用NBSGSC计算机程序和单标样的理论a系数法分析结果

经验系数法根据所用的经验校正方程类型和所希望分析的组分范围,一般需要相当多的优质多元标样。与此相比基本参数法则原则上仅需纯元素标样或单只多元标样。因为在有些情况下难于获得纯元素标样,加之若用单只多元标样可以消除或减少理论公式的不完善性从及基本参数的不准确性,因此使用单只多元标样更可取     

计算多层膜组份和厚度的软件FPMULTI及其应用

本文简述了可用于多层镀层和多层薄膜成分和厚度同时分析的计算机软件ＦＰＭＵＬＴＩ的主要特点。这个基于基本参数法的计算机软件可以分析多至１０层,最多含２５个元素的各类试样。所需的校正标样可以是纯元素或多元素的薄膜标样,亦可以是纯元素或多元素的块样。本文的研究表明,用ＦＰＭＵＬＴＩ的分析结果明显优于检量法线,体现了基本参数法的优点．     

计算多层膜组分和厚度的软件FPMULTI及其应用

本文简述了可用于多层镀层和多层薄膜成分和厚度同时分析的计算机软件ＦＰＭＵＬＴＩ的主要特点。这个基于基本参数法的计算机软件可以分析多至１０层,最多含２５个元素的各类试样。所需的校正标样可以是纯元素或多元素的薄膜标样,亦可以是纯元素或多元素的块样。本文的研究表明,用ＦＰＭＵＬＴＩ的分析结果明显优于检量线法,体现了基本参数法的优点。     

X射线荧光分析中基本参数法和经验系数法的联合运用——NRLXRF/FULL OPTION和ROUSSEAU程序的剖析

1.引言基本参数法和经验系数法(或影响系数法、α系数法等)是X射线荧光分析中数学校正法的两大分支。但在实践中它们都不是完美无缺的。“纯”基本参数法涉及到一系列物理参数和分析系统中其它一些因素的不确定性的影响。从经验途径求出的α系数通常也只适用于某一有限的组分变化范围,即α系数本身也是样品组成的函数。而且用多标样回归算出的α系数对测量误差极为敏感,当缺乏足够的标样时这种方法就有很大的局限性。     

多元合金的无标样能量色散X射线荧光分析

本文在能量色散X射线荧光分析系统的效率刻度及散射修正的基础上,用基本参数法对多元合金进行无标样X射线荧光分沂。分析结果表明,对于主成分元素,分析误差约为2%,对于次成分元素,误差低于10%。     

用X射线荧光光谱法非破坏测定多元合金薄膜的组分和厚度

本文用X射线荧光光谱法,不破坏样品,测定三元合金薄膜的组份。此法无需制备任何相似的固体标样或纯元素的块状标样,而是利用含已知组份的滤纸片作为标样。滤纸片标样制作简便、快速,并且能长期稳定。由薄膜中元素所发出的特征X射线强度与其面密度之间的一组联立方程解出薄膜成份,利用衬底中元素的特征X射线强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚。利用本文的方法可以同时测定薄膜的成分和厚度。 关键词：     

能量色散X射线荧光分析中改进型基本参数法研究

能量色散X射线荧光分析方法是目前常用的一种多元素分析方法,但该方法检出限和分析精度,受到分析基体的影响。基本参数法是目前一种常用的分析方法,但在使用过程必须获取净峰面积和基体所有成分,而在实际使用时,尤其在分析低含量样品时,净峰面积计算、基体中“暗物质”影响了测量精度,制约了基本参数法的应用。针对基本参数法的不足,将谱线解析方法与基本参数法融合,将重叠峰剥离过程嵌入基本参数法迭代过程中。在含量计算过程中,采用分析样品特征X射线分支比的理论系数,对重叠峰进行剥离,解决能量色散X射线荧光测量中净峰面积计算和定量分析问题;在计算过程中,对“暗物质”进行均一化处理。通过对标准物质测量分析,结果表明对于Ni,Cu,Zn三个元素改进型基本参数法(改进型FP)测量结果准确度高于影响系数法。     

