稀土杂质对硫氧钇铕发光亮度的影响

为了确定红色荧光粉硫氧化钇铕的基质材料氧化钇的规格(主要是指纯度),同时也为了提高硫氧化钇的亮度和改善其它的性能,我们进行了稀土杂质对硫氧化钇铕性能的影响的试验,以下简称“掺杂”试验。 一、对硫氧化钇铕进行单项稀土杂质的掺杂试验。 1.单项掺Tb、Pr、Er、Sm、Ce、Yb所用基质材料氧化钇中的杂质含量如下:     

PSO萃取色层分离原子发射光谱测定氧化钇中十四个稀土杂质

本将石油亚砜浸渍在一种特制的吸附树脂上,用ＰＳＯ为固定相的萃取色层法分离氧化钇中痕量稀土杂质,可以分析６－７Ｎ级的氧化钇样品,加入试验的回收率为６７－１２０％,相对标准偏左为±４－１９．４％。     

发射光谱测定微量稀土杂质用的一种新的载体KBH4的研究

介绍了高纯稀土氧化物中微量稀土杂质的光谱测定方法，本工作用碳粉做缓冲剂，ＫＢＨ４做载体，用化学方法将大量稀土分离掉，而后对余下微量和稀土杂质进行光谱测定。只要取样量不少于１克，则可测定的纯度为９９．９９９９５％的稀土样品。     

高纯氧化镧中微量稀土杂质的化学光谱法测定

本文介绍了高纯氧化镧中微量稀土杂质的化学光谱测定，将Ｌａ２Ｏ３通过Ｐ５０７萃淋树脂分离富集，将大量基体分离掉，剩下微量的稀土杂质，用Ｃ粉吸附后加ＫＢＨ４做载体进行光谱测定。本方法可测定９９．９９９９％纯度的Ｌａ２Ｏ３中的微量稀土杂质。     

P507萃淋树脂化学光谱法测定高纯氧化镧中痕量稀土杂质

一、前言有关高纯稀土中痕量稀土杂质的化学光谱法,常采用萃取色层法进行分离。斯玛涅科娃最早曾用P204为萃取剂、硅球为载体、用0.4N盐酸淋洗,使镧与铈等其它稀土元素分离,用于高纯氧化镧中微量稀土杂质测定。但此法镱、镥等元素不易反萃,且萃取剂及硅烷容易流失;由于P507比P204可在较低酸度下进行分离,有利于重稀土的反萃,已开始用于高纯氧化钇及氧化钕的测定,但此法由于采用纯盐酸体系,主体拖尾现象严重,与杂质元素不易达到较好的定量分离,且萃取剂仍易流失,使浓缩物中含有大     

电感耦合等离子体法测定高纯氧化铕中14个稀土和20个非稀土杂质

本文提出了用ICP-AES直接同时测定高纯氧化铕中14个稀土和20个非稀土杂质元素的分析方法。着重考察了铕基体对分析元素的基体效应,谱线干扰及背景影响等情况,同时对仪器的工作条件进行了优化。在标准溶液中改变了以往对高纯物质进行分析时常常忽略基准物质中的含量,而用标准加入法测出氧化铕基准中的各稀土微量杂质元素的含量作为低标值,有效的消除了由于忽略基准中的杂质元素的含量给分析测定带来的误差。在本工作所选定的条件下,各稀土元素、非稀土元素的回收率在90％-112％之间,稀土元素的精密度实验显示相对标准偏差为1.12％-9.5％。对不同稀土分离厂家的样品进行了检测,结果令人满意。     

