数字集成电路讲座(6)

<正> 计数器从本质上讲是一种记忆装置,它能记住有多少个时钟脉冲输入,并由输出端的不同状态来表示。计数器不仅仅用来记录输入脉冲的个数,还大量用于分频、程序控制和逻辑控制等。计数器属时序电路。     

俄罗斯集成电路可靠性评价技术特点

集成电路可靠性是一种重要的质量评价指标。对俄罗斯集成电路可靠性评价技术的特点进行了介绍,此技术包括物理一统计的研究方法和计算机辅助的集成电路可靠性评价软件两个方面。     

集成电路版图(layout)设计方法与实例

首先在理论上介绍了集成电路版图设计方法的详细步骤以及设计规则的特点。并结合一个运算放大器的版图设计实例详细讲解了集成电路版图设计的基本步骤技巧与准则。     

数字集成电路讲座(3)

<正> 第三讲 门电路应用举例 从本讲开始,陆续介绍门电路的应用实例,其中有些电路读者可以利用本刊读者服务部供应的套件进行验证式试验,待熟悉之后便可以自行设计一些小电路,坚持下去,定有收获。实例中的电阻、电容及扬声器,不在所供应的套件之列,请读者另外置备。     

数字集成电路讲座(5)

<正> 第三讲 触发器(下) 二、触发器应用举例 1.密码锁电路 密码锁电路见图12。电路主体是一片CD4043。由CD40434的真值表可知,当R=0、S=1时,Q=1。所以,在图12中,开关S5～SN中任一个被按下时,都会使Q1=Q2=Q3=Q4=1,LED熄灭,代表密码锁锁上。仅当顺序按压S1、S2、S3、S4时,Q4才输出为0,LED点亮,代表密码锁打开。这里,S1～S4是开锁键,S5～SN是复位键。S5～SN可多设置几个,以起迷惑作用。     

数字集成电路讲座(9)

<正> 第六讲 计数器编译码器 应用举例(上) 1.1 位计数显示电路 1位计数显示电路如图1所示。CD4518的计数结果由CD4511译码后显示,可以多级级联,但要注意显示数字的高位与低位,应将高位安排在左边。7个820Ω电阻是LED数码管的限流电阻,实用中可根据电源电压V_(DD)的高低适当进行调整。     

数字集成电路讲座(7)

<正> 第四讲 计数器(下) 7.可预置数的可逆计数器(双时钟)CD40192/40193 CD40192是可预置数的二十进制可逆计数器(双时钟)。图15是其引脚排列,表8是其真值表,图16是其波形图。CD40192作加计数时,CPD端为高电平,时钟脉冲由CPU端输入,在上升沿的作用下计数器作增量计数。作减计数时,CPU端为高电平,时钟脉冲由CPD端输入,在上升沿的作用下计数器作减量计数。预置数时,只要在预置控制端PE和Cr端上加一低电平或负脉冲,即可将接在D1～D4上的预置数传送到各计数单元的输出端Q1～Q4。然后,PE端恢复成高电平时,     

集成电路锁定效应和试验方法标准研究

针对CMOS集成电路的锁定效应,论述集成电路锁定效应的产生机制和失效机理,对目前国际上各大标准化组织发布实施的锁定试验方法标准进行对比分析,详细阐述JEDEC的JESD 78号标准的技术内容,包括试验分类、试验程序、试验方法、DUT偏置条件、脉冲触发条件、失效判据和抽样要求。     

2000年的集成电路测试

在1965年戈登·摩尔发表举世闻名的“摩尔定律”,预测集成电路的晶体管数目每隔18个月增加一倍。三十五年来,集成电路历经小规模、中规模、大规模、超大规模至特大规模的发展,证明该定律的正确性,而且在二十一年纪的头十年该定律仍然有效。可以预期,2000年将开发成集成度达1亿个晶体管的微处理器,2010年集成度达到10亿个晶体管的微处理器。集成电路的集成度越高,芯片的成本也越高,电路设计和生产过程中任何疏漏,都影响最终成品率。质量的保证由每个环节的测试仪器把关,芯片封装前后的测试更为重要。进入新千年之际,集成电路测试业面临有三个值得注意的问题,它们是: 1.速度与精度;     

散热风扇控制器集成电路(上)

<正> 在电子仪器、设备中,用散热风扇对发热的功率器件或模块进行冷却、散热已沿用了几十年了,但采用集成电路或专用集成电路对风扇实现控制还是近年来的事。随着半导体工业技术及电子产品的发展,特别是计算机技术的突飞猛进,促使散热风扇控制器IC迅速发展,从简单的模拟集成电路发展到数字电路,从开关控制发展到根据器件的发热温度来控制风扇的转速,实现PWM控制,从开环控制发展到闭环控制,从控制单台风扇到实现多台风扇的控制,形成所谓“热管理”或“系统热管理”。它既使功率器件或模块安全、可靠地工作,又减小了噪声、降低了能耗、延长了风扇的寿命。这一点对笔记本电脑来说是十分重要的。     