X射线荧光分析中的基本参数法——基本参数对分析结果的影响

Criss等提出的基本参数法已成为X射线荧光分析中用数学方法校正元素间吸收-增强效应的三个主要方法之一,且是其中另一方法即基本参数法和影响系数法相结合的方法的基础。因此,近年来对基本参数和基本参数法的研究受到广泛的重视。对于某些样品的测定,基本参数法的相对误差约为1—2%,这主要来源于基本参数测定的不准确性。我们曾讨论了质量吸收系数和钨靶的不同原级X射谱对一些试样分析结果的影响。为了进一步弄清基本参数法及由基本参数法计算的理论影响系数,本文对近年     

X射线荧光光谱理论α系数法测定古青铜钱币中的铅铜锡

本将Ｌａｃｈａｎｃｅ－ｔｒａｉｌｌ（Ｌ－Ｔ）方程理论α系数法应用于古青铜钱币中的Ｐｂ,Ｃｕ,Ｓｎ分析,并与基本参数法和标样法的结果进行了比较。由于本法和模拟标样法都是从基本参数法演变来的,使用的标样是一样的,三种方法计算结果数据比较接近。本法计算速度快,效率高,但对标样的依赖性较大。     

X射线荧光光谱法表征薄膜进展

X射线荧光光谱法表征薄膜样品以其能同时测定样品的组分和厚度等优点,目前在国内外的研究和应用越来越广泛和深入。文章通过从荧光强度理论计算、基体效应和校正方法、分析误差来源及消除、定量分析软件和实际分析应用等几个方面对X射线荧光光谱法表征薄膜样品的研究作了评述。鉴于薄膜样品制备相似标样比较困难,而基本参数法采用非相似标样表征薄膜的准确度较高,因此基本参数法校正薄膜样品的应用比较广泛。重点介绍了基本参数法的荧光强度理论计算公式的发展、计算误差来源以及分析软件应用。展望了X射线荧光光谱法表征薄膜样品的应用前景和发展方向。     

理论α系数在铝硅耐火材料X射线荧光光谱分析中的应用——理学基本参数法程序的应用之一

国内外早已采用熔融法X射线荧光光谱测定耐火材料中主元素,人们普遍认为采用X荧光测定铝硅耐火材料的最终产品,与化学法相比,分析时间要快好几倍。国内在测定铝硅耐火材料时,几乎都是用一套标样的回归法求取经验系数。本文将利用日本理学的基本参数法程序,对理论α系数应用于铝硅耐火材料分析方面进行了探     

钇,钡,铜超导薄膜的非破坏测定

本文配合阶段性薄膜制备工艺,用有限厚度范围内的转换因子法及模拟薄膜标样的基本参数法,X-射线荧光光谱非破坏测定钇、钡、铜超导薄膜。经我们实验,它们与破坏法ICP相比,A_((Ba/Y))克原子比的平均绝对偏差分别为0.15与0.065,A_((Cu/Y))克原子比的平均绝对偏差分别为0.14与0.088,模拟薄膜标样的基本参数法优于转换因子法。作者还对薄膜试样非破坏测定中的标样选用进行了探讨。     

Al-Li合金光谱标准样品制备和定值

本文叙述了Ａｌ－Ｌｉ合金光谱分析用标准样品的制备过程和定值结果。在制备过程中采用了先进的氩气保护、新型熔剂覆盖盖技术防止锂元素的烧损,首创作了“间歇式半连续铸造法 ”、“分步调整成分法”等先进的工艺,解决了Ａｌ－Ｌｉ标样铸锭不锡成形、成易偏析等技术难关;最后采用多家协作分析定值法和科学的数理统计方法对数据处理给出定值结果和不确定度。     

