同位素数字直读式测厚仪

同位素测厚仪是根据射线在物质中的衰减规律的原理制成的.它具有非接触测量、稳定可靠、反应迅速、坚固耐用的特点.国内外大、中型钢铁企业几乎全部都是采用这种类型的厚度计来检测和控制板村、带材生产的.透射式测厚仪原理框图如图1. 1.同位素射线源:发出γ射线或β射线. 2.探测器或传感器:接收射线并转换成电信号.本测厚仪采用高压充氙电离室作为探测器,电离室和前置放上器组成探头,输出模拟电压信号. 3.二次仪表:将探头输出的电信号转变成厚度　绝对值或厚度偏差信号,并通过显示器显示. 图1是本仪器的原理方框图.放射源发出的射线穿过被…     

椭偏测厚仪测量结果的计算机数据处理

本详尽介绍了椭偏术测量单层透明薄膜折射率和厚度的方法，采用一种数字迭代计算方法，由测量得到的起偏角A和检偏角P直接算出所测薄膜的折射率和厚度。经过数值试验及与标准值比对，由此编制的计算程序具有准确，快速，方便的特点。     

椭偏测厚仪确定薄膜真实厚度的分析

用椭偏测厚仪可以测量薄膜一个周期内的厚度和折射率.本文从理论上分析了采用变入射角确定薄膜的真实厚度时,存在最大可测厚度周期数和最大可测薄膜真实厚度,同时用图形形象描述了周期数、厚度周期、一个周期内的厚度、真实厚度之间的关系及它们与入射角的关系.     

CCH-32型高精度测厚仪

上海超声波仪器厂新近研制成功的CCH-32型是最新一代电池供电、微功耗便携式高精度测厚仪,它灵敏度高、测量范围宽,还具有一二间隔自动转换功能、欠压指示和测量值自动保留功能。使用该仪器可以单面无损地精确测定钢、铝、玻璃、石英等材料的厚度。用途广泛、使用方便,尤其适合于流动的场合下使用。     

CCH-20型全自动超声波测厚仪

CCH-20型全自动超声波测厚仪是上海超声波仪器厂最新研制成功的一种数字显示式超小型超声波测厚仪,它具有全自动操作、高灵敏度、高稳定性、低功耗等优点使用时,只要按动启动按钮,即可实现测厚作业,无需进行任何调整和校准操作。该仪器使用方便,操作特别简单,可广泛用于各工业部门。     

紫外可见吸收光谱仪与椭偏测厚仪联用测量透明光电子薄膜的厚度

采用椭偏测厚仪测量薄膜的折射率,用来修正紫外可见吸收光谱仪极值法测量膜厚的数据.通过制备掺铝氧化锌(ZAO)薄膜及SEM断口观察进行实验验证,证实该修正方法有助于提高膜厚测量精度.联用这2种常规仪器,可以方便地获得0~20μm宽范围的透明光电子薄膜的厚度,数据采集与处理简单快捷,可满足大部分薄膜工艺研究和生产的需要.     

SCH-1型超声波测厚仪鉴定投产

山东济宁无线电仪器厂在北京电力科学研究所的密切配合下,于一九八一年试制成功了SCH-1型超声波测厚仪.经国家劳动总局无损检测中心、齐鲁石化公司第一化肥厂、勃海造船厂等单位试用,性能良好,符合实际需要,受到好评.五月中旬由山东省电子工业局主持鉴定,并已批量投产.     

金属表面镀高分子膜对真空击穿阈值的影响

探索提高金属表面真空击穿阈值的方法,对脉冲功率技术的发展和应用具有重要意义。在金属表面电子发射理论分析的基础上,采用有限元法计算阴极杆表面电场随二极管电压的变化规律,设计了实验系统,并开展了实验研究。实验对比了在脉宽约30 ns、阴极杆与阳极筒间隙12 mm时,钛合金TC4阴极杆在不同种类高分子膜（膜厚30～60 μm）下真空击穿阈值的变化情况。在表面粗糙度R_z（轮廓最大高度）为0.8 μm的TC4阴极杆表面分别镀环氧树脂膜和丙烯酸膜,实验结果表明,镀丙烯酸膜阴极杆的击穿阈值约505 kV/cm,相对于不镀膜阴极杆,击穿场强提高了约20.6%;在表面粗糙度R_z为0.2 μm的TC4阴极杆表面分别镀聚酰亚胺膜和聚醚醚酮膜,实验结果表明,镀聚酰亚胺膜阴极杆的击穿阈值为584 kV/cm,相对于不镀膜阴极杆,击穿场强提高了约28.1%。因此,在金属表面镀丙烯酸膜、聚酰亚胺膜可以有效提高金属表面的真空击穿阈值。     

