基于次序秩的非参数EWMA联合控制图

本文提供了一个基于次序秩的非参数EWMA联合控制图(DNE)用于监测位置参数的持续性漂移.这是一个自启动控制图,不用累积大量可控样本数据,可以用于监控开始阶段。同时,我们不需要预先知道样本的分布,也不需要预先调整任何参数.通过数据模拟研究显示出这个控制图不仅在各种不同分布下具有很好的稳健性,并且对各种大小的漂移都很有效。文章最后通过工业上一个真实例子表明,这个控制图在实际应用中有着非常好的表现。     

PP 型拟合优度检验

摄影寻踪(Projection Pursuit,简称PP)是一种新兴的用来处理高维数据的统计方法,其主要思想是通过极大化某个投影指标(通常是分布函数的泛函)来寻找低维投影,通过对其低维投影数据的研究来发现高维数据的性质.PP 方法自首次提出,已用于处理一些非正态多维数据分析问题,如回归、判别、聚类、密度估计等.     

上界型拟合优度检验

对简单零假设情况,构造出一类上界型拟合优度检验.取不同的参数λ和不同的权函数,这类检验不仅包含许多已存在的检验,如Kolmogorov-Smirov检验,Berk-Jones检验等,而且还给出一些新的检验.众所周知,对不同的问题,"最优"的检验是不同的,有必要对这类检验的性质进行讨论.该文对任意给定的λ和较一般的权函数q(·),在较弱的条件下,导出了相应上界型检验统计量在零假设下的渐近分布,研究了它们的局部渐近功效;在若干固定备择假设下,对该类检验的功效进行了模拟研究.模拟结果表明,在不同的备择假设下,功效较优的检验是不同的,不存在对所有情况一致最优的检验.     

基于经验似然比检验的高维非参EWMA控制图

随着传感技术和数据采集系统的逐渐完善,大量复杂高维数据可以被收集,对多变量和高维数据流进行监控往往是现代制造业和质量管理部门的一个基本要求.然而,在高维数据监控领域中,由于“维数的诅咒”以及变量的分布通常是复杂未知的,大多数传统的多元控制图不再适用.针对这种情况,一些研究者讨论了对分布未知且复杂高维数据的均值向量的各种检验,但这些检验很少适用于Phase II阶段的过程监控.文章提出了一种基于高维经验似然比检验的EWMA型非参数监控方案,该方案可用于多元过程和高维过程均值向量的监控,并且适用于子组数据流.所提出的控制图不仅易于实现和解释,而且蒙特卡罗数值模拟结果显示该控制图在对称、偏态、厚尾分布中都能有效地监测均值漂移.最后,将所提出的控制图应用于半导体制造过程,结果显示文章的方法对未通过测试的半导体具有良好的监控效果.     

基于Beta分布形状的拟合优度检验

本文指出了拟合优度检验中选用经验频率公式时存在的误区,对顺序统计量失效概率分布进行了偏态和峰态分析,提出了一个基于Beta分布形状特征的经验分布函数,给出了精确值和近似值两种计算方法,在此基础上建立新的极值型检验统计量．利用Monte Carlo方法进行数值模拟,得到0．01、0．05、0．1显著度水平下检验统计量的临界值,并利用常用的分布模型进行检验功效比较,数值模拟结果表明基于分布形状的经验频率公式能更好地反映顺序统计量失效概率分布的集中趋势,证明了本文提出的两种检验统计量在中小样本条件下具有更优的检验功效．     

球面均匀分布的拟合优度检验

证明了基于惯量矩的d维单位球面上样本服从均匀分布的基本特征,得到球面均匀分布协差阵特征根估计的强相合性及渐近多元正态性.提出了检验球面上样本均匀性的渐近卡方统计量,证明了拟合优度检验的相合性并做检验功效的随机模拟.     

参数未知的PPNeyman拟合优度检验及其Bootstran逼近

设ｑ维总体Ｘ的分布函数为Ｇ（ｘ），对于零假设Ｈ０：Ｇ（ｘ）＝Ｆ（ｘ），在Ｆ（ｘ）完全已知时，文献［２］给出了其ＰＰＮｙｍａｎ型拟合优度检验。本文对Ｆ（ｘ）为含有未知参数的椭球分布情形，给出了其ＰＰＮｅｙｍａｎ到检验统计量，获得了检验统计量的极限分布，并给出了用Ｂｏｏｔ－ｓｔｒａｐ技巧确定其否定域临界值的方法．     

NBU分布类的拟合优度检验

一个寿命分布F称为属于新的比旧的好的分布类(NBU),若: R(x y)≤R(x)R(y) x,y≥0这里R(x)=1-F(x)。若R(x y)≥R(x)R(y),称作旧的比新的好(NWU)。本文讨论可靠性中应用非常广泛的NBU分布类的检验问题,即下列检验问题:原假设H_0:F是NBU的。备选假设H_A:F不是NBU。给出了检验函数。并证明了备选假设是H_A:F是NWU时,检验是无偏的。     

二阶扩散过程的非参数经验似然拟合优度检验（英文）

本文考虑二阶扩散过程的非参数拟合优度检验问题.首先构造一个非参数检验来检验二阶扩散过程的漂移函数是否是含有未知参数的参数形式;其次,利用经验似然方法构造二阶扩散模型的拟合优度检验的检验统计量;最后,建立检验统计量的渐近分布,并通过例子验证所提出的检验方法的有效性.     

