第21届Durham X射线分析会议简介

1999年 9月中旬 ,位于英国伦敦北面约三小时火车旅程的 Durham小镇 ,又迎来了两年一次的第 2 1届 X射线分析会议。这次会议仍然包括了 X射线荧光 ( XRF)和 X射线衍射 ( XRD)两大部份。来自美国、沃大利亚、荷兰、比利时、挪威、德国、中国和英国等地的 X射线分析学者近百人出席了这次会议。笔者受邀参加 ,现就会议有关 XRF的主要内容作一简单介绍。1　会议概况总共三天半的会期中 ,两天为大会报告 ,另外一天半为 XRF和 XRD分组报告。为了适应不同与会者的需要 ,从本届会议起 ,增设了 XRF和XRD两个入门讲座。其中的 XRF入门讲座…     

X射线吸收分析法简介

近十余年来,X射线化学分析法已被广泛采用。利用X射线进行化学分析,有三类不同方法:衍射分析法,发射光谱分析法和吸收分析法。衍射分析法常称物相分析,它是根据晶态物质的X射线衍射花样的特征和衍射线的强度来进行定性与定量分析的。分析结果直接给出样品中所含晶体的种类、数目及其相对含量。非晶态物质沒有一定的衍射花样,故不能用此法分析。发射光谱分析法(包括初级发射光谱法及熒光X光谱分析法)的原理与通常的光学光谱分析法相同,是根据各种元素所固有的特征X射线的波长及强度来进行定性定量分析的,分析结果给出样品中所含元素的种类及含量。上述二法本刊已先后作过介绍,本文之目的是要对吸收分析法的原理、设备及应用作一简要介绍。     

北美第37届热分析会议综述

北美第37届热分析会议是由北美热分析学会(North American Thermal Analysis Society)组织,美国德克萨斯技术学院(Texas Tech. University)承办,在美国Lubbock市举行,共计5天(2009.09.19～23). 参加会议的热分析专家来自美国,英国,德国,日本,加拿大,瑞士,中国等十几个国家,会议代表有热分析理论,实验,应用和仪器制造方面的学术权威,教授,专家,学生约500余人,发表论文300余篇.     

会议消息第三届全国X射线荧光光谱分析学术报告会

本会于1988年10月17日至22日在安徽省黄山市举行。这次大会由中国地质学会和中国光谱学会联合举办,安徽省地质实验研究所为东道主。会议收到论文69篇,大会交流的论文共有52篇,到会代表共86人。会议上大会报告两天,分组报告两天,论文的质量从深度和广度方面都有所进展,水平有所提高。会议开得紧凑、活泼,收到了大会所预期的效果。大会报告如X射线荧光光谱分析进展,第37届月佛国际X射线分析会议概况,长波段X射线荧光光谱谱形分析,能量色散     

第12届全反射X射线荧光分析以及相关方法会议 (Ⅱ)

会议交流论文共33篇, 现分述如下: (1) 墨西哥T Martinez, Teothuacan城太阳金字塔下洞穴中渗入的水的物质应用全反射X射线荧光谱与其他技术测定; (2) 墨西哥T Martinez, 应用全反射X射线荧光谱技术于烟草试样中痕量元素的测定;     

第12届全反射X射线荧光分析以及相关方法会议(Ⅰ)

本届会议于2007年6月18日至22日在意大利Trento市召开, 由Universita Degli Studi di Trento大学主办、国际原子能机构(IAEA)协办.内容涉及: (a) 微电子学方面的应用;(b) 有关仪器与技术的研、发;(c) 文化遗产及其保护方面的应用;(d) 环境与工业方面的应用;(e) 生物学与医学方面的应用;(f) 特殊应用以及相关方法.     

多功能X射线谱分析程序PAXMF简介

本程序根据AXIL程序的拟合函数用多次迭代的最小二乘法拟合、分解复杂X射线谱,除能计算各元素的特征峰面积和标准差外,还能计算相对灵敏度因子;直接给出待测试样中各元素的含量;给出待测试样的实际检测限;扣除空白试样中各杂质元素的贡献;批量处理能谱100个。该程序用FORTRAN-Ⅳ语言编写,在PDP11/23小型计算机上使用,适用于PIXE、EDXRF分析。     

第42届匹兹堡分析化学及应用光谱学会议简介

第42届匹兹堡分析化学及应用光谱学会议于1991年3月4日～8日在美国芝加哥召开。这次会议共接收论文1400多篇,参加展出的公司达970家,分2700多个摊位。参加会议及展览的人数达3万人。论文报告分140多个专题进行,涉及以下几个方面:<1>原子吸收/电感耦合等离子体,<2>自动化/计算机,<3>生物分析、临床和药物分析,<4>毛细管电泳,<5>电化学,<6>环境分析,<7>食物分析,     

