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晶体结构的X射线粉末衍射法测定 总被引:1,自引:0,他引:1
晶体结构是了解固体材料性质的重要基础。广泛应用的测定晶体结构的有效方法是X射线单昌结构分析。然而许多固态材料不可能获得满足单昌结构分析所需要的尺寸和质量,在这种情况下,实质上有关结构的信息来自粉末衍射数据。文章综述了根据粉衍射数据,应用单昌结构分析方法测定晶体结构的进展,同时着重讨论了粉末衍射重叠峰的分离方法。 相似文献
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用X射线粉末衍射法测定晶体结构 总被引:1,自引:0,他引:1
测定的晶体结构方法很多,不同方法可以相互补充和验证.X射线衍射是测定物质相结构最常用、最方便的一种方法.本文仅就多晶X射线衍射方法测定材料的晶体结构作一简要的叙述.一、X射线粉末衍射方法用于测定物质晶体结构的X射线粉末衍射的主要方法简述如下.1.德拜-谢乐照相法光源用单色X射线,试样为多晶转动样品,用对X射线灵敏的胶片记录全部衍射线的位置、强度和形状.由于底片安装方式不同,有对称型正规法、对?... 相似文献
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Rietveld全谱拟合法及高分辨X射线粉末衍射实验方法的出现与发展,使X射线粉末衍射进入了一个新阶段,不但提高了分析结果的质量,并且使从头晶体结构测定成为可能。本文扼要介绍了Rietveld全谱拟合法的理论;高分辨高准确的粉末衍射装置,从头晶体结构测定方法及多晶材料结构表征的全谱拟合法(包括作物相定性分析、物相定量分析、晶粒大小及点阵畸变的测定等) 相似文献
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X射线粉末衍射的新起点——Rietveld全谱拟合 总被引:14,自引:0,他引:14
Rietveld全谱拟合法及高分辨X射线粉末衍射实验方法的出现与发展,使X射线粉末衍射进入了一个新阶段,不但提高了分析结果的质量,并且使从头晶体结构测定成为可能。本文扼要介绍了Rietveld全谱拟合法的理论;高分辨高准确的粉末衍射装置,从头晶体结构测定方法及多晶材料结构表征的全谱拟合法(包括作物相定性分析、物相定量分析、晶粒大小及点阵畸变的测定等) 相似文献
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把Rietveld精化方法用于处理同步辐射X射线和中子粉末衍射数据,使得粉末试样的结构研究有很大发展。本文在简要介绍两种粉末衍射术和Rietveld方法之后,用实例描述它们在结构精化、解未知结构、沸石、有关微孔材料及磁结构材料测定中的应用。 相似文献
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把Rietveld精化方法用于处理同步辐射X射线和中子粉末衍射数据,使得粉末试样的结构研究有很大发展.本文在简要介绍两种粉末衍射术和Rietveld方法之后,用实例描述它们在结构精化、解未知结构、沸石、有关微孔材料及磁结构材料测定中的应用. 相似文献
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从粉末衍射数据直接测定晶体结构介材料和晶体学研究的热门课题之一。文章介绍了粉末衍射结构的最大熵法。最大熵法是基于信息论的最大熵原理和最大似然原理的一种方法。由于其独特的优点,最大熵法是最有前景的粉末衍射结构分析方法之一。 相似文献
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介绍了三维、一维和二维X射线衍射的有关概念,给出二维X射线衍射的定义:在X射线衍射实验中使用二维探测器,并对由二维探测器记录的二维象、二维衍射花样的数据进行处理分析和解释的X射线衍射方法称为二维X射线衍射术。之后,分四部分综述二维X射线衍射(2D-XRD)和散射及其应用的进展。1)单晶样品的二维衍射包括经典的劳厄法定向和用二维探测器(带衰减底片组件、CCD和IP等)的劳厄法测定晶体结构的单晶样品现代二维衍射术;2)随后,评述多晶样品二维衍射的衍射几何、实验装置,以及在物相鉴定、应力测定和织构测定方面应用的方法和基本公式;3)二维小角散射(2D-SAXS)也作了简介。4)把一维和二维衍射术作了较全面的比较和综合评论。 相似文献
