开关电源外围监控专用集成电路概述

开关电源外围监控专用集成电路概述上海交通大学陆鸣一、引言开关电源为实现良好的电压调整和安全运行，除众所周知的基本结构，如输人整流滤波电路、功率变换电路、输出整流滤波电路及控制电路外，还必须有一些外围的辅助电路，如限流、软启动、过压或欠压保护电路来增强...     

专用集成电路的现状与展望

本文主要从专用集成电路的发展背景和特点、市场与应用、ASIC类别、工艺技术及其开发工具CAD技术等方面,介绍了专用集成电路的发展现状和未来。     

第三方集成电路IP质量评测过程与案例分析

本文提出了一种基于第三方的集成电路IP质量评测过程,基于第三方过程的IP评测案例分析表明,该过程能够有效地提高集成电路IP项目的可交付项质量。同时本论文使用该评测过程的应用案例,对进一步的集成电路IP质量发展提出了若干建议。     

集成电路课程案例教学模式的探索与实践

数字集成电路设计与验证是一个完整且复杂的工业化流程,也是微电子方向研究生重要的学科基础课,具有很强的工程实践性。如何让学生全面掌握整个数字集成电路设计流程及设计方法并具备分析和解决问题的能力是本课程教学的难点。本文提出了基于真实工程项目设计的案例式教学方法,开展了历时三年的教学改革研究与实践。研究数据表明该方法能显著提高学生的设计和分析能力,但对不同水平学生的受益程度存在差异。文章最后给出了进一步改进教学方法的几点建议。     

用可编程逻辑器件实现专用数字集成电路的功能设计

以计算机科学和微电子技术为先导的ＥＤＡ技术已成为电子设计领域的一个新技术,它的高速发展系统和集成电路的设计带来了一场革命。本文用具体的例子说明了用ＥＤＡ软件开发平台将可编程逻辑器件设计为专用数字集成电路的具体方法。     

IC生产质量监控要素

本文讨论了集成电路生产中监控质量的主要因素。内容覆盖工艺开发、设计验证、工艺变更的管理、设备维护、在线检测/监控,以及PCM等。重视FAB厂与设计公司技术信息的交流,加强设计和工艺之间的沟通,保持关键工艺参数的稳定,必将显著提高IC产品的质量。     

智能开关电源集成电路TO PSw itch 的分析

近年来,由于便携设备的增多,对供电单元电路小型化的要求越来越迫切,各国政府对电源系统环保,节能的要求也更加严格,这些都要求有效率更高,集成度更高的开关电源加以配合,本文反向剖析了美国Power Integration公司的TOPSwitch系列智能开关电泊集成电路芯片,在系统地分析及全面的计算机仿真的基础之上,给出该电路的工作原理,设计方法及其应用,该集成电路除了一般的PWM控制功能外,还集成了自动重启功能,过渡,过热保护功能,大功能MOSFET等,具有效率高AC／DC转换效率可高达90％,外围元件少等特点,具有多项专利,是目前国际上最先进的智能开关电源产品之一,该电路的芯片生产工艺,更是集高压（700V）大功率（数十瓦）,数模混合,双极／CMOS兼容等最先进的半导体技术于一体,世界上目前只有少数几家公司具有生产该类电路的能力。     

智能测量集成电路的设计与仿真

文章以电子体重秤专用集成电路为例,介绍了基于嵌入式MPU的智能测量专用集成电路的设计及硬件仿真。在一块芯片内实现了数据采集、数据处理、数据显示等智能测量系统所需完成的功能,并在所设计的硬件仿真系统中,通过硬件仿真,验证了系统功能的正确性,为目标芯片提供了软件开发平台。并且该设计具有较强的通用性,可用于多种智能测量场合。     

用可编程逻辑器件实现专用数字集成电路的功能设计

以计算机科学和微电子技术为先导的 EDA技术已成为电子设计领域的一个新技术 ,它的高速发展为电子系统和集成电路的设计带来了一场革命。本文用具体的例子说明了用 EDA软件开发平台将可编程逻辑器件设计为专用数字集成电路的具体方法。     

半导体集成电路的质量控制

本文阐述了对ＩＣ电路必须进行有效的质量说明产品的质量可靠性是制造出来的，而不是检验出来的科学概念，即是说，任何检验规范和筛选方法都不能提高产品固有的制造出来的可靠性，然而，一批产品无论质量多好，总有少量的容易早期失效，籍助于恰当的检验程序和方法，就可以最大限度地淘汰早期失效（或其它因素造成的损坏），保证雷达整机的质量水平和装备完好性。     

集成电路封装技术与低成本质量控制

文章分析了集成电路封装的成本,提出了通过选择低成本塑封料以实现集成电路封装成本控制的方法,并阐述了集成电路封装的质量控制措施,期望对提高集成电路封装经济效益和技术效果,实现集成电路封装小型化有所帮助。     

基于案例推理的航天测控设备故障诊断

针对航天测控设备故障诊断难度日益增大的问题,将基于案例推理方法应用于设备故障诊断中.首先提出用故障信息规范描述、特征属性集和属性字典的三元组合结构来表示案例的方法,利用数据库管理系统建立故障案例库;然后通过对目标案例的特征属性集元素进行删补及位序调整,构造出与源案例特征属性集同构的特征属性阵列,以此计算案例的局部相似度;最后利用最近邻搜索策略计算案例间的全局相似度,完成对目标案例的搜索和问题的求解过程.应用实例表明,该方法案例表示结构清晰,易于建立案例库,能快速获得故障问题的解决方案,且诊断精度较高,有效提高了设备故障诊断效率.     

MAX/IMP系列微处理器监控芯片的一种新颖用法

以IMP813L为例，介绍了MAX／IMP系列微处理器监控芯片的一种新用法。     

集成电路制造工艺状态的表达与跟踪监控

文章提出了对PCM参数进行正交化而建立起一套广义参数,再以广义参数为基础构建工艺状态空间的技术。在工艺状态空间中,作为工艺结果的测试值集的数据分布为多维椭球体;该椭球体随生产的进行而呈现出连续性的形变,因此,跟踪这种形变,就实现了对工艺状态的监控。提出了将特定批次工艺状态与参照态进行状态比较的相似度指标计算公式,在多维空间中实现了整体性的统计工艺控制(SPC)。进一步地,由于状态空间中各坐标基矢的特定指向与工艺失效因素一一对应,对失效工艺的诊断与纠正也变得易于进行。     

如何保证集成电路的测试质量

阐述了集成电路的测试过程中，如何保证其测试质量的几个方面的问题。内容包括测试设备的硬件选择、测试软件的编写、集成电路测试结果的分析及集成电路的管理等。     

集成电路外壳对可靠性的影响及质量控制

集成电路外壳对可靠性的影响及质量控制李秀华（西安微电子技术研究所７１００５４）１前言集成电路的可靠性主要取决于芯片的质量与封装技术的高低，而外壳的质量又是影响封装技术的关键。做为集成电路专业制造厂，使用白陶瓷、黑陶瓷、金属圆外壳、菱型外壳等几十个规格...