机载导弹贮存寿命评估方法研究

机载导弹是长期贮存、多次挂飞、一次使用的可维修产品。贮存寿命是机载导弹的重要指标之一,确定和延长机载导弹贮存寿命对保持装备战斗力具有重要作用。结合我国装备定延寿技术发展特点,对机载导弹贮存阶段经历的环境应力进行分析,选择加速试验模型,确定加速应力和试验时间,通过开展加速寿命试验,有效地评估了机载导弹的贮存寿命。并对机载导弹贮存寿命评估的关键技术与发展方向进行了分析,为评估方法的优化奠定了基础。     

长期贮存寿命评估方法研究

报告了长期贮存寿命常用的两种评估方法(自然贮存试验评估和加速寿命试验评估)的研究现状,从工程应用角度实际使用出发,对自然贮存试验转化为类比法试验评估方法进行了研究,避免了自然贮存试验周期过长的缺点并保留了其真实性。同时,对加速寿命试验模型阿列尼乌斯方程的推导分析和建模应用进行了研究。     

元器件长期贮存寿命评估方法概述

为了满足电子装备的长期贮存可靠性要求,组成电子装备的各个部件或模块均应具有长期贮存性能。明确元器件贮存寿命是保证装备长期贮存的关键。本文对元器件贮存寿命的评估方法进行了概述。     

高温贮存寿命评估试验

元器件分别进行常温储存试验和高温贮存试验,通过常温储存试验累积试验数据并以此研究总结元器件长期储存性能参数变化规律和失效模式。通过高温贮存试验加速元器件常温储存过程累积试验数据,根据关键参数随加速试验的变化情况,得到高温贮存条件相对常温储存条件的加速因子,根据加速因子得到加速贮存试验的时间,在该高温点下进行相应时间的加速贮存试验。试验结果即为常温特定年限储存寿命的预计结果,从而在较短的时间内对元器件长期储存寿命做出评定。     

用加速试验评估器件长期贮存寿命的研究

电子元器件长期贮存条件下,主要受到温度、湿度、盐雾气氛等环境应力影响而失效.而将这些影响因素扩大来快速评价器件的长期贮存可靠性是目前器件可靠性研究的重点之一.本文给出了几种常用的加速应力模型及其适用条件.     

某种电阻器长期贮存寿命预测研究

选用某种电阻器在A（寒温）、B（亚湿热）、c（亚湿热）、D（热带海洋）等4地开展了为期120个月的库房贮存试验。跟踪测试了其性能参数。应用灰色预测理论中的灰色GM（1,1）模型,对该种电阻器的贮存寿命进行了预测,结果表明A地的寿命最长,为51年;D地的寿命最短,为41年。     

单一失效机理引起的元器件贮存寿命评价方法研究

电子元器件长期贮存过程发生的失效是由多种失效机理共同作用的结果．以器件贮存寿命整体为基础的寿命评价难度很大。选择对器件贮存寿命影响最大的单一失效机理．以失效物理为基础．通过高加速应力试验进行寿命评价研究,获得的寿命可以较准确地反映器件真实的贮存寿命。单一失效机理贮存寿命的研究是元器件贮存可靠性工作的重要内容。     

IC长贮存寿命评价方法

高可靠长寿命产品在军事、航空航天、电子工业、通信等领域应用越来越广泛,如何保障其可靠性与预测其寿命是值得深入研究的重要问题。越来越多的单位,特别是航空航天系统的单位,对其选用的产品提出了具有32年贮存寿命要求的高可靠性指标。长寿命及超长寿命的电子元器件的贮存寿命评价是以加速试验为评价方法的。建立准确的失效机理及模型是评价正确与否的关键。文章通过收集大量高温贮存及常温贮存的实测数据,建立失效模型,推算出应力条件及相应的加速因子。文中实践证明,通过模型仿真出的贮存寿命具有高的可信度。     

论电子电气设备加速贮存寿命试验的可行性

本文讨论了电子电气系统及其所属设备在长期贮存过程中，在温度、湿度、时间三因素的作用下，设备的失效机理和失效模式，以及它们和应用的作用关系；论述了在贮存过程中，湿度、湿度和温度联合对设备的失效作用大于单独温度对设备的失效作用；论述了阿伦尼斯文程及导出的１０℃法则不能普遍应用于电子电气设备的贮存试验，只适用于由随温度的长期作用而老化的关键元器件、零件、材料构成的设备。     

红外焦平面探测器贮存寿命试验研究

本文以红外焦平面探测器为研究对象,在充分分析历年来国内红外焦平面探测器贮存寿命试验数据的基础上,研究了产品的失效模式和失效机理,并对贮存寿命试验前后关键参数指标变化量进行了深入分析,为全面评价红外焦平面探测器产品质量和可靠性提供了依据,为后续红外焦平面探测器的标准制修订工作奠定了基础.     

