迈克耳孙干涉条纹移动计数器的设计及仿真

利用3DU5C光敏三极管作为传感器,在干涉条纹移动时,光强度的周期性变化在光敏三极管的集电极(或发射极)电流随之跟着周期性变化;这种周期性的电量变化次数可以通过单片机程序和驱动电路在4位数码管上显示出干涉条纹的移动条数.这避免了学生长时间观察激光数干涉条纹对眼睛造成的不良影响.     

光纤温度和应变特性研究实验仪的开发

针对目前光纤传感实验存在的问题, 搭建了光纤干涉实验平台. 利用计算机与摄像头的配合得到干涉 条纹移动数目( 取代传统用肉眼观察白屏的方法) , 利用温度传感器与计算机的结合取代传统的温度计, 可以在计算 机上同时采集到温度和移动条纹数, 实时描绘出温度和条纹移动数目的关系图, 或者应变和条纹移动数目的关系. 所建立的系统稳定可靠, 实验效果好, 更具现代科技气息     

恒星光干涉仪主动镜偏转角的检测

采用激光干涉检测的方法,综合应用计算机控制、数字图像处理等技术对高精密仪器主动镜的偏转角进行了检测.设计了主动镜的光干涉CCD数字图像检测系统,推导出了干涉条纹与主动镜偏转角之间的对应数学关系式,对条纹图像进行了噪音分析和相应的预处理,在干涉条纹细化的基础上对每条干涉条纹采用最小二乘法进行直线拟合,得到条纹间的间距以及条纹的方向角,最终检测出主动镜X轴方向的偏转分辨率为0″.113,最大偏转角为56″.872,Y轴方向的偏转分辨率为0″.112,最大偏转角为49″.835,完成了主动镜偏转角的检测.     

恒星光干涉仪主动镜偏转角的检测

采用激光干涉检测的方法,综合应用计算机控制、数字图像处理等技术对高精密仪器主动镜的偏转角进行了检测.设计了主动镜的光干涉CCD数字图像检测系统,推导出了干涉条纹与主动镜偏转角之间的对应数学关系式,对条纹图像进行了噪音分析和相应的预处理,在干涉条纹细化的基础上对每条干涉条纹采用最小二乘法进行直线拟合,得到条纹间的间距以及条纹的方向角,最终检测出主动镜X轴方向的偏转分辨率为0″.113,最大偏转角为56″.872,Y轴方向的偏转分辨率为0″.112,最大偏转角为49″.835,完成了主动镜偏转角的检测.     

干涉条纹可逆计数系统

干涉条纹计数器在物理实验和光纤传感器中有广泛的应用,但一般的光电接收器只能记录条纹的总变化,而不能判断条纹移动的方向和移动的条数,这给一些应用带来了一定的困难。我们设计了一种干涉条纹可逆计数系统,既可以知道条纹变化多少,也可知道条纹移动的方向。     

用于透明平板平行度和均匀性测量的单元件干涉仪

提出了一种基于单元件干涉的用于检测透明介质平整度和均匀性的干涉仪.该干涉仪的核心元件是一个菱形分光棱镜.激光光源的平面波光束的一半光束透过待测样品,另一半光束直接透过空气,然后分别入射到菱形分光棱镜的两垂直面并在分光面相遇、相干.通过旋转待测样品改变相干的两束光光程差,从而使干涉条纹发生移动.形成的相干光被分光板分成两束,一束进入光电探测器用于探测干涉条纹移动数的整数部分,另一束则进入电荷耦合探测器用于采集干涉条纹图来计算干涉条纹移动数的小数部分.通过计算条纹移动数反推出光程差的变化量,再结合折射率或样品厚度信息则可以计算出样品厚度或折射率的分布,从而检测出透明介质的平行度和均匀性.模拟仿真和光学实验均证明了本方法的可行性、准确性和稳定性.     

