随机介质中部分相干光的偏振特性

从推广的Huygens-Fresnel原理出发,对在随机介质中传输的部分相干光偏振态的演化作了研究。以偏振高斯一谢尔模(PGSM)光束为例,进行了理论计算。结果表明：由于随机扰动的影响,偏振度呈现出振荡变化,并且光源的空间相干性对振荡剧烈程度有着很大的影响。     

两种透明介质微小折射率差高精度测量的新方法

对现有折射率的测量技术进行分析,提出了一种测量两种透明介质间微小折射率差的新方法。首先,介绍了微小折射率差干涉测量方法的原理,并对该测量原理利用Zemax光学仿真软件进行了理论模拟论证。该实验中首先,采用热键合技术制备包含两种被测量材料的组合平板;其次,利用干涉测量仪及外光路测量样件界面区域不同入射角下的光程差;再者,利用几何光学中的折射定律,推导折射率分布与干涉光程差的关系式。最后,通过二次曲线拟合获得正入射时的光程差微小变化值、换算得到样件两种材料的折射率差值。实验测量了1 at.% Yb3+::YAG晶体与YAG晶体的热键合样品的折射率差,测量值为5.4110-5,测量系统精度10-7量级。结果表明:该测量方法原理简单、操作简便,测量精度高。     

用于散射光测量的盒卡计

在激光核聚变研究中,测量靶的散射光是重要的工作之一。我们研制了以量热法为基础的盒卡计,并进行了实验。盒卡计是能够测量全部散射光能量、结构特殊的卡计,图l是它的结构简图,由六个独立的平面型激光能量计按正六面体组合而成。实验靶由上方的小孔进入盒卡计中心,靶的调整由步进马达控制。盒卡计可作上下左右微调。     

光盘信息坑散射光强的测量

波导多层存储是一种三维光存储技术，如何对光盘信息坑散射光强的测量是其须解决的关键技术之一。本文介绍了利用光学共轭技术测量光盘单个信息坑散射光强的实验原理，给出了采用光电倍增管测量光盘信息坑散射光强的实验结果。结果表明，利用该装置可以检测光盘有无信息坑时散射光强的变化，实现对信息坑散射光强及信息坑的测量，测出信息坑的大小与理论值一致。     

混浊介质中利用后向散射光偏振进行目标识别的研究

混浊介质中的目标识别是一项很有实用价值的研究课题。本文中作者提出利用混浊介质中目标物体后向散射光米勒矩阵的方法来进行目标识别的方法。在去离子水中加入0.1μm的聚苯乙烯乳胶颗粒组成理想的混浊介质，在各种浓度下分别测量混浊介质中有目标物体时的米勒矩阵与混浊介质没有目标物体时的米勒矩阵，将这两个矩阵进行比较，发现米勒矩阵的主对角线项在有目标物体和没有目标物体时有一定的差异，利用这一差异可以判断混浊介质中是否存在目标物体。作者对这种方法进行了实验室条件下的模拟，实验结果表明利用偏振技术进行目标识别比利用传统的强度识别方法有效，并且有一定的实用价值。     

强散射随机介质中吸收物体的成像

以宽带连续光为光源对隐藏在强散射随机介质中的吸收物体成像进行了实验研究，用一种新的图像处理方法恢复了被散射光所淹没的吸收物体的像。由于人体组织为光的强散射介质，因此该研究在医学成像中有很大的潜在应用价值。     

网络测量中信息综合的新方法

网络测量信息具有多样性，应用范围广，缺乏规范描述的特点，统一的网络测量信息视图（信息综合）已成为网络测量系统设计和实现中的一个难点，为此，本文提出了一种解决信息综合问题的新方法。本文在网络测量元信息的层次上，通过规范描述网络测量系统中被测对象、测度、测量命令、测量结果等概念，提供了一种通用且可扩展的描述网络测量信息的方法，称为MsmtIM，并给出了基于ASN.1的描述语法，本文还给出了基于MsmtIM的网络测量模型，并对MsmtIM的应用范围和工作过程进行了分析。     

