数字X射线图象的面不同一性校正研究

分析了数字X射线图象中面不同一性产生的原因,并从原理发出,采用曲面拟合的背景校正方法进行校正.实验表明该方法可以有效消除随机噪音对背景校正的影响,更好地提取出背景的不同一性特征信息,具有良好的校正效果.     

原子吸收中背景校正误差来源的研究

要使背景得到完全的校正,必须使原子吸收测量和背景测量在同一波长进行,必须使这两个测量具有相同的测量时间和空间。由于测量时间差引起的误差可以表述为: ΔA_B=M_(αx)[dA_B(t)/dt]Δt (1) 其中A_B(t)是原子化周期背景吸收信号对时间的函Δ数,t是采样时间差。由于光束不重合也会造成测量误差,以氘灯背景校正器为例:如果σ和θ′分别为HCL和D_2灯的像斑面积,K_B′和K_B分別为σ和σ′面积上的背景吸收系数,K_B=K_B′(1+α),背景校正的误差可以表达为: 由于背景吸收,光源辐射衰减,背景校正系统的光子噪声可表达为等式(3)可以看出背景校正的误差随背景吸收系数K_B指数上升。在光子噪声为背景校正系统限定影响时,背景校正能力可以写成为等式(4)表明当K_B=0.86A时,背景校正能力有一个极大值F_(max)=0.245I_0~(1/2)。这些讨论与我们的实验结果能很好地吻合。     

背景校正速度对原子吸收精度测量的影响

本文阐明了一台原子吸收光谱仪的信号同步对仪器性能有显著的影响，灯的快速脉冲导致更精确的背景校正和更精确的发射校正，双光束的不平衡调使用噪音更低，这些特点的最显著之处是能够校正背景吸收中的快速变化。而该变化是石墨原子吸收中背景校正误差最基本的来源。     

X射线荧光光谱测定地质岩石样品中的痕量元素铷,锶和锆——二次基体校正法和两步背景校正法的应用

本文提出了一种用X射线荧光光谱测定地质岩石样品中的痕量元素铷,锶和锆的方法。为了能获得基体校正和背景校正的最佳结果,采用了二次基体校正法(用康普顿散射线和理论α系数)和两步背景校正法。实验结果令人满意。     

巯基棉富集-DMA-80测汞仪测定环境空气中的汞

使用DMA-80测汞仪对空气中汞进行测定,无需前处理,直接进样,将巯基棉样品进行分析.采用标准土样品ESS-3进行方法的准确度和精密度测定,同时进行了方法检出限和模拟实际样品的测定.结果表明该方法检出限0.006ng,低于实际测定方法检出限的要求（0.1ng）;准确度和精密度均能满足分析质量控制要求.     

用小波变换方法进行ICP-AES分析信号的背景校正

应用小波变换方法对ＩＣＰ－ＡＥＳ分析信号进行背景校正,效果良好。尤其对于复杂的曲线背景,该法处理的结果远优于仪器本身的校正结果。     

一种变形标准加入法及其在等离子体发射光谱分析中的应用

在小体积(< 50 μL)液体取样时,容易产生较大的取样误差,为了降低分析结果的不确定度,常常用质量定量法代替体积定量法。传统标准加入法以样品体积定量,不能用于以样品质量定量的场合。为此,我们提出了一种变形标准加入法,以便用于以样品质量定量的场合。以ICP-OES法测定复杂溶液体系中低含量及微量元素Hg,Mo和Rh为例,对变形标准加入法进行了介绍。标准加入法的目的是为了校正溶液基体效应,而溶液基体效应包括两种不同类型的干扰：“恒定干扰”和“比例干扰”。变形标准加入法只能校正溶液基体效应中的“比例干扰”,“比例干扰”的大小可以用一个定量指标k表示：当k=1时,表示不存在“比例干扰”的影响;k偏离1越远,则“比例干扰”的影响越大。至于“恒定干扰”的影响,则可以利用仪器自身的背景校正方法予以降低或消除。变形标准加入法测定结果不确定度主要来自于背景校正,与所选分析线的信背比密切相关。信背比越低,背景校正的不确定度越高,因此实际分析中应尽可能选择具有较高信背比的分析线,否则,即使事先经过了背景校正,最终的分析结果也可能包含很大的误差。     

