共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
2.
正交光栅投影的相移轮廓术(PSP),可通过某一特定方向的相移(常利用相移调节因子来控制相移方向),获取两个相互正交的相位.但该方法对系统的非线性响应敏感,且目前尚未被深入讨论.为此,分析了系统的非线性响应对正交光栅相移轮廓术测量的影响,推导了带有非线性误差的相位表达式,并分析了两个方向相位相互串扰的原因.在此基础上,分... 相似文献
3.
4.
一种新的相位测量轮廓术 总被引:5,自引:6,他引:5
首次提出了变精度二次测量轮廓术,利用这一技术,在相位过程中,对有断点及边介区域也能得到正确的去包裹相位值。文中讨论了相位恢复的误差容限。最后,把这一技术用于三维面形测量中,并得到了较好的实验结果。 相似文献
5.
两步相移实现投影栅相位测量轮廓术 总被引:7,自引:2,他引:7
提出一种新的投影栅相位测量方法--两步相移法。该方法只需两幅相移条纹图,因此计算量小,速度快。给出了实验及计算结果,并同四步相移法进行了比较,证明了该方法具有较高的精度。 相似文献
6.
7.
8.
9.
一种新的基于条纹投影的三维轮廓测量系统模型 总被引:1,自引:0,他引:1
提出一种新的光栅条纹投影轮廓测量术系统模型,新模型不要求测量系统满足光心连线平行于参考面、成像系统光轴垂直于参考面以及两光轴相交于参考面上等约束条件,只需投射至参考平面的正弦光栅条纹之间相互平行,简化了系统校准过程,有利于现场测量。得到的高度相位映射关系式中,待标定的系数与像点的坐标无关,不需要对每一个像点进行采样,能够减少系统标定所需的时间。实验表明:所提方法使投影装置和成像系统的位置校准过程简单,提高了系统标定的速度,且具有较高的测量精度,能够测量复杂面形的物体,增强了光栅投影三维测量系统的实用性。 相似文献
10.
用于动态测量的双通道光学相位测量轮廓术 总被引:5,自引:3,他引:2
提出了利用编码光两个采样值实现相位测量轮廓术的原理。设计了一种偏振分光双通道测量系统,实现了两个采样值的同时记录,因而实现了动态测量,拓展了相位测量轮廓术的应用范围。文中给出了实验结果。 相似文献
11.
12.
13.
14.
相位测量轮廓术中随机相移误差的校正算法 总被引:19,自引:10,他引:9
在相位测量轮廓术(PMP)中.随机相移误差足导致测量误差的重要因素,提出一种新的随机相移误差的校正算法,在五步相移的基础上不需要求解相位分布.通过近似处理可以直接求解相移过程中存在的随机相移误差,在保证精度的情况下,能大大减少迭代次数和计算量。推导了新算法的计算公式,详细说明了随机相移误差的求解过程。计算机模拟和实验证实了新的算法的有效性。与In-bok Kong的算法相比较,新算法能大大减少迭代次数和计算量。该新算法也同样适用于相移干涉计量。 相似文献
15.
16.
17.
基于傅里叶频谱分析的相位测量轮廓术系统Gamma非线性校正方法 总被引:2,自引:0,他引:2
数字投影和成像系统的Gamma非线性效应是导致相位测量轮廓术(PMP)测量误差的重要原因。目前大多采用多帧条纹图进行Gamma校正,使测量的实时性受到限制。提出了一种Gamma校正方法,利用正交光栅像的傅里叶频谱分布计算Gamma值,再根据此Gamma值对投影相移条纹进行Gamma逆变换,实现投影条纹输入值的提前校正,以获取具有良好正弦性的结构条纹,从而降低PMP相位测量误差。校正过程中只需一帧条纹图,而且考虑了测量系统的离焦效应。实验证实了该方法的有效性和正确性。 相似文献
18.
相位测量轮廓术中三维坐标校准新方法 总被引:23,自引:9,他引:14
提出了一种新的用于相位测量轮廓术中的三维坐标校准方法。该方法用一个含有三个虚拟校准平面的标准块代替传统相位测量轮廓术校准方法中使用的标准平面,每个虚拟校准平面由多个高度相同但空间离散分布的子区域组成,相应的连续相位恢复是通过一个迭代过程实现的,同时各个子区域还被用于横向坐标的校准。由于各个虚拟校准平面间高度是垂直变化的,传统的相位展开不能得到正确的相对位置关系,基于等效波长概念,提出了一种准确的虚拟校准平面连续相位间相对位置恢复的办法。此校准方法的特点是:在校准过程中不需要标准平面的多次精确平移;仅需要一次测量就可以完成高度和横向坐标的同时校准。文中给出的实验结果说明了该校准方法的有效性和可行性。 相似文献
19.
彩色组合编码条纹光栅轮廓术 总被引:8,自引:2,他引:6
研究了一种新的编码光栅投影三维轮廓术。其中投影光栅利用彩色空间红、绿、蓝三基色相互独立的特性,用彩色条纹对光栅进行编码,以白色条纹为起始位,后接红、绿、蓝(R、G、B)三种颜色的条纺组成一组。改变红、绿、蓝的排列顺序可使各组有不同的编码。根据排列组合原理,红、绿、蓝三色可有6种不同的排列方式。经过编码处理的光栅在保证测量精度不变的前提下,加大了高度测量的范围。由于每条纹只采用0和255两个状态,因此具有较强的抗干扰能力。测量的精度主要取决于图像的分辨率。 相似文献