随机分布多粒子侧向散射光偏振特性分析

为了研究随机分布的复合多粒子侧向散射光偏振度和粒子直径大小之间的关系,采用直径0.22μm或0.494μm的粒子与过滤的蒸馏水混合构成不同浓度的悬浮液,作为研究粒子侧向散射光偏振特性散射介质的实验方法,进行了理论分析和实验验证,取得了直径0.22μm的粒子侧向散射光强在不同深度、不同角度的偏振度和直径0.22μm或0.494μm的粒子在3种浓度中侧向散射中水平偏振度、垂直偏振度的数据。结果表明,粒子侧向散射光的退偏振对粒子直径的变化非常敏感,直径小的粒子其散射光水平方向偏振度远大于直径大的粒子,而其散射光垂直方向的偏振度却远小于直径大的粒子。这一结果对多粒子存在状况下的粒子直径检测是有帮助的(尤其适用于粒子直径小于1μm的情况)。     

随机分布群体粒子场侧向散射光偏振度研究

由直径0.22μm或0.494μm的粒子与过滤的蒸馏水混合构成不同浓度的悬浮液,作为研究粒子侧向散射光偏振特性的散射介质.实验结果表明,粒子侧向散射光的退偏振对粒子直径的变化非常敏感：直径小的粒子其侧向散射光水平方向偏振度远大于直径大的粒子,而其侧向散射光垂直方向的偏振度却远小于直径大的粒子.     

核壳双层颗粒的外层介质对散射光的影响

简要介绍核壳双层颗粒的散射理论 ,利用数值计算探讨波长不同时核壳双层颗粒与单层颗粒散射光的不同 ,详细分析核壳双层颗粒外层介质的厚度、折射率对整个核壳双层颗粒散射光的影响     

脉冲激光测距中时间间隔测量的新方法

提出脉冲激光测距中时间间隔测量的新方法。传统数字法的测时误差主要是开始和结束2个脉冲周期的计数误差，为此利用FPGA芯片中集成锁相环（PLL）单元产生N路同频且相位均匀分布的时钟脉冲，用N个计数器在这2个周期进行计数，用计数结果均值作为最终结果。这相当于将脉冲周期T细分为N等份，每份相当于1个脉冲，其周期为T／N。实现了在不增加测量时间和盲区的前提下，测量精度提高了N倍，解决了传统脉冲激光测距系统中提高精度、缩短测量时间和盲区的矛盾。     

金属介质光学薄膜设计的新方法

本文叙述用等效折射率法设计金属介质光学薄膜。它表明,如能作某种简单的近似,就可以确切地以同样方法,将金属介质周期看作为全介质周期。给出了用该方法设计各种类型涂层的具体说明。     

测量超高温的新方法

众所周知,测量几百万度的高温并不容易。但在研究热核聚变中,这种测量却又极其重要。热核聚变是太阳能的源泉。人们正设法产生此种反应,因为它是人类取用不尽的能源。     

测量电容量的新方法

测量电容量的方法很多,但有些仪器结构较复杂,有些使用不便或者测量范围不够大.近来,我们设计了一种测量电路,实验表明具有如下的优点:第一,电路结构简单,不必采用电感线圈;第二,具有宽广的测量范围,自数微微法直至数微法,这样的范围在实用上一般已够用;第三,测量结果是直读的,因此快而方便.下面我们作一介绍,以供参考. 一、原理     

脉冲幅度测量新方法

本文介绍了一种利用３１／２位数字电压表芯片ＩＣＬ７１０７精确测量脉冲幅度的新方法。     

利用前向散射光测量光纤直径的装置

测量光纤直径的方法很多,但其中利用前向散射光测量光纤直径的方法较简单,精度也较高。它是以计算光的干涉条纹为依据,测量精度在直径为50—150μm时为±0.25μm。这种测量装置主要是由激光器、探测器和信号处理机构成的。经微处理机处理后的信息反馈到直径自动控制装置,确保光纤直径均匀性。下面是测量装置示意图:     

多重散射随机介质中隐藏物体的 强度成像研究

用背散射光强研究了多重散射随机介质中隐藏物体位置的确定,由强度的分布曲线确定出隐藏物体的位置,并实验研究了隐藏物体在多重散射随机介质中不同深度下的强度分布