直接进样ICP-OES法测定N-甲基吡咯烷酮(NMP)中的12种杂质元素

建立电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定N-甲基吡咯烷酮(NMP)中12种杂质元素(Mo, Cr, Zn, Pb, Ni, Mn, Fe, Cu, Ca, Al, Na, K)的分析方法。将NMP用硝酸酸化后直接进样分析,无需对样品进行消解,避免了样品前处理时引入误差的风险。通过优化等离子体工作参数,减轻了有机溶剂对等离子体的负载,确保了等离子体的稳定工作,优化后等离子体射频功率为1 350 W,载气流量为0.40 L·min-1。采用轴向观测方式获取样品原子化或离子化过程中的所有信号,降低了方法的检出限,提高了分析灵敏度。通过选择各元素合适分析谱线、采用附加氧气除积碳并结合背景校正技术消除了各类谱线及背景干扰,选用标准加入法校正了基体效应,抵消了高浓度有机基质对易电离元素产生的干扰。结果表明,标准工作曲线的线性相关系数在0.999 5～1.000 0之间,检出限在3.8～106.4 ng·g-1范围内,各元素的回收率在92.0%～108.0%之间,11次测定的相对标准偏差(RSD)≤4.8%。方法操作简单,无需复杂的样品预处理,分析速度快,测定结果准确可靠,精密度高,完全满足大批量实际产品的分析要求。方法可应用于NMP产品中杂质元素的监测。     

基于普通汞灯光源的横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法研究

精确的背景校正决定着冷原子吸收法检测痕量汞的检测下限,研究了基于普通汞灯光源的横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法.汞灯光源253.65 nm共振谱线在磁场中垂直于磁场方向产生σ-,σ+和π三个线偏振光.利用超高分辨率光谱仪获取不同磁场强度下汞样品池对σ-,σ+和π线偏振光的吸光度,分析横向塞曼效应背景校正方法所需的最小磁场强度;在1.78 T强磁场强度下,分析了窄带吸收气体苯、宽带吸收气体丙酮对横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法可能存在的干扰;利用σ-,σ+作为背景光,π线偏振光作为吸收光,对不同长度的饱和汞蒸气样品池测量,精确背景校正后,吸光度拟合曲线R值达到0.99.实验结果表明基于普通汞灯光源的横向塞曼效应背景校正大气汞检测方法可以实现精确背景校正,能够应用于大气环境痕量汞检测.     

X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫

采用X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫，代替传统的化学分析方法。原样品粉末直接压片，标准样品采用国际焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片，采用散射线背景校正法校正基体的影响，效果良好，简便易行。本方法的精与准确度均较好。     

X射线荧光光谱分析检出限计算公式

本文根据测量的统计误差理论,对XRFS分析中不同背景和基体校正方式下的检出限述一进行讨论并导出了相应的计算公式,所得结论可作为选择微量元素XRFS分析的背景和基体校正方法以及拟定最佳实验条件以获得最低检出限的理论依据。     

钒钛磁铁矿样品主、次元素的快速分析方法研究

采用SI-PIN半导体探测器、241Am激发源和2048通道分析器及自行研制的SI-PIN 2000便携式X荧光分析仪,对钒钛磁铁矿直接粉末样品中Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu等8个主、次元素进行了分析应用研究。文章叙述了所采用的直接粉末样品法的样品盒结构、基体校正的α系数计算方法、重叠干扰校正原则和漂移校正的方法,并且给出了所选择的分析条件和样品制备方法,分析过程简单、结果准确、分析速度快,特别适应矿山、冶金的生产原料分析需要,有良好的应用前景, 与封闭正比计数器X射线荧光分析仪相比,检出限降低了1个数量级。     

悬浮液进样石墨炉原子吸收法测定近海沉积物中的铜

本文研究了一种使用悬浮液进样石墨炉原子吸收光谱法快速、简便地测定近海沉积物中痕量铜。采用超声波将悬浮液分散，由磁力搅拌器保证悬浮液分散、均匀、稳定，以与样品基体相匹配的近海海洋沉积物成分分析标准物质(GBW07314)进行校正。试验了悬浮液的介质、酸度、悬浮液浓度等因素的影响。本法的检出限为0．6μg／g，加标回收率为88．7％-108％，RSD为2．42％。用于实际样品的分析。本方法准确、可靠，结果令人满意。     

