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1.
铝Kα吸收谱测量
杨家敏张继彦
丁耀南杨国洪靳凤涛
袁建民李军 汪艳
《工程物理研究院科技年报》
2004,(1):66-67
从20世纪80年代开始,国外多家实验室采用点背光法进行了中低Z材料的K壳层和三壳层X射线吸收谱的实验研究工作。国内从20世纪90年代中开始在星光装置上开展辐射不透明度的实验探索,建立了一系列的诊断技术,
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