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扫描探针显微术与纳米科技 总被引:2,自引:0,他引:2
扫描探针显微术(ScanningProbeMicroscopy,SPM)是80年代初发展起来的一类新型的表面研究新技术,其核心思想是利用探针尖端与表面原子间的不同种类的局域相互作用来测量表面原子结构和电子结构。它的出现使得纳米科技在近十年来得到了突飞猛进的发展。1.扫描探针显微术扫描探针显微术中最早研制成功的是扫描隧道显微镜(ScanningTunnelingMicroscopy,STM),它是宾尼和罗雷尔于1981年发明的,二人1986年因此被授予诺贝尔物理奖。 相似文献
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OU Fa 《Chinese Journal of Lasers》1996,5(5):429-438
BifurcationofDickeModelDrivenbyLaserFieldandScalingTheoryofCriticalExponentsFarfromEquilibriumOUFa(CCAST(WorldLaboratory)P.O.... 相似文献
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Pang Xiaofeng International Centre for Material Physics Academia Sinica Dept. of Physics Southwest Institute for Nationalities The Institue of Atomic Molecular Physics Sichuan Union UniversityShenyang Chengdu Chengdu 《原子与分子物理学报》1997,(1)
ASTATISTICALTHEORYFORTHEBIO-PHOTONEMISSIONOFTHELIVINGSYSTEMSPangXiaofengInternationalCentreforMaterialPhysics,AcademiaSinicaD... 相似文献
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1IntroductionScanningtunnelingmicroscopy(STM)andatomicforcemicroscopy(AFM)areinstrumentswithultrahighresolutioninventedin198... 相似文献
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扫描隧道显微镜 总被引:1,自引:0,他引:1
1982年,Binning和Rohrer研制成世界上第一台扫描隧道显微镜STM(ScanningTunelingMicroscope),是目前唯一具有原子级分辨率的实空间成像技术,当这两位科学家用STM观察到高序石墨表面原子的图像时,人们对微观世界的认识一下子从幻想和抽象的分析飞跃到对原子的直接观察和操纵.STM和其它的传统显微镜相比,光学显微镜、扫描电子显微镜的分辨率不够,而高分辨的透射电子显微镜虽然能够达到较高的分辨率,可它的制样异常麻烦,破坏了样品,而且在测量过程中离不开真空环境.STM因其可直接观察物体表面原子结构而不会对样品表面造成任何损伤. 相似文献
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STRUCTURESANDINTERNALMOTIONOFANe3CLUSTERXieWenfangChenChuanyuDepartmentofPhysics,GuangzhouTeachers′colegeGuangzhou510400ABST... 相似文献
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V. S. Letokhov 《Chinese Journal of Lasers》1994,3(4):289-314
Multiplephotonlaserphotochemistry¥V.S.Letokhov(InstituteofSpectroscopy,USSRAcademyofSciences,Troitzk,MoscowRegion,142092,Russ... 相似文献
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含ZnS∶Mn~(2+)纳米晶玻璃中Mn~(2+)三种格位态的EPR研究 总被引:1,自引:0,他引:1
通过对ZnS∶Mn2+ 不同含量的钠硼硅玻璃发光和激发光谱测量, 发现Mn 离子可能占据替位(Mn2+ )Sub 和间隙(Mn2+ )int两种格位. 进一步的电子顺磁共振(Electron Param agneticResonance, EPR)实验证实了这一判断, 并从EPR谱确认(Mn2+ )Sub, (Mn2+ )int和Mn 团三种格位态的存在. 观测到g 因子和超精细结构(HFS)常数随纳米晶粒径的减小而增大. 这可能是由于量子限域效应下ZnS的sp3 和Mn 的3d5 电子态杂化和表面态所引起的. 相似文献
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ASimpleMethodforDesigningDifractiveOpticalElementsM.ZhouD.Lin(StateKeyLabofOpticalTechnologiesonMicrofabrication,InstituteofO... 相似文献
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EfectsofAtomicCentreofmasMotioninTCModelX.X.Yi1,3)T.Jing2)J.C.Su3)(1)InstituteofTheoreticalPhysics,NortheastNormalUniversi... 相似文献
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近场光学显微镜中利用剪切力原理进行样品/探针间距测控的非光学方法 总被引:1,自引:0,他引:1
扫描近场光学显微镜(ScanningNear-fieldOpticalMicroscope:SNOM)自80年代中期以来获得了迅速的发展并得到了具有纳米(亚纳米)尺度分辨率的光学图像。作为SNOM的关键技术之一,样品与探针间距的控制尤为重要,而实现起来比较困难。人们提出了多种方法,其中基于剪切力原理的控制方法最常用而且实验证明是可靠的。本文综述了扫描近场光学显微镜发展以来所出现的基于剪切力原理进行样品/探针间距的探测的一些主要的非光学方法。包括利用PMT直接探测样品辐射,利用音叉、电容、阻抗以及压电效应的探没方法等,并对各种方法的优缺点进行了分析比较。 相似文献
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YU Jianjun XIE Chongjin ZHOU Xiang SHI Hanxing ZHAO Ronghua GUAN Kejian LIN Jintong YE Peida CHEN Yue TANG Renyong 《Chinese Journal of Lasers》1999,8(4):341-347
Introduction Therearetwomethodstoenhancethecapacityofthetransmissionsystem:opticaltimedivisionmultiplexing(OTDM)andopticalwavelengthdivisionmultiplexing(WDM).OTDMisbeingwidelyresearchedbecauseofsomevirtuesinopticalnetworks[1~4].OTDMwiththesinglechan… 相似文献
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SeveralPhaseModulatorsforDigitalShearography¥F.CHEN,Y.Y.HUNG(DepartmentofMechanicalEngineering,OaklandUniversity,RochesterHil... 相似文献
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