J/ψ辐射衰变中θ(1720)宽共振峰的矩分析

本文用矩分析法对J/ψ辐射衰变产生的θ(1720)宽共振峰的结构进行了研究.由于f'₂(1525)和θ(1720)二共振峰有重迭,为此我们讨论了2⁺⁺(f'₂(1525))+0⁺⁺+0⁺⁺和2⁺⁺(f'₂(1525))+0⁺⁺+2⁺⁺二种三态耦合结构模式,这对于弄清θ(1720)这个宽共振峰的结构,确定可能包含在其中的二个共振态,例如G(1590)和f₂(1720)的质量、宽度、自旋以及其它重要性质,进一步认识这二个令人关注的共振态是有帮助的.     

胶子球候选者θ/f2(1720)的D波分量和可能的实验检验

本文讨论了J/ψ辐射衰变中胶子球候选者θ/f₂(1720)的产生及其衰变.我们发现,为了解释过程J/ψ→γ+θ的螺旋度振幅之比x和y,除了θ粒子的S波分量之外,必须考虑两个D波分量(l=2,s=0,2)的贡献.我们还讨论了D′波分量(l=2,s=2)是否存在的可能的实验检验.     

G(1590)作为0++胶子球候选者的一个直接的检验

本文用推广的矩分析法^[1]研究了在～17GeV处J/ψ辐射衰变产生的宽共振峰的结构,提供了一个检测是否此峰中可能同时存在θf₂(1720)和G(1590)态的方法.如果G(1590)确实存在,则是对G(1590)作为胶子球候选者的一个直接的检验.     

过程J/ψ→γX,X→P1P2中X自旋的矩分析法

本文给出了用矩分析法分析J/ψ→γX,X→P₁P₂辐射衰变过程中玻色子X自旋的原理和方法,并利用这种方法对θ(1720)的自旋进行了蒙特卡洛研究,从中看到该方法可以有效地测定X的自旋.作为一个例子,把该方法用于北京谱仪(BES)J/ψ→γK⁺K^－衰变道低质量区域共振态的自旋分析,结果表明该方法是可行的.     

J/ψ辐射衰变产物自旋宇称分析的实验方法

利用蒙特卡罗数据研究、讨论了J/ψ辐射衰变产生物自旋宇称的测定方法.作为一个例子,引用了J/ψ→γθ(1720),θ(1720)→K⁺K^－过程的计算结果,并对该方法的适用范围进行了探讨.     

ι-E疑难和推广的矩分析

本文引进过程e⁺e^－→J/ψ→γB,B→P₁P₂P₃的矩的光子角分布来讨论ι-E疑难,得到了判断J/ψ→γKKπ过程中产生的共振峰是否包含E(1⁺⁺)分量的一个有效判据.     

北京谱仪上的J/ψ物理

利用BES上取得的9.0×10⁶ J/ψ数据,进行了系统的J/物理分析.证实了ξ(2230)的存在,并首次发现ξ(2230)的非奇异衰变模式.测量了f₀(980)、f₂(1270)的共振参数和极化.对J/ψ→K⁺K^－过程短分析的结果表明f_J(1710)是含有0⁺⁺和2⁺⁺两个态的宽结构.采用分波法测定了η(1440)、f₀(1500)的自旋宇称,得到它们的主要衰变模式.     

J/ψ衰变中的ΛΛ,ΛΛγ和ΛΛπ0产生

利用北京正负电子对撞机(BEPC)上的北京谱仪(BES)收集的7.8×10⁶个J/ψ事例,测量得到J/ψ→ΛΛ,ΛΛγ和ΛΛπ⁰三个衰变道的分支比分别为Br(J/ψ→ΛΛ)=(l.08±0.06±0.24)×10^－3,Br(J/ψ→ΛΛγ)－4(90% CL),和Br(J/ψ→ΛΛπ⁰)=(2.3±0.7±0.8)×l0^－4; 第一个衰变道的角分布为dN dcosθ=N₀(1+αcos²0),α=0.52±0.33±0.13.     

J/ψ三级二体强衰变过程的自旋-宇称分析

本文给出了级联衰变过程e⁺+e^－→J/ψ→V+X,X→P₁+Y,Y→P₂+P₃(V代表矢量介子,P_i代表赝标介子)的角分布螺旋度形式,为通过J/ψ三级二体强衰变过程对中间态X粒子进行自旋-宇称分析提供理论公式.     

强子衰变过程J/ψ→ωπ+π－中的多道耦合

讨论了强子衰变过程J/ψ→ωπ⁺π^－包含的三个不同中间过程J/ψ→ωf₂(1270),f₂→π⁺π^－和J/ψ→b₁^±(1235)π⁺,b₁^±→ωπ^±的耦合问题.这种耦合效应的考虑对于精确测定共振态f₂和b₁^±的参数以及这些反应道的螺旋度振幅比是十分重要的.     

在BEPC/BES上寻找同位旋标量1－+奇特态

在单态和多态耦合两种情况下,讨论了在BEPC/BES(北京正负电子对撞机/北京谱仪)上,通过J/ψ衰变过程J/ψ→V+X,X→a₂+π寻找同位旋标量1^－+奇特态的可能性.结果表明,对于J/ψ的辐射衰变过程和强子衰变过程,这种可能性都是存在的.     