第三届国际药物分析会议简介

第三届国际药物分析会议由比利时药学会和比利时安特卫普大学药学系共同组织,于1989年5月16至19日在该大学举行,这次会议的宗旨是邀请来自工业部门、大学、医院以及质量控制实验室的人士一起讨论分析技术的现状,包括仪器应用和理论进展两方面,     

荧光X射线分析装置

本发明的课题在于提供一种进行氮置换的荧光X射线分析装置，容易更换试样室和照射室之间的隔壁膜，在分析时，试样室的空气不流入照射室。第1支架（21）按照其窗（21a）与试样室（3）和照射室（8）之间的壁部（4）的窗（如）重合的方式气密地安装于壁部（4）上，按照覆盖第1支架的窗（21a）的方式设置隔壁膜（9）。第2支架（23）按照其窗（23a）夹持隔壁膜（9），与第1支架的窗（21a）重合的方式设置。     

X射线荧光分析古钱

在X射线荧光分析中,由于荧光发生于样品的表层,因而样品表面状态对分析结果很重要。一般,在X射线荧光分析中,都要把待测物表面加工为光洁而平整的表面。但对古物的研究,不允许对古物作损伤性处理。因而用X射线荧光分析法测定表面粗糙的古物时的精确     

X射线荧光光谱法在稀土元素分析中的应用

本文研究了Ｘ射线荧光光谱在混合稀土氧化物和高纯稀土氧化物分析中的应用，并探讨了在常量分析中影响分析准确度和精密度的主要因素；样品及标样制备，基体效应校正方法在痕量分析中降低检测限的方法，选择最佳测量条件，降低背景，与分离富集手段相结合，取得满意的结果。     

X射线微量物相分析

前言固体微粒的X射线物相分析,可用以研究合金、矿物、颜料、空气或水里的污染粒子以及其它晶体微粒。在通常的实验条件下,使用X射线照相法能测定直径约在十微米(相当于微微克数量级)的单个固体微粒。但是在研究混合物样品的微粒时,困难就较大一些。由于样品中待测物质的量较少,信息微弱,所摄取的底片中往往只能显示一小部分衍射线条,而且,各组分的衍射线还可能重迭干扰。这些不利因素都会影响分析的结果。     

X射线荧光与粒子激发X射线光谱分析

本文是《分析试验室》定期评述“Ｘ射线荧光光谱分析”系列评论第７篇,简述了１９９６年７月至１９９８年６月国内Ｘ射线荧光光谱分析技术发展的概况,从Ｘ射线荧光光谱仪的研制与改造、特殊激发方式的研究与应用、化学计量学与数据处理方法研究、化学态分析、标准物质与样品制备、测定方法研究与应用６个方面评述了国内Ｘ射线荧光与粒子激发Ｘ射线光谱分析进展。共收录国内学者论文及相关文集１４３篇。     

X射线衍射仪

<正>日本理学D/max-1200型X射线衍射仪(XRD)日本理学D/max-1200型X射线衍射仪(XRD)可用于物相分析检测;无机物、有机物的定性及半定量分析;检测滑石粉、矿棉等样品中的石棉;分析检测聚合物、纤维素等样品的结晶度。仪器应用广泛,检测数据准确可靠。主要技术指标:功率:3 kW;管压:20～60 kW;管流:2～80 mA;测角仪精密度:±0.001o(2θ);扫描速度:0.01～100o/min(2θ);扫描范围:1.5～150o(2θ)。     

第23届国际色谱会议简介

国际色谱会议由色谱学学会主办 ,该学会为一国际性组织 ,致力于增进和传播有关色谱技术的各个方面及其相关分离技术的知识。会员的国别已超过 40个 ,学会的日常工作由会员选出的执行委员会主持。该学会的学术活动有 :( 1 )每年组织为期 1～ 2日的国际性或全国性 (指联合王国 ,因该学会的秘书处设在该国 Nottingham市 )的专题会议 ;( 2 )从 1 956年开始 ,每两年举办一届国际色谱 (广范性 )会议。该学会的学术活动刊载于已创刊 1 3年的机关刊物—— LC- GC Europe月刊。本届会议是继 1 956、1 982年后第 3次在伦敦市召开 ,会议于 2 0 0 0年…     

多晶X射线衍射技术与应用

正本书系统地介绍了多晶X射线衍射技术的原理、仪器、方法和应用。全书内容循序渐进,在介绍X射线的物理基础、射线强度检测技术及其发展、晶体和晶体衍射的理论知识基础上,着重阐述了X射线衍射仪器和多晶衍射仪的原理,详细论述了如何获得正确的衍射数据、如何评估衍射实验数据的可信度以及仪