氢同位素分馏效应校正

同位素分馏效应是影响氢同位素丰度准确测定的主要因素。采用系统校正法和分子泵压缩比校正系数法可以较好地解决分馏效应对氢同位素丰度准确测定产生的影响。系统校正法是用标准样品的标称值对测量系统进行误差修正得到系统误差校正系数k，然后通过C校=kC样测，通过对标准样品的测量给出，校正系数k=C标／C标测，用系统校正法校正分析待测样品的丰度值，需要使用气体同位素标准，而分析不同丰度的氢同位素气体样品，需要使用相应丰度值的气体同位素标准。因此氢同位素标准气体的获取以及在储存过程中保持标称值不变是需要考虑的问题。     

手机屏幕保护膜的红外光谱分析

手机屏幕保护贴膜使用广泛,它们一般由基材、吸附层和硬化涂层三层结构组成.本文应用红外光谱分析,建立了手机保护膜的检测方法,并得到了典型样品的红外吸收光谱图,通过谱图分析了解了样品的成分信息.应用该方法,通过实际样品的检测,了解了目前手机保护膜的质量情况.     

ICP—AES法测定钢铁中磷、镍、硅、锰、铬、铜

本文介绍在标准溶液与样品溶液中基体匹配的情况下进行测定,样品用H_2SO_4-H_2O_2分解,试液中加入酒石酸防止Si析出,并对各元素进行适当的背景校正,得到令人满意的测试结果。     

原子吸收光谱分析中背景校正法误差源的研究

本文从原子吸收光谱分析中,背景吸收信号的时间空间特性,和分析背景校正过程的关键环节,指出了误差来源,并提出了相应的数学模式。定量地研究了误差源,结论与分析实践一致。还探求了获得最佳背景校正效果的途径。     

原子吸收自吸背景校正中杂散光的研究Ⅰ——杂散光的性质及其对背景校正性能的影响

在自吸背景校正中不被样品基体吸收的杂散光有不同于氘灯和塞曼背景校正的特殊性。用截止溶液法检验了杂散光的存在,并用重铬酸钾溶液分子吸收模拟背景吸收的方法研究了杂散光的影响。源于空心阴极灯光源的杂散光在样品束(常规脉冲低电流)和参比束(窄脉冲高电流)中的比率有很大的差异,前者比后者更高。这种差异是自吸背景校正误差的重要来源,在高背景校正时引起的误差不容忽视。文章还对杂散光比率与灯电流、光能量和光谱带宽等方面的关系进行了研究。结果表明,杂散光比率与灯电流大小有很大关系,灯电流大,杂散光比率小,但杂散光比率随灯电流的变化与被检测的分析线能量无直接关系;杂散光比率随着光谱带宽的减小而降低,其性质类同于连续光谱。     

光谱多元分析校正集和验证集样本分布优选方法研究

分析了校正集和验证集样品数随性质分布不均匀性对光谱多元分析校正的不良影响,揭示了实际光谱多元校正中“均值化”现象,即性质值小的样本预测值结果偏大,性质值大的则偏小,提出了一种优选样品新方法—Rank-KS。其综合考虑光谱空间和性质空间对样本进行挑选,将性质空间平均分为若干小区间,在每个小区间内分别利用Kennard-Stone法和随机法进行校正集和验证集样本的挑选,这样得到的校正集和验证集可明显改善样本数随性质分布的均匀性。以红外光谱测定汽油中碳酸二甲酯(DMC)含量和近红外光谱测定二甲亚砜溶液二甲亚砜浓度为研究对象,分别采用Rank-KS、随机法、Kennard-Stone、浓度梯度法和SPXY等方法选择校正集和验证集样品,使用多元线性回归和偏最小二乘法建立模型,比较这些方法对光谱多元校正分析的影响,结果表明Rank-KS方法可改善校正集和验证集样品数随性质分布的均匀性;对于样本数分布中间局部样本多和两端局部少、或者局部没有样本的样本集,使用Rank-KS算法挑选校正集,无论使用MLR还是PLS1建立多元分析模型,均能明显改善其模型预测能力,使得到的模型的预测均方根最小。     

微酸量消解-石墨炉原子吸收光谱法测定血中的铬含量

人体血液中铬的含量非常低,常规检测方法难以准确测定。本文用2%(V/V)硝酸消解样品,超声处理,离心分离,塞曼效应校正背景,石墨炉原子吸收光谱法测定血中的铬含量。实测样品回收率为93.4%—100.2%,相对标准偏差(RSD)≤3.3%,最低检出限为0.6pg。方法快速、灵敏地直接检测人血中Cr。