态红外景像产生器的主要发展方向,作为红外景像生成系统中的关键器件,其成像质量的好坏直接影响到整个红外景像生成系统的性能.多种原因导致电阻阵列具有一定的非均匀性,因此在使用之前必须对其进行非均匀性校正.对电阻阵列非均匀校正技术进行了研究,发现国外常用的数据测量方法对红外测量设备的性能以及实验环境的要求很高,而目前国内红外测量设备的性能很难满足要求.因此,结合国内实际情况和现有实验条件,对国外常用的数据测量方法做了改进,提出了更适合在现有实验条件下应用的数据测量方法,并介绍了一种简便的数据处理方法.仿真结果表明,采用改进后的数据测量方法可以获得比较令人满意的非均匀性校正效果.  相似文献   

14.
电阻阵列非均匀性校正算法实时性研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
非均匀性是电阻阵列输出图像固定噪声的主要来源,非均匀性校正是电阻阵列应用于半实物仿真中图像实时生成的一个不可缺少的环节.通过对校正算法的分析,设计算法实时性测试系统,并对校正在线算法进行改进,满足200Hz的帧频要求.在两种硬件平台方案下对算法的实时性进行测试,测试结果说明:非均匀性校正算法是影响动态红外图像生成实时性的一个重要因素,采用专用的硬件计算设备是提高整个系统实时性的必然选择.  相似文献   

15.
非制冷氧化钒红外焦平面像元光学设计旨在提高像元对红外辐射的吸收性能。由于非制冷红外探测器的工作波段通常在8~14?m 范围内,要求像元在这个波段内具有较高的红外吸收率。采用光学导纳理论,进行像元微桥结构多层光学膜系优化设计。在器件工艺过程中,调节了桥面膜厚和高度,使桥面与Si衬底上金属反射层之间形成一个谐振腔结构。通过红外傅里叶反射光谱和相对光谱响应测试分析验证表明:像元微桥结构光学设计后,增强了非制冷探测器微桥结构像元在8~14?m波段的红外吸收率和相对光谱响应。  相似文献   

16.
杨超军  黄勇  郑可旺 《红外技术》2014,36(6):491-495
针对基于电阻阵拼接的红外场景方法进行研究,先利用边缘融合进行图像拼接处理,得到一幅在重合部分存在亮度偏大的图像。对重叠部分每个像素的亮度进行加权处理,在此基础上进行各像素点的亮度叠加。使重合部分的像素点的亮度能够与非重叠部分较好融合过渡。电阻阵列的非均匀性问题也会使得拼接效果大打折扣,利用分段线性化的方法进行灰度非均匀性处理,得到最终的拼接效果图。经仿真验证,该方法简单快速,有效地校正了图像灰度非均匀性,并且能在保持图像清晰度的前提下,消除拼接缝,提高拼接图像的质量。  相似文献   

17.
讨论了有机薄膜晶体管(Organic Thin Film Transistor,OTFT)作为开关器件来驱动电子纸的像素设计,特别是像素电路结构、HSPICE模拟用模型参数和像素平面结构。讨论了有机薄膜晶体管制造过程,并用HSPIC模拟分析了有机薄膜晶体管结构和存贮电容大小对像素波形的影响,结果表明TFT结构的选择依赖于存贮电容的大小。  相似文献   

18.
针对LED驱动电路中采样电阻短路时输出电流持续上升的问题,提出了一种新型的采样电阻短路保护电路。该电路应用于源极驱动模式的LED驱动电路中,在采样电阻短路时能及时关断芯片,有效防止了功率管因电流过大而损坏。与传统采样电阻短路保护电路相比,该新型电路结构简单,并且在提高精度的同时降低了功耗。通过仿真,验证了方案的可行性与优越性。  相似文献   

19.
由材料、工艺等因素引起的盲元是衡量红外探测器光电性能的重要指标之一。以某线列扫描型碲镉汞红外探测器为研究对象,采用多种盲元检测方法分析了该探测器的盲元类型,并将分析结果作为精准确定盲元数量及位置的依据。通过对发现的盲元进行替换,得到了质量较好的图像。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号