化学复合镀Ni-P-SiO2镀层的XPS和AES分析

本文运用ＸＥＭ、ＡＥＳ和ＸＰＳ分析了Ｎｉ－Ｐ－ＳｉＯ２镀层的表面形貌及镀层组成。研究显示：Ｎｉ－Ｐ－ＳｉＯ２镀层表面光滑、均匀、光洁度好;其相对原子百分数为Ｎｉ７４．５６％,Ｐ１２．３８％,Ｓｉ２．７７％,Ｆｅ２．３２％,Ｏ６．６５％,镀层厚度为６．４０ｕｍ,镀层耐１０％ＮａＣｌ溶液和１％Ｈ２Ｓ气体的腐蚀能力较强。     

光学零件表面镀银、铜膜层厚度的检测

检测玻璃镜面上镀有银或铜膜层厚度的方法常用的是“点滴经验判测法”,它是将药水滴在镀层上观察其化学反应,检验员根据自己的经验来测定厚度(单位为μ)。这样的主观判测结果误差很大,常常引起加工者与检测者的争执。我们化学分析室本着分析要为工艺服务的方向,采用硝酸把镀层溶     

真空蒸发镀膜膜厚的测量

测量镀膜厚度的方法有很多,在实验室现有的条件下,探究光学干涉方法测出镀膜厚度,其中光学干涉方法包括两种：一是根据多光束干涉的原理,利用读数显微镜测量镀膜的厚度;二是根据自光干涉的原理,利用迈克尔逊干涉仪测量镀膜的厚度。     

金属基及涂层表面粗糙度的测量方法研究

本文用干涉显微镜法，触针法，总体积分散身镜向反射光强法对未抛光铝基。抛光微粗糙铝基，微粗糙不锈钢基，微粗糙钢基和涂漆表面的粗糙度进行了实验测量和对比分析，从粗糙面激光散射角度讨论了各种方法的适用范围和局限性。     

基于数码相机的膜厚测量实验

本介绍了借助于数码相机将干涉显微镜正气图像展示在计算机屏幕上的方法,解决了膜厚测量实验中的常见问题,加快了实验调节的速度,提高了教学效果。     

镀膜厚度自动测量的一种方法——容量法

文章介绍了应用容量法自动测量镀膜厚度的理论依据、测试装置和测量结果.     

薄膜厚度测控技术中的物理原理

针对当前应用较为广泛的各种薄膜厚度测控技术,简明介绍了光电极值法,干涉法,石英晶体振荡法及椭偏仪法的物理原理及其应用。     

紫外光学薄膜的镀制结果

介绍使镀膜设备具有镀紫外光学薄膜功能进行的技术改造，给出几种紫外光学薄膜的镀制结果。     

壁面涂层构型对垂直降膜流动特性的影响

利用特种表面涂层材料对实验管壁进行改性,使液膜形成沟流,实现液膜的内外表面溶液重新掺混;管外涂层的不同构型形成表面张力梯度表面,在吸收过程中可引导液滴向液膜方向运动,促进液膜扰动,从而达到强化传质的目的.通过液膜流动的可视化照片和液膜波动特性的实验结果,对不同状况下的流动形态进行初步分析.     

强激光主镜膜厚不均匀性对偏振和光学图像的影响

本文讨论了在特定镀膜室的几何尺寸约束下,一定直径(0.8m)的主反射镜的膜层厚度分布。给出了金属增强型高反射膜系由于不均匀性对光束偏振态的影响;计算了1.06μm主激光和0.5893μm的信标光产生的相位畸变。通过修正设计得到符号相同的相位变化,从而使信标光达到预期目的。     

测定透镜厚度新法及其误差探讨

本文介绍利用景深短、高倍率、大口径的物镜，采用光学方法，对被测透镜上下表面调焦，从而测定其中心厚度的一种新方法，并对测量误差进行了探讨。     

光学薄膜厚度修正挡板的设计

本文论述一种用于镀制光学薄膜的厚度修正挡板新的设计方法.我们通过应用截流蒸气云静止挡板技术和采用平面静止挡板透视投影法来设计光学薄膜厚度修正挡板.最后给出设计和实验的结果.