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本文探讨了莫尔偏折术应用的新方法——多光束莫尔偏折术.该法无需测量莫尔条纹偏折角,而是记录条纹对比度最好时试件的位置.文章阐述了其基本原理,并在光栅栅距和光楔楔角测量上进行了实验验证,取得较好的结果. 相似文献
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在相位测量偏折术(Phase Measuring Deflectometry,PMD)中为获取面形梯度,需要分别获取水平和垂直相移条纹图像,因此所需图像通常较多。为了减少条纹投影幅数,提出一种新的基于复合条纹的相位获取方法,通过将水平和垂直相位信息叠加形成斜条纹,实现基于5幅复合斜条纹的相位获取方法,相位测量精度高于5步正交光栅相移方法。进一步当系统存在非线性响应时,提出了基于7幅斜复合条纹的相位获取方法,可有效消除系统2阶非线性误差。计算机仿真和实验表明所提方法切实可行,其测量精度高于采用同样帧数的正交条纹方法。 相似文献
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一、引言本文介绍一种利用光栅形成的莫尔条纹实现光学微分的方法。这种方法简单、方便,不但避免了制作微分滤波器(如计算机绘制光栅和复合光栅)等的困难,而且效果明显。 相似文献
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自动的阴影莫尔轮廓术 总被引:2,自引:1,他引:1
把相移技术用于阴影莫尔条纵分析,从克服了传统的阴影莫尔轮廓术无法判断被测物体表面的凹凸以及测量精度低等缺点;介绍了产生相移的方法,并分析了相移误差,最后对实物进行了测量,给出了实验结果。 相似文献
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利用菲涅耳衍射的频域分析方法,对莫尔条纹复振幅分布公式进行了理论推导,得到了使用两块相同光栅组成的光栅付测量微小角度的原理公式,与利用几何光学等方法得到的结论一致.模拟结果表明:莫尔条纹是光栅付拍现象的最低频率含量,莫尔条纹内含有大量高次谐波|在探测器光学系统放大率一定的前提下,为通过直接测量莫尔条纹宽度的变化达到测量角度变化的目的,必须根据测角精度、探测器的尺寸和分辨率选择合适的光栅付光栅常数和光栅付初始夹角. 相似文献
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获得高质量Moire条纹信号的一种新方法 总被引:1,自引:0,他引:1
在细栅距的幅光栅系统中,衍射效应是很明显的,其能量约占总能量的10~40%左右,这种衍射光是造成Moire光电信号对比度不好和正弦性差的根本原因。本文分析了衍射光栅副±1级Moire条纹的位相关系与光栅副间隙等因素的关系,提出了利用±1级Moire条纹来获得高质量Moire条纹信号,实际应用,效果良好。 相似文献
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提出了利用双计算机光栅实现莫尔拓扑检测的方法.理论分析表明,投影光栅核的横向偏导数为常数是实现灵敏度均匀性检测的必要条件.适当设计光栅核,就可用等间距直条纹来表征标准面形.被测实物面形的缺陷就可通过莫尔条纹相对于背景直条纹的偏移而定量且直观地反应出来.最后,以轮胎镜为例进行了计算机模拟和实验验证. 相似文献
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针对像素不匹配的数字全息存储器中出现的莫尔条纹现象,提出了利用莫尔条纹进行全息存储光路精确调整来实现像素匹配的方法.通过对CCD像面图像中莫尔条纹的周期和角度进行分析,得到光学系统需要的精确调整参数.实验中, 实现了空间光调制器和光电耦合器阵列512×512像素的1∶1像素匹配,该方法能提高读取速度并降低误码率. 相似文献
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针对像素不匹配的数字全息存储器中出现的莫尔条纹现象,提出了利用莫尔条纹进行全息存储光路精确调整来实现像素匹配的方法.通过对CCD像面图像中莫尔条纹的周期和角度进行分析,得到光学系统需要的精确调整参数.实验中,实现了空间光调制器和光电耦合器阵列512×512像素的1:1像素匹配,该方法能提高读取速度并降低误码率. 相似文献
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Yande Xu 《Optical Review》2004,11(5):303-307
This paper proposes a new measuring method called two-period interference fringe interferometry, for a step-profile altitude difference measurement. The principle of the method is different from that of the two-wavelength interferometry which is widely known. The two interference fringes with only slight difference between their spatial periods are obtained by turning a binary step-grating, and they produce a synthetic equivalent period much longer than either of the two periods alone. The interference fringes are produced by the ±1st-order beams diffracted from the grating. The intensity distribution of the interference pattern is independent of the wavelength of the laser-diode light source used. The measuring range of this method is much larger than that of the two-wavelength interferometery. Sinusoical phase modulating technique is easily applied to detect the phase distribution of the interference pattern by vibrating the grating sinusoidally. A plane reflector of 3mm thickness is measured to verify this novel method. 相似文献