多元正态分布的VDR条件拟合优度检验

提出多元正态性χ2检验统计量.多元正态分布转换样本Yd=RVd服从PearsonII型分布,证明了R2服从贝塔分布.基于贝塔分布和单位球均匀分布,得到多元正态性检验统计量χ2的渐近卡方分布.功效模拟显示,χ2统计量优于已有主要多元正态性检验统计量.做iris数据多元正态性的拟合优度检验.     

具有可变样本容量的非正态EWMA控制图

为了提高控制图的监控效率,本文研究非正态分布下,EWMA控制图的可变样本容量设计问题。首先利用Burr分布近似各种非正态分布,构造可变样本容量的非正态EWMA控制图;其次运用马尓科夫链法计算可变样本容量非正态EWMA控制图的平均运行长度;然后与传统的非正态EWMA控制图进行比较得出:当过程中出现小波动时,可变样本容量的非正态EWMA控制图能够更快地发现过程中的异常波动,具有较小的平均运行长度,其监控效率明显优于传统的非正态EWMA控制图。     

浅谈分布数据的x2拟合优度检验

本文给出X为离散分布或连续分布时不同情况下数据的x2拟合优度检验.     

变系数部分线性模型的拟合优度检验

本文考虑变系数部分线性模型的拟合优度检验问题.基于Profile经验似然方法,构造了参数部分和非参数部分的经验似然比检验统计量.并证明了其满足Wilks'现象,进而得到了一定置信水平的拒绝域.最后通过数据模拟,讨论了其检验功效.     

基于APL的EWMA控制图经济统计优化设计

为了提高指数加权移动平均(EWMA)控制图监控效率评价的精确性和全面性,提出用一个质量周期内的平均产品个数替代平均抽样个数来进行控制图的经济性和统计性综合评价,建立了一种基于平均产品长度(APL)的更为精确的EWMA控制图经济统计多目标优化设计模型,并采用具体的算例说明了采用NSGA-Ш算法对该模型进行计算的步骤。最后,用该方法优化设计的EWMA控制图与已有的几种EWMA控制图优化设计进行比较,结果表明:本文提出的经济统计优化设计方法显著优于只考虑经济性能的经济设计和只考虑统计性能的统计设计方案。     

高维随机截尾数据的PP拟合优度检验

关于一维删截数据的拟合优度检验，已有相当多的文献，但高维截尾数据的拟合优度检验尚不多见．本文用PP技巧讨论了高维截尾数据的拟合优度检验，得到了检验统计量的渐近分布，并讨论了其Bootstrap逼近及逼近的相容性和检验的渐近功效．     

图像小波域局部统计模型的拟合优度检验

提出了一种图像小波域局部统计模型的拟合优度检验方法, 构造了一个检验的统计量, 其分布为$\chi^2$-分布. 模拟结果表明, 不同分块下的拟合优度检验结果不同, 即从理论上给出了基于小波域局部统计模型的最优分块方法.     

浅谈分布数据的χ~2拟合优度检验

本文给出X为离散分布或连续分布时不同情况下数据的χ~2拟合优度检验.     

随机回归模型线性性的拟合优度检验方法

本文研究随机多元回归模型的线性性检验．所提出的检验统计量是由两个统计量之和形成的．第一个是由最小二乘回归拟合的残差构造的，它具有渐近ｘ２分布，但在完全对立假设检验时，它不是相容的．另一个则是基于对上述残差量的回归核估计，在零假设成立时，它趋于零，在对立假设成立时，则趋于无穷大．理论结果表明，本文的检验方法在完全对立假设下仍有相容性．模拟结果显示出，此方法在许多对立假设下，具有较好的功效．     

改进型单边EWMA指数控制图设计

现代制造过程中,某些产品的不合格率非常低,通常将这类过程称为高质量过程。由于高质量过程中相邻不合格产品之间的时间间隔服从指数分布,可以通过指数控制图实现对过程状态的监控。因此,本文提出一种改进型指数加权移动平均(Improved Exponentially Weighted Moving Average,IEWMA)指数控制图,并采用蒙特卡洛仿真获得控制图的平均运行链长(Average Run Length,ARL),仿真结果表明该控制图的性能优于传统单边EWMA指数控制图,尤其针对过程中产生较小偏移的情形具有较好的检测性能。     

阶段Ⅱ联合检测过程位置和尺度的非参数EWMA控制图（英文）

本文提出了一个基于Cucconi检验的非参数指数加权移动平均(EWMA)控制图(简称为EC图)来同时检测过程位置参数和尺度参数.依据步长分布的均值、方差及分位数,给出了EC图与其他一些现有的非参数EWMA控制图的模拟比较.基于蒙特卡洛的模拟结果表明,EC图具有很好的性能.详细分析了阶段I中参考样本大小对EC图受控性能的影响.最后用一个实例来说明EC图的实际应用。