η、η′和ι的夸克和胶子内容、双光子衰变和J/ψ辐射衰变产生

本文引进q_iq_i→q_jq_j以及q_iq_i→(gg)湮没项^[1],并考虑了对湮没项的SU(3)破坏效应^[2],讨论了η、η′和ι的混合,得到了它们的有声有色和胶子内容.与此同时,引入EPCAC(扩充的部分守恒赝矢流)假设^[3],考察了η、η′和ι的双光子衰变.本文还计算了衰变宽度比R₁=Γ(J/ψ→γη′)/Γ(J/ψ→γη)以及R₂=Γ(J/ψ→γη′)/Γ(J/ψ→γι),指出了实验结果对纯胶子球质量值的限制.     

e+e－→J/ψ→γB,B→P1P2的角分布和玻色子B的自旋分析

本文给出了过程e⁺e^－→J/ψ→γB,B→P₁P₂的螺旋性形式(HF)^[1]和等效相互作用形式(EIF)^[2]之间的关系.在B的不同自旋(J=2,4)下赝标介子的角分布显示,为了确定B的自旋,存在敏感区域和不敏感区域.令人遗憾的是,θ/f₂(1720)和ξ(2230)的数据正好掉入不敏感区域.     

BES上J/ψ→γπ0π0的实验研究

基于北京谱仪收集的7.0×10⁶有中性触发的J/ψ事例,分析了J/ψ→γπ⁰π⁰衰变道.除了在π⁰π⁰不变质量谱中看到了众所周知的f₂(1270)外,还证实了f_J(1710)和ξ(2230)的存在,同时给出了它们的质量以及相应的衰变分支比.     

J/ψ衰变中f0(975)的实验研究

本文基于北京正负电子对撞机(BEPC)上北京谱仪(BES)所收集到的国家自然科学基金资助.7.8×10⁶J/ψ事例,系统研究了J/ψ→φπ⁺π^－和J/ψ→ωπ⁺π^－两个衰变道,给出了过程的分支比以及f₀的位置和宽度参数,并对J/ψ→φf₀,f₀→π⁺π^－过程的角分布进行了拟合,首次确定出该过程的螺旋度振幅比.     

强子衰变过程J/ψ→V+X,X→V+V的角分布分析

本文讨论了J/ψ的强子衰变过程J/ψ→V₁+X,X→V₂+V₃,V₂,V₃→2P(或3P)(其中V_i代表矢量介子,P代表赝标介子).对于具有不同自旋-宇称J^P的中间态X,得到了相应的角分布的螺旋度形式.这些公式对于利用BEPC上得到的J/ψ事例,确定上述过程中间态X的自旋-宇称是有帮助的.     

用推广的矩分析方法确定过程J/ψ→V1,X→V2+V3中粒子X的自旋-宇称

本文用推广的矩分析方法对J/ψ的强衰变过程J/ψ→V₁,X→V₂+V₃,V₂、V₃→2P或3P(其中V_i代表有质量的矢量粒子,P代表赝标介子)进行了讨论.对于具有不同自旋和宇称的中间态X,给出了相应的矩的表达式.在非相对论情况下,计算了过程X→V₂+V₃的螺旋度振幅值.通过比较部分矩的理论值和实验值,可以确定中间态粒子X的自旋、宇称和所处的分波态.     

J/ψ衰变中赝标量介子混合的研究

利用PDG-2000公布的J/ψ→VP,γP各个衰变道分支比的世界平均值,对赝标量介子混合重新做了分析.如果η和η′中不含有胶子成分,则得到它们的混合角θ_P=(－19.18±0.91)°.对J/ψ衰变中DOZI的贡献、SU(3)破坏以及矢量介子的混合也做了讨论和分析.     

J/ψ强衰变中f2(1270)性质的实验研究

本文基于北京正负电子对撞机(BEPC)上北京谱仪(BES)所收集到的2.5×10⁶J/ψ重建刻度后的事例,研究了强子衰变道J/ψ→ωf₂(1270),f₂(1270)→π⁺π^－所揭示出的共振态f₂(1270)的性质,测量了它的质量、宽度和分支比,利用最大似然法对角分布进行了拟合,给出自旋宇称为2⁺⁺,首次得到螺旋度振幅比为x=0.99±0.29; y=－0.24±0.17; z₁=0.90±0.57;z₂=0.56±0.22.     

北京谱仪上J/ψ→γπ0、γη、γη'→3γ衰变道的分支比测量

分析J/ψ衰变终态为三个光子的衰变道,测量得到了衰变道J/ψ→γπ⁰和J/ψ→γη’的分支比分别为Br(J/ψ→γπ⁰)=(4.6±1.1)×10^－5和Br(J/ψ→、η＇)=(4.12±0.82)×10^－3;相对分支比F(J/ψ→γη’)/F(J/ψ→γη)=4.79±0.85,在实验误差范围内与两个理论模型的预言都能一致.