直流等离子体-中阶梯光栅光谱仪测定高纯氧化镧、氧化钇中稀土杂质

本文采用中阶梯光栅光谱仪,直流等离子体光谱法测定高纯(99.99%)氯化镧、氧化钇中稀土杂质元素,由于仪器具有很高的色散率,因而方法具有灵敏度高、干扰少的特点。     

彩色电视荧光级氧化钇中稀土杂质的ICP—AES测定

本文采用国产ＷＰ－２Ｌ型平面光栅摄谱仪配置国产ＧＰ３．５Ｄ型ＩＣＰ光源进行了彩色电视荧光级氧化钇中１４个稀土杂质元素分析方法的研究。样品溶液以不去溶方式引入ＩＣＰ。当样品溶液中Ｙ２Ｏ３的浓度为２０ｍｇ／ｍｌ时，测定了限分别为铕，镱和镥０．０００２０％，镧，铈，钕，钆，镝，钬，铒和铥０．０００５０％，镨，钐和铽０．００１０％。相对标准偏差为３．２－９．８％。     

彩色电视荧光级氧化钇中稀土杂质的ICP－AES测定

本文采用国产ＷＰ－２Ｌ型平面光栅摄谱仪配置国产ＧＰ３．５Ｄ型ＩＣＰ光源进行了彩色电视荧光级氧化钇中１４个稀土杂质元素分析方法的研究。样品溶液以不去溶方式引入ＩＣＰ。当样品溶液中Ｙ２Ｏ３的浓度为２０ｍｇ／ｍｌ时，测定下限分别为铕、镱和０．０００２０％，镧、铈、钛、钆、镝、钬、铒和铥０．０００５０％，镨、钐和铽０．００１０％。相对标准偏差为３．２～９．８％。     

高纯氧化钆中14种稀土杂质元素的柱色谱分离ICP-AES法测定

用Ｐ５０７萃淋树脂柱色谱法分离高纯氧化钆基体与稀土杂质。用ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定高纯氧化钆中微量稀土杂质。选择了柱色谱分离的合适条件。优化了仪器测定参数。使本方法测定稀土总量下限小于１×１０－５％。可以满足９９．９９９９％高纯氧化钆的测定。此方法回收率在８５％－１１０％之间。相对标准偏差小于１８％。     

用ICPS-PGS2扫描直读光谱仪直接测定高纯氧化铥中的十四个稀土杂质

本文选出了用改装的ICPS-PGS2单道扫描直读光谱仪直接测定高纯氧化铥中十四种稀土杂质的最优测量条件。考查了氧化铥基体对被测稀土元素的干扰和稀土元素间的相互干扰。在优化实验条件下,本方法测定下限为在10~(-2)～10~(-4)%之间,标准加入回收值在86.6%～115%之间,样品分析的相对标准偏差小于6.7%。本方法可适用于纯度小于99.95%氧化铥中十四个稀土杂质的例行分析。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化铈中11个稀土杂质的研究

报道了用电感耦合等离子体质谱法（ＩＣＰ－ＭＳ）测定高纯氧化铈１１个痕量稀土杂质的方法。分析讨论了氧化铈对测定元素所产生的谱干扰和基体效应，考察了Ｔｌ，Ｇａ，Ｃｓ，Ｉｎ等内标补偿基本抑制效应的作用，用此方法测定１１个稀土杂质的检出限为０．０１７－０．４０ｎｇ／ｍＬ，精密度（ＲＳＤ）为２．６％－８．２％，加标回收率为９６．７％－１０７．９％，分析时，不需要预分离和富集，酸溶后可以直接测定。     

ICP-AES法测定高纯氧化铕中微量稀土和非稀土杂质时光谱干扰的消除及分析条件的优化

本文提出了ＩＣＰ－ＡＥＳ直接同时测定高纯氧化铕中１４个稀土和２０个非稀土杂质元素的分析方法。着重考察了铕基体对分析元素的基体效应，谱线干扰及背景影响等情况。用标准加入法测出氧化铕基准中的微量杂质元素，消除了由于忽略基准中的杂质元素的含量给分析测定带来的误差。同时对仪器的工作条件进行了优化。     

稀土及杂质元素对ZA27合金晶间腐蚀的影响

为了从本质上了解杂质与稀土元素对锌铝合金晶间腐蚀的影响 ,探索抑制合金晶间腐蚀的有效途径 ,依据晶界的大角度重位点阵理论编制出相应计算机软件 ,建立含稀土、杂质及 η相颗粒的α相大角度晶界原子集团模型 ,采用递归法计算了α相晶界间的电荷转移 ,由此讨论了杂质 (Pb、Sn、Cd)及稀土元素 (La、Y)对Zn、Al电极电位的影响 .结果表明 ,杂质Pb、Sn、Cd增大原子间的电荷转移量 ,提高Zn、Al电极电位差 ,加速合金的腐蚀 ,稀土元素减小原子间的电荷转移量 ,降低Zn、Al电极电位差 ,具有抑制晶间腐蚀的作用 .     

