发射装置电接触可靠性设计分析

本文对发射装置中导电零部件电接触可靠性问题进行了分析研究。对影响触柱与电底火接触的主要因素 ,进行了测试、计算、分析 ,指出了在工程设计和使用中降低接触电阻的方法。     

电子机械元件可靠性及寿命的电接触现象测试方法

电子元件的可靠性及使用寿命非常重要。在这方面虽然作了某些研究,但看来还不能引起人们足够的重视。事实上,电子机械元件的可靠性及使用寿命是很重要的,甚至要比电子元件本身更为重要。可是电子机械元件和电子元件和电子元件间存在很大的差异,因为电子机械元件的电接触现象有其专门的特性。要明确表示电子机械元件的可靠性等级及其使用寿命,接触电阻现象是一个重要的因素。为了了解接触电阻现象的特性,我们应说明研究那些与电子元件的可靠性及电阻现象特性是相当困难的。我们通过显示的接触特性之间联系的例子之后就可以订出电子机械元件的可靠性及其使用寿命的定义。其次我们来描述一下如何使用随机循环抽验法来估计出电子机械元件的可靠性等级及寿命的期限。预计电子机械元件的可靠性和寿命采用随机循环抽检法要比用恒定循环试验法更为实际可行。因此我们提议将用一套采用微型计算机的随机循环试验方法测试系统来测试元件可靠性及寿命的正确数值,不但适用于电子机械动态元件、也适用于机械静态元件。     

电接触与接触故障的预防

供电线路中的电路连接点.是供电回路中的重要组成部分。在运行中如果出现问题.将会影响安全供电.甚至烧毁设备造成大面积停电。本文对电路连接接触的一些基本知识进行介绍.并提出了搞好电路接触.防范接触故障的措施和应注意的问题。希望能给从事供电运行、维护、检修人员了解掌握电接触的一些基本知识原理提供参考和帮助。     

开拓我国电接触科学的章继高教授

1 立志报国 章继高教授1933年出生于天津一个高级知识分子家庭,1954年毕业于南京工学院无线电系,分配到天津大学后又调北京邮电学院任教。 “文革”期间他响应号召,到邮电部上海519厂“开门办学”,参加了工厂对2700路载波长途电话通讯设备的开发研制,但由于大量的接触故障,未能通过沪杭试验段的验收。 分析研究电接触故障的任务很自然地落到了“开门办学”的章继高的肩上。 他和519厂科技人员合作,经过实验和调研,基本查清该厂生产的连接器在机械、材料、检测中存在的问题。他经过实践和阅读文献,了解到电接触科学是一门研究电子可靠性的科…     

GaAs MESFET欧姆接触可靠性研究进展

报道了ｎ型ＧａＡｓ上欧姆接触的制备及其可靠性，以及基于欧姆接触退经的ＧａＡｓＭＥＳＰＥＴ的失效分析，结果表明，ｎ型ＧａＡｓ上欧姆接触的制备已日趋成熟，接触电阻有所减小，表面形貌及热稳定性方面都得到了很大程度的提高，接触材料也日趋丰富ＧａＡｓＭＥＳＦＥＴ的失效分析方法也有明显改进。     

半导体器件金属化与接触可靠性的改善

描述了目前采用的界面效应合金效应，覆盖效应和回流效应等四种提高半导体器件金属化和接触可靠性的方法及其特点。介绍了最新研究成果，展望了其应用前景。     

尘土颗粒带电对电接触可靠性的影响及电荷的测量

阐述了尘土颗粒带电对电接触可靠性的影响以及测量电荷的实验方法,并采用密立根方法对尘土颗粒的带电量进行了测量。对实验数据进行了曲线拟合,结果显示,尘土颗粒所带的电荷随着尘土颗粒半径的增加而增大。半径在0.5~2.5 靘的颗粒,所带电荷在1.3×1018~1.1×1016C范围内。     

毛刷电接触对的接触电阻研究

基于R.holm电接触理论建立了毛刷电接触对的接触电阻模型。采用有限元仿真确定了毛刷电接触对在插拔过程中只有弹性变形,并得到了接触电阻模型中的M值为1/2,进行了毛刷电接触对不同插拔深度上的接触电阻试验,通过试验数据拟合确定了毛刷电接触接触电阻模型中的K值为248。进行了毛刷、麻花针、线簧孔接触对在不同插拔深度的接触电阻对比试验,得到了毛刷电接触插拔深度的最优范围为2~2.2 mm,进行了毛刷电接触在2~2.2mm插拔深度时接触电阻寿命试验,基于接触电阻寿命曲线提出了预插拔工艺以提高接触电阻及插拔力的稳定性。毛刷电接触接触电阻研究为毛刷电接触的扩展设计、制造提供了参考。     

电接触设备接触系统常见问题以及应对措施

随着人们生活水平的不断提高,对电能提出了更高的要求,为了满足人们的要求,多数供电单位对电接触设备进行了完善和更新,但是在使用过程中电接触设备的接触系统会出现一些问题,本文对电接触设备接触系统存在的问题进行了研究和分析,并且给出了有效的解决措施,希望对供电单位有所帮助。     

具有TiN扩散阻挡层的n-GaAs欧姆接触的可靠性

提出了金属-半导体欧姆接触退化的快速评估方法--温度斜坡快速评价法,并建立了自动评估系统,用该方法和系统测得的欧姆接触退化激活能,和传统方法相比,耗时少,所需样品少,所得结果和传统方法一致.针对传统AuGeNi/Au欧姆接触系统的缺点,提出了加TiN扩散阻挡层的新型欧姆接触系统.实验表明新型欧姆接触系统的可靠性远远优于传统AuGeNi/Au欧姆接触系统.     

具有TiN扩散阻挡层的n-GaAs欧姆接触的可靠性

提出了金属 -半导体欧姆接触退化的快速评估方法——温度斜坡快速评价法 ,并建立了自动评估系统 ,用该方法和系统测得的欧姆接触退化激活能 ,和传统方法相比 ,耗时少 ,所需样品少 ,所得结果和传统方法一致 .针对传统 Au Ge Ni/Au欧姆接触系统的缺点 ,提出了加 Ti N扩散阻挡层的新型欧姆接触系统 .实验表明新型欧姆接触系统的可靠性远远优于传统 Au Ge Ni/Au欧姆接触系统 .