A sample-and-hold current measurement integrated circuit for neural recording

This paper describes a new differential sample-and-hold technique of current measurement for neural probing. The design utilizes bottom plate sampling (BPS) and T-transmission switches to mitigate signal coupling and a differential sample-and-hold technique to reduce charge injection and clock feed through. The circuit was fabricated in a 0.35?µm CMOS process and tested using different input loads to model the electrochemical properties of the microelectrode. Test results matched closely with the simulation results, proving that the concept of the sample-and-hold current measurement circuit is valid for neural probing.     

A wideband integrated circuit amplifier for fixed-gain application

Circuits which achieve precise gains without the use of negative feedback are of interest because of their simplicity and potential for achieving large bandwidths. A circuit architecture based upon precision current mirrors for producing fixed gains without the use of feedback has been reported in the literature and implemented on a BiCMOS process [1]. This paper provides further analysis of this approach and applies it to a new bipolar amplifier, intended for such applications as real-time active filter synthesis.     

THS4271集成电路实验特性及其应用

以TI公司生产的集成运放THS4271为基础搭建实验测试电路,在定义的条件下实验,分别测量了运放的输入失调电压UIO,输入失调电流IIO,共模抑制比CMRR,开环差模放大倍数AUd等主要参数。同时对测量的数据对应的相应的参数进行了简单分析。基于THS4271的单位增益稳定,低失真,高压摆率等特性,举出几个应用实例,来说明其在某些工程领域有一定的应用价值,供今后的使用者参考。     

微电子科学技术和集成电路产业

集成电路产业不仅是我国经济发展的基础性产业之一,也是一项具有战略性意义的产业,是一个国家综合国力与科技实力的代表.因此,大力创新微电子科学技术,发展集成电路产业就成为了我国目前最为重要任务之一.本文从我国微电子科学技术与集成电路产业的现状开始,对二者进行了系统的分析,并对发展的建议与方法展开了讨论.     

Taurus Workbench虚拟IC芯片加工系统

介绍了被业界称之为“虚拟集成电路芯片加工厂”的TCAD集成化仿真系统Taurus Workbench（TWB)及其优化机制。     

集成电路专业项目式实验教学改革与实践

构建互融互通的实习实践课程平台并基于此开展项目式教学对培养具有创新精神和实践能力的卓越人才有着十分重要的作用。论文对集成电路专业综合实验进行了顶层设计,以集成电路工程实践课程为例,阐述了实验教学改革情况和课程思政同项目驱动式教学方法的融合,进而提出了应有的政策保障措施。为新形势下高校面向国家战略需求,利用项目式教学方法培养卓越人才提供参考。     

基于液态膜的集成电路电光检测技术

利用液态膜作为电场探测的电光材料。液态膜的探测电压灵敏度比Ga舡材料高2个数量级。其原理是,基于液态极性分子的取向极化,液态膜的折射率受电场调制,从而实现电光测量。实验结果表明,在调制电场1kHz频率下测量液态膜电光系数达到95pm／V。利用液态膜对集成电路进行检测具有简单、高效的特点,很好地完成了低频场探测中弱信号的...     

METHOD OF PARAMETER STATISTICAL ANALYSIS FOR BIPOLAR INTEGRATED CIRCUIT DESIGN

The method and procedure of realizing parameter statistical correlation analysis ofbipolar analog IC's are given,and the statistical model of parameter are constructed with doubleparameters(B_F,R_S).Based on the comparison and analysis of the circuit characteristics,it isshown that the method can be used for analysis and design of bipolar IC's.     

Thin film pdin compound for integrated circuit metallization

Thin films of Pdln may prove effective as conducting elements for Integrated circuits. They possess good adhesion to silicon and SiO₂, exhibit high wear and corrosion resistance, form non-rectlfying contacts to n- and p-type silicon, andare easily wet by soft solders.     

消除CMOS读出电路噪声方法研究

对红外焦平面阵列CMOS读出电路中几种常见的噪声及其抑制技术进行了分析和讨论,重点研究了消除读出电路噪声的新方法——双复位法。该方法克服了以往相关双取样的缺点,没有增加电路功耗和硅集成电路的复杂程度,只要电容参数选择合理,理论上能完全消除KTC噪声,而且对1／f噪声也起到抑制作用。