PW1400、PW1404、PW1600和PW1606 X射线荧光光谱仪数据文件的读写软件

本文研制了为PW1400、PW1404、PW1600和PW1606谱仪建立的数据文件进行读写的专用软件。作为应用的例子,一是读取PW 1400谱仪测量后所建立的未知样文件,然后作均匀性检验;另一是读取PW 1404谱仪测量后所建立的标样浓度,强度及未知样强度文件中的某些数据、然后重新写一个数据文件,用NBSGSC程序进行元素间相互影响的数学校正。该软件用FORTRAN语言编写,可在操作系统为RSX 11M的DEC PDP 11/23小型计算机上使用。     

X射线荧光光谱分析的现状和进展

本文综述了常规Ｘ射线荧光（ＸＲＦ）、同步辐射ＸＲＦ，全反射ＸＲＦ和其他ＸＲＦ等四个方面的ＸＲＦ光谱分析的现状和进展。     

应用小型X射线荧光光谱仪快速测定钾长石的化学成份

本文采用粉末压片法制样,用小型多道波长色散Ｘ射线荧光光谱仪测定钾长石中的ＳｉＯ２Ａｌ２Ｏ３、ＣａＯ、ＭｇＯ、Ｆｅ２Ｏ３、Ｋ２Ｏ、Ｎａ２Ｏ。测定准确度、精密度较好,所得结果满足化学分析误差要求,能完全替代化学分析,将一个钾长石作全分析整个过程只需３０ｍｉｎ,本法快速、简便、结果令人满意。     

自编数据处理程序与PW1404型X荧光光谱仪的接口软件LLLZ的？…

本文将ＬＬＬＺ软件应用于粉末状地质化探样品的分析，应用结果表明，ＬＬＬＺ软件对原有数据的应用直接，快速，分析方法的选择快速，具有易于开发，使用方便的特点。     

自编数据处理程序与PW1404型X荧光光谱仪的接口软件（LLLZ）…

本文简要介绍了自编数据处理程序与ＰＷ１４０４型Ｘ荧光光谱仪的接口软件（ＬＬＬＺ）的结构，总体流程图，硬件配置及主要功能。     

蛛丝和蚕丝化学元素X射线荧光光谱分析及其应用

采用X射线荧光光谱(XRF)方法研究蛛丝和蚕丝的化学元素组成,探讨成丝机制中金属离子的作用及生物丝性能优良的元素基础。XRF分析蚕丝中C含量是47.10%、O为29.92%、N是16.52%;金属元素包括：Ca含量0.166 2%、Mg含量0.104 0%和K含量0.039 5%,而Na,Zn,Ni,Fe和Cr是微量元素。Ca和Mg元素含量高,在桑蚕吐丝机制中起着重要的作用。在蛛丝中,主要的非金属元素是：C含量44.09%、O含量26.64%和N含量22.34%。高含量的N元素可能是蛛丝优异的刚性和韧性性能的元素基础。在蛛丝中,Na含量0.268 0%、K含量0.081 4%和Mg含量0.011 6%,而Ca,Zn,Fe,Cu和Cr则是微量元素。蛛丝中Na和K元素含量高,在蜘蛛吐丝机制中可能起重要作用。运用数学统计方法研究生物丝元素组成与XRF元素分析结果吻合。     

自编数据处理程序与PW1404型X荧光光谱仪的接口软件LLLZ的研究与应用(Ⅱ)

本文将ＬＬＬＺ软件应用于粉末状地质化探样品的分析中，应用结果表明，ＬＬＬＺ软件对原有数据的应用直接、快速，分析方法的选择快速，具有易于开发，使用方便的特点。     

X射线荧光基本参数法测定焊锡中的锡和铅

本文在无标样的情况下,用X射线荧光基本参数法测定了焊锡中的锡和铅的含量。     

自编数据处理程序与PW1404型X荧光光谱仪的接口软件(LLLZ)的研究与应用(Ⅰ)

本文简要介绍了自编数据处理程序与ＰＷ１４０４型Ｘ荧光光谱仪的接口软件（ＬＬＬＺ）的结构、总体流程图、硬件配置及主要功能。     

便携式X射线荧光光谱测定土壤中Cr,Cu,Zn,Pb和As的研究

应用便携式X射线荧光光谱对土壤中的重金属元素Cr,Cu,Zn,Pb和As进行测试,分析土壤粒径、含水量、土壤类型对检测结果的影响,并选用北京、新疆、黑龙江、云南和江苏的典型土壤研究重金属元素含量与X射线荧光光谱特征峰强的关系.实验表明,土壤粒径影响了测试的精密度,土壤粒径从40目降低到100目,检测的相对标准偏差从15.6%减少至6.9%;土壤含水量主要影响样品检测的特征峰强,土壤含水量从5%提高到25%,与无水样品相比的相对峰强从86%降低到69%,相对峰强与土壤含水量符合方程I=100e-0.015c,I为相对峰强,c为土壤含水量(R2=0.83,n=30).在0～1500 mg·kg-1区间,土壤中重金属元素含量与X射线荧光光谱特征峰强间有着良好的线性相关,但不同土壤类型间的线性方程有着较大的差异,云南土壤样品建立的线性方程有着较小的斜率.通过检测土壤标准样品,验证了便携式X射线荧光光谱检测土壤中重金属元素有着较好的准确度和精密度,适用于土壤中重金属的快速检测.     

硅铁中Si,Al,Ca,Mn,Cr,P和S元素的X射线荧光光谱分析

叙述了用ＡＲＬ８４８０型Ｘ射线荧光光谱仪测定硅铁中Ｓｉ、Ａｌ、Ｃａ、Ｍｎ、Ｃｒ、Ｐ和Ｓ元素的Ｘ射线荧光光谱分析方法。采用直接粉末压片法制样。分析结果与化学法结果相符。方法快速、准确、经济、简便，精密度很好。通常，结果是令人满意的     

X射线荧光光谱测定地质岩石样品中的痕量元素铷,锶和锆——二次基体校正法和两步背景校正法的应用

本文提出了一种用X射线荧光光谱测定地质岩石样品中的痕量元素铷,锶和锆的方法。为了能获得基体校正和背景校正的最佳结果,采用了二次基体校正法(用康普顿散射线和理论α系数)和两步背景校正法。实验结果令人满意。