半导体器件的贮存寿命

从失效机理出发,探讨了半导体器件的贮存寿命,提供了三种美国军用半导体器件长期贮存的实例.介绍了俄罗斯的规范,建议对超期复验中的有效贮存期作必要的修订.     

基于加速退化晶体管贮存寿命的评估

为探求快速评价国产晶体管长期贮存寿命的方法,对国产3DK105B型晶体管开展了加速退化试验的分析和研究。通过三组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,确定了晶体管的失效敏感参数,利用其性能退化数据外推出样品的寿命;给出了常见的三种分布下的平均寿命,并结合Peck温湿度模型外推出自然贮存条件下本批晶体管的贮存寿命。最后分析了试验样品性能参数退化的原因。试验结果可以为评估国产晶体管的贮存可靠性水平提供一定的参考。     

电子元器件贮存可靠性评估与预测的贝叶斯方法

基于电子元件寿命试验的二项型数据信息,提出了电子元件贮存可靠性评估与预测的贝叶斯方法.利用环境因子将电子元件产品在不同贮存条件下的试验数据进行折合,依据贝叶斯理论对小样本下可能出现的数据"数据倒挂"进行预处理,并评估出其在各已知贮存时间点上的可靠度,再运用配曲线法得到产品的贮存寿命分布,进而对其贮存可靠度进行合理预测.最后,通过一个实例说明了方法的可行性.     

基于加速性能退化的元器件贮存寿命预测

提出了基于加速性能退化的元器件贮存寿命预测流程,重点对元器件退化轨迹模型的建立和加速退化试验数据处理方法进行了研究。应用非线性的曲线拟合法来建立退化轨迹模型,并评价其拟合优度。加速退化试验数据的处理主要应用伪寿命分布与加速退化模型拟合的方法。从而外推正常应力水平下元器件的贮存寿命。最后,应用所提出的贮存寿命预测方法对某型钽电容的贮存寿命进行了预测。并验证了该方法具有一定的效用性。     

基于加速退化模型的加速度开关贮存寿命评估

贮存寿命是长使用周期、高可靠性产品的重要考核指标之一。为评估某型加速度开关的贮存寿命,该文采用温度应力四量级水平恒定应力加速试验方法研究了加速度开关的退化过程,并将阿伦尼斯加速模型与漂移布朗运动相结合,建立了产品的可靠性模型。最后采用极大似然和最小二乘法对试验数据进行了拟合分析。结果表明,某型加速度开关在100℃的加速量级下,其等效贮存年限可达33年,满足产品有效贮存期的要求。     

用加速老化试验快速评估产品贮存可靠性的计算方法

文中给出了用人工加速老化试验的组织、实施方法，又以大量使用的非金属材料为例，给出了试验数据的存贮可靠性计算方法，从而建立起快速诊断主体产品可靠性的通用方法。     

黑盒测试用例设计方法研究

为了快速地设计出完整有效的测试用例以保障软件测试质量,在分析黑盒测试用例设计技术的基础上,采用了将边界值和等价类测试技术结合起来设计测试用例的一种新的方法思路。在此以一个三角形问题为实例通过分析,先用边界值分析确定数据边界,再用等价类划分方法得到等价的数据类,从而快速获得了一个完整有效的测试用例。采用这种方法设计的测试用例具有较强的发现软件程序错误的的特点,不但能有效避免测试的盲目性,并且能提高测试效率和测试覆盖度。     

基于机器学习模型的黑盒测试方法

机器学习技术的广泛应用引发了人们对机器学习模型可信度的关注,而黑盒测试技术已被证明是揭示软件潜在问题的有效手段,如何利用黑盒测试技术分析和评估机器学习模型的质量和可信度是文章关注的重点。文章重点讨论机器学习模型及其黑盒测试的理论和方法,包括机器学习模型相关概念、机器学习模型测试重难点以及如何开展机器学习模型的黑盒测试,旨在为机器学习模型的性能评估和质量保证提供具有可行性、通用性和实践性的评测过程和方法。