薄透明体厚度及折射率的测量

介绍了测量薄透明体厚度及折射率的一种方法.     

用迈克尔逊干涉仪测量单层薄膜的厚度和折射率

薄膜厚度的测量是薄膜科学的重要分支之一，本文讨论用迈克尔逊干涉仪观察白光等厚彩色干涉条纹方法，从而确定薄膜的厚度和折射率，该方法的优点是测量精度高，原理简单，在一次测量过程中可同时确定薄膜的厚度和折射率。     

通过改变玻璃厚度研究白光相干性

基于迈克尔逊干涉仪,通过只在单一光路中插入或在两光路中均插入不同厚度的石英玻璃研究了白光干涉的相干性。测量玻璃的折射率以检验所购材料是否合格。     

非接触法自动测量薄膜厚度

根据白光等厚干涉原理,基于单片机改造的迈氏干涉仪用于自动测量透明薄膜厚度,采用非接触性测量法。当迈克尔逊干涉仪静镜形成的虚像与动镜相交所成的夹角很小时,在光屏上看到彩色干涉条纹,插入薄膜后,光程差改变,彩纹消失。步进电机带动微调手轮转动,当彩纹再次出现,即可得出透明薄膜厚度。     

一种精确测量平行透明体折射率的方法

给出了一种测量平行透明体折射率的方法，借助迈克尔孙干涉仪和分光计可以精确测量光程差的变化及角度，用钠光源对一平行平晶样品进行了测量．     

透明体的光学定量测量

综述了使用光学方法测量透明体的方法。介绍了两种常用的光学方法——相衬法和微分干涉相衬法。在 2 0世纪 80年代 ,一般认为相衬法和微分干涉相衬法只适用于定性观察而不能实现定量测量 ,主要是因为在其成像原理中的非线性因素的影响。但是对于微分干涉相衬法 ,最近国内外出现了几种定量测量的方法 ,本文对这几种方法进行了总结和比较。     

用光纤迈克耳孙干涉仪测量折射率

对测量群折射率的白光干涉和光纤迈克耳孙(Michelson)干涉仪技术进行了改进.采用样吕夹片和样品与探测纤端面接触的方法,可以使群折射率的测量过程简单化.根据反射峰宽度的变化,可以调整样品反射界面与光纤的准直性,提高测量精度.     

迈克尔逊干涉仪测透明介质厚度及折射率

提出了使用用迈克尔逊干涉仪,改变光源入射方式及观测方式以获得稳定、清晰等厚干涉现象的方法.探究了在光路中插入的被测透明介质如何对等厚干涉条纹产生影响,并导出了被测介质厚度、折射率及旋转角度与等厚干涉条纹移动量之间的关系.实现对透明介质厚度、折射率进行简练、快速的同时测量.     

一种精确测量平行秀明体折射率的方法

给出了一种测量平行秀明体折射率的方法，借助迈克尔孙干涉仪和分光计可以精确测量光程差的变化及角度，用钠光源对一平行平晶样品进行了测量。     

利用激光干涉测量透明薄片厚度

本文主要介绍利用激光干涉来测量透明薄片厚度的原理。     

流体折射率随压强变化的测定

本文给出一种测量折射率微小变化的方法，并借助迈克尔逊干涉仪测定水和空气在低压条件下折射率随压强的变化情况。     

一种精确测量液体折射率的方法

本文介绍了一种在迈克尔逊干涉仪光路加入一楔形样品池进行液体折射率测量的方法。     

用迈克耳逊干涉仪测量气体折射率的误差的研究

研究在用迈克尔逊干涉仪测量气体折射率时存在的系统和方法误差，提出了误差修正方法。     

迈克尔干涉仪的调节和测量技巧

根据干涉图样条纹的变化来调节仪器，简单快捷；巧妙使用透镜，观察方便，记数准确。     

干涉法线胀系数测量实验装置研究与应用

本文介绍了利用迈克耳逊干涉仪构造的干涉法线胀系数测量实验装置,并通过实验应用过程阐述了研究该实验装置的重要性及现实意义。     

用白光条纹法测薄膜厚度

本文介绍用白光条纹法测量透明介质薄膜厚度的一种方法．     

高折射率玻璃微珠折射率的测量

用激光作为测量光源,利用激光经玻璃微珠一次或多次内部反射后出射,形成最小偏转角的原理,对高折射率玻璃微珠折射率的测量进行了理论分析和实验测试.比较了不同内反射次数对测量精度的影响.该测量方法尤其适用于已在微珠列阵逆向反光膜上大量使用的、折射率位于1.8～2.4之间的高折射率玻璃微珠折射率的测量,较传统方法具有简便、快捷和安全的特点.经分析和对不同类型微珠样品的实测比较,获得了测量精度优于1%的结果.