基于基本参数法的EDXRF全谱拟合定量算法及其应用

在进行能量色散X射线荧光（EDXRF）的解谱操作时,如果样品中元素含量不高,单个元素的谱峰形状在混合样品谱中会保持较好,纯元素谱剥离是一种比较好的解谱方法,同时,在不高的含量范围内,谱峰强度与元素含量的线性关系保持较好,定量较为准确;但在常量分析中,元素之间会存在较强的吸收增强效应,并导致混合样品谱中单个元素的贡献与其纯元素谱的形状不一致,因此,用固定形状的纯元素谱剥离方法就会有较大偏差。同时,吸收增强效应会干扰谱峰强度与元素含量的线性关系,两种因素的叠加,导致元素定量的不准确,因此,在进行常量分析时,简单的纯元素谱剥离的解谱方法并不适用。介绍了一种基于基本参数（FP）法的全谱拟合定量算法,在进行谱图准确拟合的同时,完成定量计算,其操作步骤如下：首先用纯元素谱剥离的方法得到实测的各谱线强度,并以此为依据预估样品中各元素含量,然后代入FP法计算样品中各谱线理论强度,根据与实测值的偏差调整元素含量,并做“FP计算-调整含量”两个过程的迭代,直至计算谱与实测谱的强度无差别;用最后的样品构成计算各元素谱峰形状,并修正纯元素谱,再次重复“剥离解谱-估算含量-迭代FP计算”的步骤,将最终得到的元素含量认为是测试结果。该种方法弥补了简单解谱剥离方法的弊端,借助于基本参数法的计算,纯元素谱峰得到了修正,解谱更准确,同时也能很好地校正基体效应对定量分析的影响。利用这种方法对较高浓度La/Ce/Pr/Nd混合溶液样品的EDXRF谱图进行分析,新方法计算得到的谱图与实测谱的残差σ降至474.5,远小于单纯使用纯元素谱剥离方法的1 415.0[1]。用该方法对多个配分含量范围从0~90%的稀土混合溶液进行检测,各样品各元素配分偏差均小于1%,多次连续测试表明,各元素的相对标准偏差RSD<1%,该方法的准确度和稳定性都较好,能很好地满足稀土冶炼行业生产实践的需求。     

X荧光分析基本参数法软件关统 FLY-FPM研制完成并通过鉴定

中国科学地球化学研究所丰梁垣最近完成国家自然科学基金项目“X荧光分析基本参数法软件系数的开发研制”。该软件定名为ELY-FPM。它是一个多功能的软件包,由9个主要功能程序、28个子程序、9个实用辅助程序和2个基本物理参数数据文件组成;可进行基本参数法、理论α系数法或二者相结合的分析和计算;适用于Na(11)—U(92)之间的元素     

X射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解（理论影响系数法 …

本文首先在理论分析基础上,建立多元素样品的重量分数Ｃｉ、Ｘ射线荧光相对强度Ｒｉ与基体效应因子Ｆｉ的代数关系。然后,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法,即理论影响系数法和基本参数法。并用这两种方法分析了６个耐热钢标样,主量、常量元素的平均相对分析误差〈０．５％,对低含量轻元素Ｓｉ、Ｐ、Ｓ的分析也取得良好的结果。     

X射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解(理论影响系数法和基本参数法)

本文首先在理论分析基础上,建立多元素样品的重量分数Ci、X射线荧光相对强度Ri与基体效应因子Fi的代数关系.然后,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法,即理论影响系数法和基本参数法.并用这两种方法分析了6个耐热钢标样,主量、常量元素的平均相对分析误差＜0.5%,对低含量轻元素Si、P、S的分析也取得良好的结果.     

光电直读光谱仪分析HSI-S铝合金中主量元素

用 FSQ非真空型光电直读光谱仪分析日本牌号“HSI- S”铝合金中主量元素 ,优化了标准样品的选择、试样的制备、元素分析谱线的选择、仪器工作参数设定等实验条件。在无此牌号合金的光谱标样的情况下 ,采用国产标样 ,实现了 HSI- S铝合金中主量元素的分析。方法的准确度和精密度符合国家标准 ,降低了分析成本 ,适合生产企业使用     

多元合金的无标样X光能谱定量成分分析

本文将文献[1]和[2]的二元合金直接无标样法加以推广,应用于不含超轻元素的多元合金(包括七元、八元钢样,其中有两至三种元素的含量在0.25—1.0％之间)。与Russ等的间接无标样法程序相比较,总的说来准确度有所提高,分析速度也更快,在速度约为每秒13万次的计算机上(内存约需12K)计算八元合金的成分,仅需约10sec的时间。将多元合金的计算方法用到NaCl等二元合金,结果较前有所改善。 关键词：     

X荧光分析中基本参数法和理论α系数法的结合——一种可行的实践方法

一、概述在X荧光分析实践中,基本参数法和理论α系数法各有优缺点。前者完全基于从严格理论推导的X荧光强度公式,当样品和标样的组成相差较大时一般仍能给出较好的结果。其缺点是运算周期长,分析效率较低,特别是当标样和样品组成相差较大时,把相对强度作为浓度初值与真值相差甚远,这势