热光的高阶双缝干涉

干涉效应反映了光场的相干性,非相干光源中无序性会破坏干涉.然而对于高阶干涉来说这一看法并不成立.文章作者最近的理论和实验研究表明,横向传播方向无序的热光源可以实现高阶双缝干涉.尽管单个探测器的强度分布是均匀的,处于不同位置的两个探测器的联合强度关联却出现了干涉条纹.当两个探测器同步反向移动时,条纹间距减小为一阶干涉条纹的一半.实验结果同不久前报道的在自发参量下转换过程中产生的纠缠双光子对的双缝实验中所观察到的亚波长干涉效应十分类似.实验结果可以用多模热光场的二阶空间关联性质来解释.热光的高阶双缝干涉是著名的Hanbury-Brown和Twiss实验的空间干涉版本,因此也可称其为Hanbury-Brown和Twiss型双缝干涉。     

抑制穿过具有倾斜角度的介质探测成像时产生的寄生干涉条纹现象

进行穿透扫描探测实验时,在回波图像中发现了由于介质具有倾斜角度产生的周期性干涉条纹,这种干涉条纹对介质后或者介质中的目标成像有严重影响.研究表明,这种干涉条纹主要由介质表面反射波及透射后的层面反射波引起.文中建立点源辐射模型分析干涉条纹现象的形成机理,推导出薄层介质的干涉条纹间距表达式.考虑到天线的影响,建立了角锥喇叭天线近场模型,并且基于该模型进行精确的电磁仿真.商用软件Computer SimulationTechnology的电磁仿真结果与MATLAB程序的数字计算结果进一步验证了干涉条纹的成因分析及其与介质倾斜角度的关系.从推导的薄层介质干涉条纹间距表达式可以看出,干涉条纹间距与介质倾斜角度有关,控制影响条纹间距的因素,可以抑制干涉条纹现象,从而达到提高目标分辨率和成像质量的效果.     

低频声表面波对细激光束的衍射效应

对于频率为几十赫兹的液体表面声波,实验上观察到反射光所形成的稳定、清晰的激光干涉图样.改变表面声波振幅,进一步发现了干涉图样的调制效应.调制效应明显地表现为干涉条纹的缺级,并且随表面声波振幅变化.依据波动光学原理,分析了调制作用下光束干涉所产生的光强解析分布及条纹特征,得到了干涉条纹角宽度与表面声波之间的解析关系,并据此对表面声波的特性参量波长和振幅及各级条纹相对光强分布规律进行了测定.     

光的干涉法测金属线胀系数

当用两块平板玻璃制作出的空气劈尖顶角发生变化时 ,应用 CCD可观察到劈尖表面移动的干涉条纹。移过某一点的干涉条纹数决定劈尖项角的变化。若劈尖项角的变化是由金属受热膨胀引起的 ,则可导出金属受热膨胀的绝对伸长量与移过的条纹数之间的关系 ,并通过它计算金属的线胀系数。通过对黄铜棒的测量 ,结果表明该方法是可行的     

椭偏法测量云母波片相位延迟量及双折射率(英文)

为了得到云母波片的相位延迟量和双折射率随波长的变化关系,利用椭偏光谱仪连续测量了云母波片在400～770nm光谱范围内的延迟量.在对云母波片进行校准后,测量的数据被光电探测器收集并输送到计算机,根据输出的数据可以得到云母波片的相位延迟量随波长的变化.利用测得的延迟量计算出了云母波片在一定光谱范围内的双折射率,得到了云母波片的双折射率色散曲线,并通过拟合得到了双折射率色散公式.该方法能测量任意波片的相位延迟量,并且具有测量方便、周期短、精度高等特点.     

Compensated Polarization Scrambler for Raman Depolarization and Intensity Measurements on Microsamples

It has long been recognized ^1,2,3,4,5 in measuring relative intensities and depolarization ratios of Raman lines that prism and grating spectrometers have different transmittances for light polarized parallel (T_∥) and perpendicular (T_⊥) to the slit. Several methods have been used to give equal instrument response to parallel and perpendicular polarization. Stitt and Yost³ used a Nicol prism parallel to the high-transmittance direction of the spectrometer, combined with a rotatable mica half-wave plate to transmit either vector to the Nicol prism. This method has the advantage of having a higher spectrometer transmittance, but the mica plate gives exact half-wave retardation at only a single wavelength. A mica quarter-wave plate ^4,5 averages the transmittances of the spectrometer for the two polarization directions, but is also wavelength dependent. Virtually achromatic circular polarizers have been designed and constructed ^6,7, but these devices are too bulky and expensive for the clear apertures needed for fast spectrometers.     

