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高温Raman光谱测试技术进展 总被引:8,自引:1,他引:8
高温Raman谱是现代揭示物质分子结构的主要手段之一。上海市钢铁冶金新技术开发应用到为能在高温下对冶金熔体等物质进行Raman光谱的测定。研究分析了国际上的各种测定高温Raman光谱的方法,实施了对JY U1000型Raman光谱仪的改造,以及提出阱一步提高谱仪高温测定性能的方案。 相似文献
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根据粒子的光散射、散斑成像理论,建立了两相流动粒子相对数量浓度与粒子散斑图像强度之间的线性关系, 通过数字图像分析和处理技术进行污染扩散相对瞬时全场浓度的测量。利用粒子散斑成像测量原理自行设计了大范围瞬时浓度场测量系统,并利用该系统对烟雾扩散的瞬时浓度场进行了实际测量。 相似文献
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用冲击法测磁感应强度,要求电量冲击时间τ远远小于冲击电流计自由振动周期,否则,光标最大偏转格数d_m偏小,产生较大的测量误差。本文给出一种分析方法,并对误差进行了定量的计算。一、理论分析与计算冲击电流计运动方程为 J(d~2a/dt~2)+P(da/dt)+Da=Φi(t) (1) 式中J为转动惯量,P为阻尼因数,D为扭转系数,Φ为固有磁通,i(t)表示脉冲电流,而a表示转动系统的偏转角。设i(t)由实验者操作换向开关而产生,按电磁感应原理,i(t)将是两个间隔为τ的脉冲,τ是开关反转一次所需时间,如图所示。设两 相似文献
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为了实现对薄膜和镀层材料厚度的微区无损分析,利用多毛细管X光会聚透镜和多毛细管X光平行束透镜设计并搭建了普通实验室X射线光源的共聚焦微束X射线荧光测厚仪,对该共聚焦测厚仪的性能进行了系统表征。利用该测厚仪测定了厚度约为25μm的Ni独立薄膜样品和压于硅基表面厚度约为15μm的Ni薄膜样品厚度,对应它们的相对测量误差分别为3.7%和6.7%。另外,还对厚度约为10μm Ni薄膜样品的厚度均匀性进行了测量。该共聚焦测厚仪可以对样品进行微区深度分析,并且具有元素分辨能力,从而使得该谱仪可以测量多层膜样品不同层的膜厚,在薄膜和镀层厚度表征领域具有潜在的应用。 相似文献
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光测技术又称光测法,是用光学方法测定非光学量的测试技术,也是实验应力分析的重要方法,主要用来测定模型或实物的应力、应变和位移。由于光测法具有能直观、全貌地反映结构物中的应力分布情况;可以方便、迅速地获得边界条件,求出结构物内部任意位置处的应力,测出各种应力集中系数;适合于几何形状、受力情况比较复杂的结构应力分析,能经济、省时和有效地解决问题等特点,长期以来为人们所重视,被广泛应用于航空、航天、造船、机械、建筑、医学、军事等,在农业工程方面也有着较广泛的应用,解决了大量的复杂问题。 相似文献
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从理论上进行定量分析冲击法测磁感应强度的实验,指出了脉冲电流的作用时间是影响测量结果的主要因素,给出了修正实验结果的方程式。 相似文献
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光的干涉法测金属线胀系数 总被引:6,自引:0,他引:6
当用两块平板玻璃制作出的空气劈尖顶角发生变化时 ,应用 CCD可观察到劈尖表面移动的干涉条纹。移过某一点的干涉条纹数决定劈尖项角的变化。若劈尖项角的变化是由金属受热膨胀引起的 ,则可导出金属受热膨胀的绝对伸长量与移过的条纹数之间的关系 ,并通过它计算金属的线胀系数。通过对黄铜棒的测量 ,结果表明该方法是可行的 相似文献
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本文提出一个价值函数,作为高速光测装置的评价准则。此函数建立在装置可能获得的信息容量和质量的基础上,例如,数据锐度和装置的多功能性等。 相似文献
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本文讨论了高温等离子体中X光弛豫过程。由于描写辐射弛豫过程的动力学方程组具有很强的刚性,解起来很困难。引入参数E_n~e、E_g~b、E_(ng)……(E≤1),使方程组的刚性度减低,从而使计算容易进行,我们称它为E方法。并用此方法来研究X光的弛豫过程。 相似文献
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材料在加工中由于夹渣、孔洞、缝隙等原因会造成材料内部的非均匀性,在机械或热载荷下内部的缺陷将通过变形表现在外表面,即使这种变形量十分微小,数量级小于0.1μm,一般测量仪器无法测出,但对于精密微电子器件(MEMS)、精密机械等,这种缺陷是致命的。针对上述问题设计了一套专门检测材料在热载荷、机械载荷或两者耦合情况下变形的系统,并应用该系统对金属材料(LY12)表面裂纹在热载荷场下的变形进行了测量,得到了裂纹扩展的变形矢量图。该系统为一套集显微观测、数字图像处理、加载及照明等关键技术为一体的非接触、全场测量,结果可数字化输出的系统。 相似文献