全反射X射线技术应用于镀锌板锌层测量的模拟研究

分析了传统的X射线荧光镀锌板锌层测量法,提出了基于全反射X射线荧光分析技术的镀锌板锌层测量方法,并在MCNP中建立X射线全反射模型进行模拟仿真。X射线全反射发生时锌层将原级X射线几乎反射,并在镀锌板法向方向伴随产生少量X射线荧光。针对此特征X射线荧光直接进行分析有效地减少了X射线源的散射本底,提高了测量精度,并且降低了所需源X射线的能量。模拟结果验证了镀锌板上发生X射线全反射的可行性,为实际应用提供了理论依据。     

掠出射X射线荧光分析

掠出射X射线荧光分析技术是全反射X射线荧光分析技术的延伸和发展，文章介绍了掠出射X射线荧光分析技术的形式，特点，基本原理和作者在实验室搭建的实验装置，简述了掠出射X射线荧光分析技术的发展史，以及该技术在化学元素微量和痕量分析及薄膜特性分析等领域中的应用，展望了这种技术今后的发展前景。     

全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术

全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期开始出现商品。     

同步辐射X射线荧光光谱国内外研究进展

同步辐射光源是带电粒子在加速器储存环中以接近光速的速度运动时,沿轨道切线方向发射出的辐射,同步辐射X射线荧光分析(SR-XRF)是以同步辐射X射线作为激发光源的X荧光光谱分析技术.同步辐射X射线荧光分析包括了用于微区及微量元素分析的同步辐射XRF、用于表面及薄膜分析的同步辐射全反射X射线荧光(SR-TXRF)以及用于三...     

原子荧光法测定人发中微量元素硒

前言微量元素与人体健康、疾病及寿命等方面的关系目前已是人们非常关心的一个问题。研究这类问题必不可少的手段之一,就是运用分析化学方法分析在人体组织、环境、食品等物质中微量元素的含量。测定人发中硒的方法很多,有中子活化分析法、荧光X射线分析法、原子吸收分析法、催化极谱法、荧光光度法等。由于中子活化分析法,荧光X射线分析法设备价格较贵,难于普及。发中硒含量很低,用原子吸收法测定时需用石墨炉,催化极谱法及荧光光度法等手续也比较繁琐。本试验研究了原子荧光法测定人发中微量元素硒,试验结果表明,该方法测定人发中元素硒简易、快速,灵敏度、精密度都能满足人发测定要求。     

硅中掺杂元素砷的三维微分析

利用同步辐射Ｘ光微区分析和全反射Ｘ射线荧光分析技术测定了硅中掺杂元素砷浓度的三维分布，其中深度剖面分布的测定结果与二次离子质谱进行了对照，两的一致性是比较满意的。     

悬浮液进样-全反射X射线荧光光谱法测定食品中的多无机元素

对于食品中多无机元素的检测控制急需一种样品前处理简单快速、检出范围广的分析方法,因此通过考察不同分散剂、颗粒粒径大小、悬浊液中样品质量浓度以及内标元素对全反射X射线荧光光谱法测试结果的影响,建立了快速、便捷的悬浮液进样-全反射X射线荧光光谱法测定食品中多无机元素的方法。实验结果表明:去离子水(Milli-Q water),聚乙二醇辛基苯基醚(Triton X-100)和硝酸三种不同分散剂中,光学显微镜下形貌上Milli-Q water和Triton X-100作分散剂较HNO_3样品分散更均匀, Milli-Q water作分散剂其测量结果较Triton X-100更准确;试样经研磨,并用激光衍射粒度分析仪测定试样研磨前后的颗粒粒径大小,发现平均颗粒粒径小的样品全反射X射线荧光光谱法测试结果准确度更高;称取不同量样品于相同量分散剂中,看出随着悬浮液中样品质量浓度增加,回收率会增大或降低;实验中分别应用Ga或Se为内标元素定量分析GBW08571贻贝样品,但是由于所测元素As和Se是相邻元素,引起谱线重叠,进而Se为内标元素会影响As元素定量分析的准确度,因此为避免内标元素对测量元素产生谱线干扰,实验中选择Ga为内标元素。用该方法测定了四个有证标准物质(食品类),四个标准物质中无机元素的测量值和标准值比较,大多元素(除Ca元素)回收率集中在80%～120%间, RSD小于15%,且对于不同含量范围的元素,用该方法测定均能获得可靠的测试结果,相对于需消解的电感耦合等离子体原子发射光谱法和质谱法的方法,用悬浮液制样-全反射X射线荧光分析测定食品中的多元素更快速、便捷。     