Phase relations in the modulation of light through the linear electro-optical effect

General expressions for the phases of the two light waves passing through a crystal plate in the normal direction are developed for arbitrary directions of the optic axis of a monoaxial crystal and of the electric vector of the modulating, linearly polarized superhigh frequency wave. The expressions obtained permit one to describe in general form the amplitude, polarization, and phase modulations of light by electrooptical modulators.     

Simple method for simultaneous determination of the phase retardation and fast axis of a wave plate

A simple method for simultaneous determination of the phase retardation and fast axis of a wave plate is presented. In this method, double light path compare system is adopted to achieve better accuracy. In the main optical path, laser beam passes successively through a polarizer, a wave plate to be measured, an analyzer, and then is incident on a detector. In the reference optical path, another detector is used to monitor the fluctuation of the light source. With rotation of the wave plate, the maximum and minimum output light intensity, rotation angle of the wave plate are detected in the main light path; corresponding light intensity are simultaneously detected in the reference light path. Based on the light intensity and the rotation angle, the phase retardation and fast axis of the wave plate can be determined simultaneously. The main advantage of this method is its simplicity of apparatus, easy operation, low cost, and high accuracy. We believe that the method reported in this paper should be a useful approach to measure a wave plate without requiring any complex and expensive components.     

Three-intensity measurement technique and its measurement in elliptical retarder

A three-intensity technique is applied in polarimetry for measuring the physical parameters of an elliptical retarder. In this study, quartz and mica quarter wave plates are distinguished by two models: linear retarder and elliptical retarder. By considering the twist nematic liquid crystal cell as an elliptical retarder, we are able to relate the effective optic axis to its rubbing direction and twist angle. All its physical parameters can be deduced from the model.     

WXG-4型旋光仪三分视场亮暗调节

针对WXG-4型旋光仪的均匀亮视场和均匀暗视场的亮度对比不明显问题进行了研究,分析了三分视场光强与起偏器透振方向的关系,得出原因是起偏器透振方向与半波片的光轴夹角太大.旋转起偏器,使其透振方向与半波片的光轴夹角减小并固定,均匀亮视场和均匀暗视场的亮度对比明显,使仪器恢复正常使用.     

光波p分量在单轴晶体表面反射和折射的相位特性

根据单轴晶体的双折射和双反射性质,通过数值计算研究了光轴在入射面内并与晶体界面成任意角时光波p分量在单轴晶体表面反射和折射的相位特性.结果表明,光轴取向对相位变化有较大影响,光从光疏各向同性介质射入单轴晶体时,光轴方向改变反射光p分量的相位突变点,但对折射光p分量相位无影响.光从光密各向同性介质射入单轴晶体未发生全反射时,光轴方向同时影响p分量反射光和折射光的相位突变|发生全反射后,光轴方向影响反射光p分量的相位变化曲线.从单轴晶体出射到光疏各向同性介质未发生全反射时,光轴方向改变反射光p分量的相位跃变规律,折射光p分量在光轴方向和晶面成小角度时在布儒斯特角附近发生相位突变|发生全反射后,反射光p分量的相位变化曲线随光轴方向的改变发生较大变化.     

Measurement of the linear electrooptic effect in poled polymer thin films with coplanar electrodes

The linear electrooptic (EO) effect of poled polymer thin film is measured in the coplanar-electrode structure. The optical geometry of the coplanar-electrode thin-film setup is analysed theoretically to find a relationship between the linear optical parameters and the EO modulation intensity. EO modulated intensity is measured as a function of the direction of incident light polarization relative to the macroscopic optic axis, also as a function of optical bias determined by quarter-wave plate. Comparison of experimental measurements with the theoretical analysis shows good agreement.     

光的偏振性对Hanbury Brown-Twiss实验的影响

在理论和实验上研究了完全偏振光的不同偏振态和光的偏振度对Hanbury Brown-Twiss实验二阶关联函数g(2)的影响.实验中用线偏振光通过1/4波片获得椭圆偏振光,并通过旋转波片实现对完全偏振光偏振态的改变;用两柬振动方向相互垂直,传播方向相同且相位差随机的线偏振光合成部分偏振光,并通过调节一束光的光强实现对合成光偏振度的改变.结果表明:对于完全偏振光,其偏振态的改变对g(2)没有影响;对于不同偏振度P的光源,g(2)为P的二次函数.特殊地,自然光情况下P=0,g(2)的理论最大值为1.5;完全偏振光情况下P=1,g(2)的理论最大值为2.理论与实验符合得较好.