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印制电路板自动测试技术与发展 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍了印制电路板的自动测试技术,包括在线测试、边界扫描测试、非向量测试、红外热图象测试等技术。阐述了每种测试技术的特点,并探讨了印制电路板ATE的发展方向。 相似文献
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介绍了广播电视发射机指标自动测试系统的设计思路、系统组成及主要功能,并对系统的设计特点进行了总结.该系统实现了计算机技术与广播电视专用测试仪器的结合,提高了测试的精度、效率及设备管理水平. 相似文献
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元器件应用验证包括多个验证项目指标,不同验证项目下元器件的应用状态、应用电路存在差异。此外,由于温度、幅度和频率等测试条件的多样化,并且其对应用具有较为重要的影响,因此需要采用各种条件交互组织的方式进行器件的应用验证。以PC主机为载体,通过程控示波器、信号源等外接设备完成了一种通用模拟开关器件自动测试验证装置,并开展了ADG506ATE模拟开关电路的验证测试。其测试结果与器件手册指标基本一致,表明符合设计要求。该测试装置简单,无需依赖昂贵的集成电路测试系统即可实现多种器件的基础测试工作,并且由于整个测试过程通过程控实现因而具有较高的测试效率,具有较高的实用价值。 相似文献
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飞机无线电导航设备自动测试系统设计 总被引:1,自引:0,他引:1
采用最新虚拟仪器及自动测试技术,基于PXI模块和GPIB仪器设计了一套可对无线电高度表、测距仪、防撞与告警系统、无线电罗盘及多模接收机进行综合测试的飞机无线电自动测试系统,给出了软硬件设计方法及接口适配、设备激励、ICD管理等关键技术的实现思路。 相似文献
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基于虚拟仪器技术的短波电台自动测试系统 总被引:1,自引:0,他引:1
描述了如何采用基于虚拟仪器技术快速方便的开发短波电台自动测试系统,与传统仪器测试平台相比,测试效率更高,体积更小。[编者按] 相似文献
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MasaharuGoto Klaus-DieterHilliges 《半导体技术》2003,28(6):41-43
在单颗硅芯片上设计更多系统功能(SOC)的趋势,增加了IC的开发与制造测试的复杂度。未来对于较高速度与较多管脚数的需求,将使传统的自动化测试仪器(ATE)变得非常昂贵。为了减轻开发工作的负担及降低制造测试的成本,不得不寻求知识产权(IP)的再利用与可测试性设计(DFT)技术。本文介绍一种新的多端口ATE结构,它是为基于IP的测试开发与执行而设计的。这种结构提供刚好足够的能力来测试芯片,以降低ATE的资本成本,并广泛使用平行测试来提高产能。 相似文献
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更高速CMOS VLSI,特别是RISC和CISC的发展,要求用来测试这些器件的ATE增加高频测试能力。本文分析测试仪管脚电子电路特性和DUT到测试仪的接口,以及在这些领域对ATE提出的新要求。 相似文献
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温补晶振补偿电压自动测试系统 总被引:2,自引:1,他引:1
对温补晶振补偿电压的测试进行了讨论,设计提出了一种温补晶振热敏网络补偿电压的自动测试系统,以计算机为控制核心,结合应用软件,对系统中的程控设备仪器进行操作控制,实现了测试过程的自动控制,补偿电压的自动测量,测试数据自动分析以及数据自动记录存储功能,提高了测试数据的可靠性,提高了生产效率和产品质量。 相似文献
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内部示波器是ATE测试设备上的一个调试工具模块,它的主要功能就是可以动态地显示ATE被测芯片某个输出管脚的实时波形,是ATE测试设备进入中高端市场必备的一个模块。对于测试工程师来说,在编写测试程序或者调试测试程序的时候,相对于外部示波器来说,内部示波器的优点是非常明显的。本文主要讨论了如何在数字ATE上实现内部示波器的功能,以及实现上的一些难点和波形优化的问题。 相似文献
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电流输出控制设备在ATE上的TPS开发设计 总被引:1,自引:1,他引:0
简要阐述了ATE测试平台的应用背景和在电子设备测试维修中的必要性,对ATE测试平台的功能、组成和工作原理做了概括描述。介绍了测试程序集(TPS)的组成及在ATE测试平台上的开发设计思路。并以电流输出控制设备为例进行TPS开发设计,在分析了电流输出控制设备测试需求的基础上,具体设计了电流输出控制设备在TPS开发中的测试接... 相似文献
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虚拟仪器技术是测试领域的重要发展方向,在IC测试中也有广泛应用。传统IC测试技术主要基于传统自动化测试系统(ATE),随着IC设计和制造技术的进步,普通IC测试系统已不能满足研究和生产需要。文章介绍了一种利用虚拟仪器技术与传统IC测试系统结合的测试方案。该联合测试系统把传统测试系统、数据采集卡和分立仪器通过LabVIEW程序联合在一起。系统组成包括硬件和软件两部分,其中硬件部分由ATE系统、测试PC和示波器组成,软件使用LabVIEW程序编写,完成仪器控制、数据采集和报表生成等功能。该系统已完成了某型号数模混合电路的测试。 相似文献
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微控制器具有体积小、质量轻、功耗低以及使用方便等特点,被广泛应用于嵌入式电路设计中。在电路中,微控制器能否正常工作,将直接影响整个电路工作状态是否稳定。为了提高电路的可靠性,对微控制器进行筛选测试是十分必要的。本文基于ATE设备,阐述了一款微控制器的测试方法。文章从ATE设备原理和微控制器的测试方法(连接性、功能、直流参数)进行探讨,并对微控制器进行了测试性验证。实验结果进一步表明了合理的测试方法对测试稳定性和测试有效性的重要性。 相似文献
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