荧光探针辅助研究硒(Ⅲ)、土霉素与DNA的相互作用

采用偶氮胭脂红(G)荧光探针作为辅助手段,利用紫外-可见及荧光光谱技术分别测定了土霉素、硒(Se2+)与DNA的相互作用的光谱,得到了土霉素-硒离子与DNA的作用方式为嵌插作用,土霉素-硒离子与DNA的相互作用的固有结合常数K为1.03×104L/mol。     

低含量多元素物质的快速全反射X荧光分析①

本文介绍了用全反射X荧光分析仪对样品量很少、元素含量很低、多元素溶液的分析，测定了从含量最多的Na(243μg/mL)到含量最少的Cu(0.06μg/mL)的12种元素，同时也介绍了用累加法的多次快速测量以及逐差法处理数据以减少测量误差。     

便携式全反射X荧光同时测定清洁水体中多种元素

应用便携式全反射X射线荧光分析仪,以Sc作内标,同时测定清洁水体中的Cu、Zn、Cr、Fe、Mn、Co、Ni,在X射线管电压30kV,管电流200μA,测定时间100s的条件下,运用点滴支持工具,方法检出限为3.1-5.1μg/L.地表水水样分析结果与ICP-Ms法相符,精密度较好,加标回收率在95％-123％之间.     

Total reflection X-ray fluorescence spectrometry for quantitative surface and layer analysis

Measurements of X-ray fluorescence spectra versus grazing incident angles provide information on elemental composition as well as density and thickness of near surface layers. Calculations of fluorescence intensities are presented, which are used for the evaluation of data obtained by total reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectrometry. The calculation is based on a matrix formalism to account for standing wave phenomena due to transmission and reflection in layered material. For the determination of concentrations the model makes additional use of the fundamental parameter technique in order to include absorption and enhancement effects of the fluorescence radiation. On the basis of experimental data some capabilities of this nondestructive and contactless probing technique are presented.     

Ion-Beam and X-Ray Methods of Elemental Diagnostics of Thin Film Coatings

Physics of the Solid State - We show how the combined use of the methods of Rutherford backscattering of ions and X-ray fluorescence analysis under conditions of total external reflection of the...     

A new film analysis method using polycapillary X-ray lens

Grazing emission X-ray fluorescence (GE-XRF) is a development of XRF related to total reflection XRF. This paper proposed a GE-MXRF setup involved a polycapillary X-ray lens. Polycapillary lens is an effective optics to obtain μm-size primary X-ray beam. Using this proposed setup, we applied it to the analysis of film samples, and the information of film thickness, composition and density can be acquired, which is very useful in semiconductor industry.     

Determination of Gd and Sm contents in metallofullerenes on a total reflection X-ray fluorescence spectrometer with parallel beam

The contents of Gd and Sm have been determined quantitatively using the X-ray fluorescence analysis on a total reflection spectrometer with a parallel beam. It has been shown that the results can be used in developments of the technique for measuring the content of Gd metallofullerenes in powder samples several milligrams in weight and in liquid samples several microliters in volume.     

掠出射X射线荧光谱仪性能评测

通过对GaAs(100)抛光晶片在相同条件下掠出射X射线荧光实验的可重复性研究,并结合常规光源与同步辐射光源X射线掠出射荧光实验结果的对比,证明自行研制的掠出射X射线荧光平台可重复性较好,稳定性较高,实验方法的设计是合理的。理论计算与实验曲线符合的较好,证明掠出射X射线荧光实验中用单晶的全反射临界角标定掠出射角度的方法是可行的。用标准晶片掠出射X射线荧光曲线的微分评测了实际角发散度的大小。