电桥法测杨氏模量的实验研究

本文引入了电桥法测量杨氏模量,用自制平行板电容器对传统的实验装置进行改进,用电容的变化来表征微小位移的变化,通过实验原理、误差分析,结合测量结果,由此给出了一种测量杨氏模量的新的方法.     

拉伸法测金属丝杨氏模量研究

测量杨氏模量是物理实验教学中的一个重要实验．也是长度测量训练实验之一。本文就此实验的几个问题进行了讨论。     

拉伸法测金属杨氏模量实验的智能化设计

针对医学院学生的特点,对传统的杨氏模量测量仪进行智能化的设计改进。该智能化设计能够有效解决传统的杨氏模量测定实验存在的调试难点,满足医学院学生的学习需求。     

杨氏模量测定实验的改进

杨氏模量测定实验是普通物理的一个基本实验。传统的实验装置在调整、读数方面存在一些不便,作者设计了一种新的方法改进实验,收到较好的效果。     

拉伸法测金属丝杨氏模量实验装置的改进

对原有的杨氏模量实验仪存在的主要问题进行了分析,针对这些问题分别提出了相应的改进措施,克服了原有仪器存在的不足,在一定程度上可以提高实验精度。     

动态法测金属杨氏模量实验中的谐振频率

根据压电陶瓷晶体压电原理、压电陶瓷棒和试样横振动原理，分析了动态杨氏模量实验中出现的多个谐振频率，理论分析与实验结果吻合．     

静态拉伸法测金属丝杨氏模量实验探究

静态拉伸法测量杨氏模量是大学物理实验教学中的一个重要的力学实验,文章中就此实验的几个问题进行了探究。     

基于差动电压传感器的杨氏模量实验改进

对传统使用霍尔传感器横梁弯曲法测量的杨氏模量实验进行了改进。针对原实验装置的不足,改用差动电压传感器测微小位移,利用单片机进行数据处理,解决了实验装置繁琐、数据处理复杂等问题,提高了实验的精确度,实现了物理实验装置的一体化和智能化。     

动态法测杨氏模量实验的探索与改进

本文的主要工作有:分析了国内外杨氏模量测量的原理与方法;把测量装置由悬挂法改为支撑法,增加了实验棒的长度(原实验棒长度16 cm,新实验棒长度23 cm),扩大了数据的测量范围;移动支架置于导轨上,可直接在导轨标尺上准确读数,每隔3 mm测一次数据,数据增多;组装调试实验装置,测量了黄铜、纯铜、钛三种材料的杨氏模量并进行数据处理,将改进后实验系统测得的结果和原实验系统测得的结果以公认值进行比较,完善了改进后实验系统的教学功能。     

用动力学法测杨氏模量实验及其实验装置的研制

介绍了新研制的用动力学法杨氏模量的实验装置,它具有功耗低,灵敏度高的特点;教学中测量悬线不同位置时的共振频率,用作图法拟合出其精确值,以减少由于悬线不在节点引起的系统性误差,测量精密度比传统的静态拉伸法高一个量级以上。     

杨氏弹性模量测量的设计性实验

首先分析指出杨氏弹性模量测量作为设计性实验符合设计性实验的选题原则;然后,简介测量金属丝伸长量的几种方案,通过不确定度分析,指出进一步提高杨氏弹性模量测量精度的关键;最后,总结了本设计性实验的意义.     

利用霍耳位置传感器测杨氏模量

固体材料杨氏模量是综合性大学和工科院校物理实验中必做的实验之一。该实验可以学习和掌握基本长度和微小位移量测量的方法和手段。探讨了利用霍尔位置传感器的输出电压与位移量线形关系以测量杨氏模量微小位移量的方法。     

柔性固体燃料弹性模量测试的实验研究

利用砝码对柔性固体燃料试件加载,并采用光纤法珀应变传感器对试件进行应变测试;结合砝码重量和测得应变计算出燃料试件弹性模量.测量的标准差为23.04 MPa,在误差允许的范围内,离散度可以接受.实验表明：用光纤法珀应变传感器测量柔性固体燃料的弹性模量是可行的.     

测量重力加速度的一种新方法

提出了一种测量重力加速度的新方法,结合CCD杨氏模量实验仪给出了重力加速度和杨氏模量的物理关系式,从测量结果可知,所测重力加速度与标准值相比其相对误差甚小,说明该实验方案确实可行,具有一定的应用价值。     

用千分表测量金属丝的弹性模量

基于用拉伸法测量金属丝的弹性模量,通过对千分表对传统测微装置进行替换,对实验过程进行了改进,简化了实验装置,节约了实验室空间,同时克服了原实验方法间接测量量多、实验时间长等缺点,使实验操作简单易行。     

Young's Modulus Characterization of Nano-Level Silicon Nanomembrane

Silicon nanomembrane (SiNM) has drawn great attention for the application in nanoelectrical devices as it shows excellent flexibility and is compatible with the integrated circuit process. The mechanical property measurement of the SiNM with nanoscale thickness is critical. A suspended SiNM (40 nm thick) for mechanical measurements is fabricated by transferring a chemically etched ultrathin monocrystalline silicon film from silicon on insulator wafer to a substrate with a multi-hole array. And then, the atomic force probe is utilized to load force on the free-standing SiNM to obtain a force deflection curve, and then the Young's modulus of such floating SiNM can be directly calculated based on the large deflection plane model. It shows that the Young's modulus of such SiNM is basically consistent with that of the bulk silicon. However, the SiNMs’ floating area significantly affects the results, i.e., the Young's modulus varies with the ratio of the suspended area diameter (i.e., hole diameter) to the film thickness. The Young's modulus is independent of hole diameter when the ratio is greater than 425. According to this relationship, the variation of Young's modulus can be predicted for arbitrary thick SiNMs and any transferable nanofilms.