HEH[EHP]萃取色层分离-原子发射光谱测定超高纯氧化钬、氧化铒中痕量稀土杂质

本文研究了２－乙基己基膦酸单２－乙基己酯萃取色层分离－原子发射光谱测定超高纯Ｈｏ２Ｏ３、Ｅｒ２Ｏ３中良量稀土杂质,可用于９９．９９９９％Ｈｏ２Ｏ３、Ｅｒ２Ｏ３的纯度分析。     

高纯氧化钆中非稀土元素的发射光谱测定

随着科学技术的发展,高纯稀土的应用日益广泛。氧化钆作为固体发光材料的基质,含有微量杂质元素则明显影响其发光性能,有些元素甚至使荧光猝灭。因此检测高纯氧化钆中的微量杂质元素含量是很有实际意义的。国内外对于氧化钆中非稀土元素的光谱法测定的研究工作不多。В.И.Кочина等报导以Ga_2O_3为载体测定了Gd_2O_3中11个微量元素。本文是用原子发射光谱法测     

ICP-AES测定Nd-Pr合金中的杂质元素

用ICP－AES同时测定了Nd-Pr合金中的Dy、Gd、La、Sm、Ce等5种稀土杂质元素，并研究了基体元素Nd及主量元素Pr对杂质元素的光谱干扰，选择了合适的分析线，用基体匹配法对存在的背景干扰进行了校正。方法的检出限为0．009－0．044μg/mL；回收率为90％－103％。该方法准确可靠、简便快速。     

ICP-AES在高纯稀土氧化物分析中应用的研究Ⅶ——ICAP9000多道光谱仪用于15个稀土杂质元素同时测定的评价

前言ICP光量计(多道光谱仪)在高纯稀土氧化物分析中的应用的报导还较少,本文将在以前摄谱分析法工作的基础上,对ICAP9000型多道光谱仪的稀土通道用于La_2O_3、CeO_2、Pr_6O_(11)、Nd_2O_3、Sm_2O_3、Y_2O_3等高纯稀土氧化物或它们的杂质富集物中15个稀土杂质元素同时测定的能力(主要是校正光谱干扰效应的能力及对各稀土杂质元素的检出能力)进行评价。     

ICP—AES摄谱法测定纯氧化铽中的稀土杂质

本实验建立了以国产ICP-AES摄谱仪测定高纯氧化铽中十个稀土杂质氧化物的分析方法,其测定下限总浓度为0.145%,回收率为89～107%,对国内稀土产品分析及控制具有实用意义。     

微量稀土元素光谱测定的研究

近年来,由于高纯稀土氧化物在发光材料、磁性材料等方面的应用和研究工作逐渐增多,因而不仅对稀土氧化物纯度分析提出了很高的要求,而且要求分析的杂质元素的数目也不断增多。对于纯度高于99.99％的稀土氧化物中稀土杂质的测定,或者对于纯度在9.99-99.99％左右的谱线复杂的稀土氧化物分析,直接光谱就难以满足要求,而需要籍助化学富集和分离。为了提高分析灵敏度及准确度,许多作者进行载体作用等方面的研究。Y.Osumi在测定Eu_2O_3Y_2O_3和Nd_2O_3中的稀土杂质分析时,对载体的选择和使用进行了许多工作。研究了NaCl作载体时,对稀土元素谱线强度的影响并对其机理进行了探讨。为了配合氧化镧化学光谱分析,本文对分离了基体前后,微量稀土元素光谱测定中第三元素的影响,基体效应以及载体的使用等方面进行了初步研究。