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介绍了三维、一维和二维X射线衍射的有关概念,给出二维X射线衍射的定义:在X射线衍射实验中使用二维探测器,并对由二维探测器记录的二维象、二维衍射花样的数据进行处理分析和解释的X射线衍射方法称为二维X射线衍射术。之后,分四部分综述二维X射线衍射(2D-XRD)和散射及其应用的进展。1)单晶样品的二维衍射包括经典的劳厄法定向和用二维探测器(带衰减底片组件、CCD和IP等)的劳厄法测定晶体结构的单晶样品现代二维衍射术;2)随后,评述多晶样品二维衍射的衍射几何、实验装置,以及在物相鉴定、应力测定和织构测定方面应用的方法和基本公式;3)二维小角散射(2D-SAXS)也作了简介。4)把一维和二维衍射术作了较全面的比较和综合评论。 相似文献
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研究固体微结构的X射线粉末衍射全谱图拟合方法 总被引:3,自引:0,他引:3
X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法是一种有效的晶体结构和微结构的分析方法。本文介绍了X射线粉末衍射全谱图拟合的Rietveld方法的基本原理,综述了该方法中的线形分析、校正及其在晶体结构分析、微结构分析、相定量分析和衍射图谱指标化等方面应用的最新进展。文章最后介绍了在实验方案选取方面的新概念 相似文献
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四、Rietveld方法用于晶体结构研究1.结构精化 对于晶体结构大致已知或已知结构的物相,利用同步辐射X射线或(和)中子粉末衍射数据,经过Rietveld花样拟合结构精化,可获得更精确的晶体结构及结构参数,或证明已知结构的可靠性.图7给出作者之一谢达材对α-Al2O3标准试样的TOF衍射花样拟合和精化后的图形,表明在整个花样中计算与观测符合较好.表2汇总了用各种光源获得的α-Al2O3粉末衍射精化后的结构参数,各种方法也十分一致. 有关期刊和文献大量报道了用Rietveld结构精化方法解决结构大致已知(或提出假设结构模型)的许多物质的结构问题.2.… 相似文献
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通常的射线衍射实验丢失了衍射的相位信息,造成了众所周知的“相位问题”。用数学办法从大量实验衍射强度数据中解出相位已有多种方案,此类方法广泛的应用于单晶结构分析工作中。而从实验中直接测得衍射相位则是近年来的新进展。本文介绍这类方法的原理,应用及存在的问题。 相似文献
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通常的射线衍射实验丢失了衍射的相位信息,造成了众所周知的“相位问题”。用数学办法从大量实验衍射强度数据中解出相位已有多种方案,此类方法广泛的应用于单晶结构分析工作中。而从实验中直接测得衍射相位则是近年来的新进展。本文介绍这类方法的原理,应用及存在的问题。 相似文献
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多晶材料X射线衍射定量分析的多项式拟合法 总被引:3,自引:1,他引:2
提出了多晶材料X射线衍 (XRD)射定量分析的多项式拟合法 ,该方法将数学函数模型与计算机技术相结合 ,在建立衍射峰数学函数模型的基础上 ,利用计算机软件对谱线进行多项式全谱拟合 ,分析实验获得的XRD图谱 ,并求得各衍射峰的积分强度 ,从而精确求出混合试样中各相物质的重量分数。文章主要工作包括 3部分 :1 根据混合物的粉末衍射谱是各组成物相的粉末谱的权重叠加 ,各相的权重因子是与该相在混合物中的体积或重量分数有关的事实 ,建立全谱多项式拟合理论 ,找出各相的权重因子 ,进而求出其重量分数 ;2 数据采集与分析 ,给出了数据的处理方法及步骤 ;3 对定量分析的结果进行了比较讨论。该方法简化了数据处理的过程 ,提高了分析结果的精度 ,使粉末衍射数据处理工作变得相对容易 相似文献
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