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为了抑制大口径光学元件中的受激Brillouin散射效应,并满足打靶过程中束匀滑的要求, 目前高能激光驱动器大都采用了正弦相位调制脉冲.然而,这类脉冲在复杂激光系统中传输时, 会出现明显的调频-调幅(FM-to-AM)效应.研究这种效应的来源,对提升激光系统的整体输出性能至关重要. 对复杂激光系统中一直被人们所忽视的平板光学元件带来的FM-to-AM效应进行了理论研究和数值模拟. 数值模拟结果表明,通过平板光学元件的次数越多调制深度越大,呈线性递增趋势,当通过次数为10次时, 调制深度高达22.2%;并且平板光学元件对各谱线的过滤也各不相同,当前端选用的中心波长为1054 nm时, 平板光学对各谱线的过滤作用非常小.提出通过改变中心波长来减小FM-to-AM效应, 这对于复杂激光系统的设计具有重要的指导意义. 相似文献
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根据电路模拟软件PSPICE内建元器件模型,建立了功率MOS器件单粒手栅穿效应的等效电路模型和模型参数提取方法,对VDMOS器件的单粒子栅穿效应机理进行了电路模拟和分析,模拟结果与文献中的实验数据相符合,表明所建立的等效电路模拟方法是可靠的。 相似文献
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根据红外光学系统的会聚特性,用光学增益方法分析了红外系统中各元件对应的光强分布,确定了位于焦面附近光学元件是激光破坏的易损部件,并提出了强激光对红外系统元件损伤,造成其探测、制导功能失效的硬破坏机理;由红外滤光片、探测器和信号处理电路与入射激光波长的光谱响应分析,提出了弱激光对红外系统干扰,导致其探测、制导功能在激光辐照一段时间内失效的软破坏机理;开展了激光辐照红外系统的失效验证实验,较好地解释了其失效的机理和效应。 相似文献
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《中国光学快报(英文版)》2017,(8)
The pretilt angle of a twisted nematic(TN) liquid crystal display has a strong effect on viewing angles and response times of the display as well as shifting the light-leaking disclination lines into the black-matrix area within pixels of a thin-film-transistor driven TN panel for a high contrast ratio. In this Letter, we develop an optical method to determine the TN pretilt angle based on heterodyne measurements of the phase versus the incident angle of a thin TN cell subjected to out-of-plane rotations. We believe that our method of measuring phases has advantages of simpler setup and calculations, better stability, and less sensitive to ambient electromagnetic interference than the commonly used method of measuring intensities. 相似文献
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基体干扰对ICP-AES分析土壤样品中主、次量元素的影响研究 总被引:1,自引:0,他引:1
为了研究分析方法中的干扰因素对于分析结果的影响程度,针对地球化学中常用的分析手段ICP-AES法,选择土壤标准物质采用与被测样品相同消解方法,作为工作校准曲线来抵消基体影响因素。比较了在土壤基体和无土壤基体条件下测得的土壤样品中各主、次量元素结果的相对偏差,分析了其中联系和规律。发现无土壤基体干扰的结果RE值均在0左右浮动,正负偏移比例基本一致,若排除谱线干扰因素的话,基体匹配方法能有效消除土壤中基体干扰影响。而土壤基体干扰对Al,Ca,Fe,Mg,P,Ti和Ba元素分析结果有较大负偏差影响,最大偏离差Mg 279.5 nm谱线达-14.49%,影响程度排序为Ti,Mg>P,Fe>Ca,Ba>Al,对其他元素Na,Cr,Cu,V,Li,Mn,Ni和Sr则无明显影响。与原本设想的结果相反,基体干扰对我们视作基体的高含量元素测试结果影响十分大,反而对次量元素影响表现并不显著。在综合基体干扰中,Ca和Mg两元素自身组分含量影响权重明显,表现为自身组分含量与分析结果相对偏差值有明显线性相关性。其他元素自身组分与基体影响结果无线性趋势,自身含量的影响权重很小。谱线的选择,干扰因素的排除对结果的确定十分重要。干扰影响的因素和规律一直是ICP光谱学者致力研究探索的课题。这些研究结果对ICP-AES分析土壤样品时谱线的选择及结果准确度的判定有很好的指导意义。 相似文献
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粉末压片法波长色散X射线荧光光谱分析铁矿石样品的矿物效应校正初探 总被引:4,自引:0,他引:4
利用10个国内铁矿石标样,对粉末压片法波长色散X射线荧光光谱分析铁矿石样品中主、次量元素时的矿物效应校正进行了初步探讨。文章采用两种方法试图降低由于矿物效应带来的影响。第一种方法(角度校正法)是在测量每个样品 前(包括校正标样以及未知样),对每个待测元素的2θ角度进行实际测量,以校正可能存在的角度偏移;第二种方法(峰面积法)是用峰面积代替峰强度,以校正由于峰形变化所带来的影响。最后用回归分析后的K因子进行比较。结果表明, 两种方法对矿物效应进行校正都可以不同程度地改善铁矿石中主要元素的校正曲线,尤其是S的校正曲线改善明显。如果在角度校正法或峰面积法的基础上再用基体校正系数,除总Fe外,其他组分均可以满足分析要求,但总Fe仍需要采取 其他措施。 相似文献
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溶液阴极辉光放电发射光谱法易受水体样品中的基体效应影响,而且对于实际水体样品组份相对复杂,含有多种元素,受基体效应干扰更加明显,导致金属元素浓度预测精度降低。为了减少溶液阴极辉光放电发射光谱法中水体样品基体效应的影响,常常利用定量分析方法对金属元素进行分析。这些定量分析方法中,标准加入法尤其适合于待测物质基体效应较为显著或者含有干扰物质等情况,然而标准加入法容易受到背景信号的干扰,使测量结果产生误差,因此在进行标准加入法之前需要消除光谱数据的背景干扰。最简单的谱线干扰消除法是离峰校正法,此法扣除线峰左右两侧的背景强度值,以达到消除背景干扰的目的;小波变换法同样也适用于消除背景干扰,并且具备普适性,利用此法对小波进行多尺度分层,而后对小波低频系数进行处理,获得校正后的数据。在独立开发的溶液阴极辉光放电发射光谱系统上,利用基于标准加入法的离峰校正法和小波变换法对水溶液样品中Ca和Mg含量进行预测。实验结果比较发现,基于传统的标准加入法,测得5, 10和20 mg·L-1浓度的Ca样品的相对误差分别为157.0%, 105.1%和47.0%, Mg的相对误差分别为20.1%, 3.1%和2.8%。然而,结合标准加入法和离峰校正法后, Ca的相对误差分别降低至15.4%,-8.8%和3.3%, Mg的相对误差分别降低至14.5%, 0.1%和0.8%。采用小波变换算法消除背景干扰后的标准加入法, Ca元素的相对误差分别降至13.2%,-7.6%和-1.4%, Mg的相对误差分别降至13.4%,-0.4%和0.5%。结果表明,离峰校正法和小波变换法结合标准加入法测量Ca和Mg的准确度显着提高,两种方法能有效地消除背景干扰,降低基体效应,使预测精度升高。其中,小波变换法结合标准加入法可用于多种类型的背景校正场合,无需选择合适的背景校正点,而且预测精度更高,相比离峰校正法具有一定的优势。 相似文献
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通过改变石墨的内部形状,研究其对测试性能的影响。使用自制的几种类型的石墨套管,并将它们放入普通石墨管中,以减少石墨管内时间和空间的不均匀性对分析的影响,以达到改善石墨炉原子吸收法(GFAAS)分析性能的目的。研究结果表明,石墨管内的光束能量分布是不均匀的,石墨管内有相当大的区域并未被有效利用,特别是在石墨管中部。在普通石墨管内加入了内衬管后,管内部形状与光源光束形状接近,同时石墨管内的体积减小约20%,特别是在石墨管中部原子浓度较大部分的体积减小的比例更大一些,这使石墨管内原子浓度有所增加,灵敏度增加了近三分之一。研究也发现,加入了内衬管后较明显地改善了GFAAS的分析性能,结果的重现性和抗干扰能力都有所改善。 相似文献
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We have studied the influence on the atomic absorption signal of the obscuring of the transmission beam by a probe for the two-stage atomization in a graphite tube atomizer. The following parameters were varied: the thickness of the probe (0.5–1.0 mm), its displacement from the optical axis of the spectrometer (up to 2 mm), the diameter of the transmission beam (1.3–4.0 mm), the slit width of the monochromator, and the shape of the intensity distribution over the cross section of the beam emitted either by a hollow cathode lamp, or a deuterium lamp, or an electrodeless lamp. We have shown that, using a probe with a thickness that is optimal for the two-stage atomization (1 mm), it is possible to register analytical absorption signals from 28 chemical elements out of 56 (except Hg), which can be determined in graphite atomizers, with a maximal sensitivity and with no optical interference. The remaining elements can be determined with a lower sensitivity because of the necessity to lower the temperature of the secondary atomization. 相似文献
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Interference phenomena in light reflected or transmitted through a sample can be clearly observed either in a transparency region or in very thin samples. In the case of modulation experiments carried out on such samples the interference is superimposed on a differential spectrum that makes its interpretation more complicated. This is a disturbing aspect of interference. As a rule, one tries to eliminate interference influence (if it is not of special interest). Because this is not always possible, it is useful to know its manifestation in various modulation experiments. Some of the examples of interference manifestation are considered in the present report. However the interference can be used as a source of additional information. This is a useful aspect of interference. Several cases are considered in which interference in modulation spectroscopy is used for determination of the some constants of solids, particularly the electrointerference application for determination of the electro-optical effect constant. A brief review is given of work in this direction. A new method is given for the determination of the refraction coefficient and its variation from the usual interference and modulation interference data. The method provides the determination of these quantities even in the presence of noticeable dispersion, when other methods guarantee the needed accuracy. The imperfectness of the system, which leads to considerable errors in the determination of parameters by usual formulas, is also considered. The results are presented. 相似文献
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为降低高功率激光系统中连续相位板(CPP)后续元件的强激光损伤风险,综合考虑入射光强调制、干涉及衍射作用等多种影响因素,建立了CPP近场计算分析模型,模拟和分析了这些因素对CPP后的近场均匀性的影响。理论分析结果表明:CPP后的光束近场均匀性主要受入射光调制、CPP表面剩余反射率和衍射传输距离的影响;当入射光束质量较差时,CPP后的近场均匀性主要由入射光束质量决定,CPP剩余反射率和衍射传输距离对近场均匀性影响相对较小;但当光束质量比较理想时,干涉和衍射作用会破坏CPP的近场均匀性,衍射传输距离影响尤为突出。 相似文献